一种微纳米材料转移装置及方法

    公开(公告)号:CN109682985A

    公开(公告)日:2019-04-26

    申请号:CN201910092977.3

    申请日:2019-01-30

    CPC classification number: G01N35/10 G01N21/01

    Abstract: 本发明公开了一种微纳米材料转移装置及方法,包括光纤固定装置和凹槽转移支架;光纤固定装置包括光纤固定板、支撑柱及光纤固定底座,支撑柱的底部固定在光纤固定底座上,光纤固定板与支撑柱的顶部连接,光纤固定板的中间位置设有凸台,凸台中部设有光纤固定接口,光纤固定接口为通孔;转移微纳米材料至光纤的装置包括光纤固定装置、凹槽转移支架;先将微纳米材料固定在凹槽转移支架上,再通过移动凹槽转移支架将微纳米材料转移至固定在光纤固定装置上的光纤接口。本发明可以有效避免光纤震动,操作更准确,提高转移成功率和效率,将聚合物的影响降至最低,满足测试时光源直接接触到微纳米材料的要求,提高样品光学表征结果的准确度。

    一种实物岩屑、实物岩心、实物标本成像一体机

    公开(公告)号:CN109682809A

    公开(公告)日:2019-04-26

    申请号:CN201811485777.6

    申请日:2018-12-06

    CPC classification number: G01N21/84 G01N21/01

    Abstract: 本发明涉及一种实物岩屑、实物岩心、实物标本成像一体机,包括立柱、水平移动机构、垂直升降机构、图像采集组件、标本台面旋转机构、岩心皮辊双动旋转机构、岩屑台面垂直移动机构,垂直升降机构,与水平移动机构连接并随其同步运动,垂直升降机构的下端可相对自身上端在竖直方向运动,标本台面旋转机构和所述岩心皮辊双动旋转机构,呈前后方向平行设置在所述图像采集组件所在平面以下,所述标本台面旋转机构可绕竖直方向的轴线旋转,所述岩心皮辊双动旋转机构可绕两条水平轴线旋转。本发明可快速转换扫描方式,定位准确,提高了扫描速度,使用方便快捷。

    回收丝杠的丝杠螺母自锁性成像检测装置

    公开(公告)号:CN109655409A

    公开(公告)日:2019-04-19

    申请号:CN201910132735.2

    申请日:2019-02-22

    CPC classification number: G01N21/01 G01N21/84 G01N2021/0112

    Abstract: 一种回收丝杠的丝杠螺母自锁性成像检测装置,包括基座,其一侧设光靶,基座的右端朝向上的一侧有机架;回转架驱动机构,设在机架上;回转架,与回转架驱动机构连接,回转架的左侧循着回转架的长度方向设调整槽;回收丝杠夹住机构,设在回转架的左侧;卡盘固定座升降驱动机构,设在回转架第一端部且与回收丝杠夹住机构连接;CCD摄像机上下位移驱动机构,设在基座上;CCD摄像机,设在CCD摄像机上下位移驱动机构朝向光靶的一侧;激光头,设在激光头固定座上,激光头固定座在检测时夹装在回收丝杠的丝杠螺母上,回收丝杠夹装在回收丝杠夹住机构上。达到对丝杠螺母的自锁性检测目的;结构简练,方便制造及操作;具有良好的适应性。

    一种轴承外观检测图像采集辅助器

    公开(公告)号:CN109632823A

    公开(公告)日:2019-04-16

    申请号:CN201910020733.4

    申请日:2019-01-09

    Applicant: 衢州学院

    CPC classification number: G01N21/95 G01N21/01 G01N2021/0112

    Abstract: 本发明提供了一种轴承外观检测图像采集辅助器,属于轴承检测技术领域。本轴承外观检测图像采集辅助器,包括工作台和透明放置板,工作台上固定有竖板一和竖板二,竖板一和竖板二之间设有调节板,调节板上设置有下端面图像采集机构,下端面图像采集机构包括工业相机一、透明支柱一、透明支柱二、透明支柱三、低速电机一、丝杠一和键轴;工作台上固定有竖板三,竖板三固定有顶板,顶板上设有上端面图像采集机构,上端面图像采集机构包括工业相机二、透明支柱四、透明支柱五、透明支柱六、条形滑轨和低速电机二;工作台上设有外弧面图像采集机构。本发明具有能够更加高效、全面的对轴承外观图像进行采集的优点。

    一种半导体器件键合丝的键合质量评定方法

    公开(公告)号:CN109632791A

    公开(公告)日:2019-04-16

    申请号:CN201811339293.0

    申请日:2018-11-12

    CPC classification number: G01N21/84 B24B19/00 G01N21/01 G01R31/2601

    Abstract: 本发明公开了一种半导体器件键合丝的键合质量评定方法,包括:通过半导体器件制作样品;研磨所述样品获得键合丝键合点的中心剖面;通过金相显微镜观察所述中心剖面获得形貌结果;通过数字多用表和探针台测试所述中心剖面获得电测试结果;根据所述形貌结果和所述电测试结果评定键合丝的键合质量。本发明的评定方法代替了传统适用范围较窄的键合质量评定方法,可适用于铜丝,并且能够从形貌以及电测试两个方面对键合丝的键合质量进行评定,保证了评定结果的准确性而使得器件的使用可靠性提高。

    一种原子吸收分光光度计

    公开(公告)号:CN109632668A

    公开(公告)日:2019-04-16

    申请号:CN201811615204.0

    申请日:2018-12-27

    Inventor: 卜伟华

    Abstract: 本发明涉及一种原子吸收分光光度计,包括机壳、工作腔、燃烧室,燃烧室内底部设有燃烧器、顶部设有集烟罩,集烟罩内侧壁上滑移有滑移块,滑移块的外侧壁上设有清料刷,清料刷贴合于集烟罩的内侧壁上,集烟罩内还设有滑移框,燃烧室的底部设有导向块,滑移框的两端设有第一杆、第二杆,第一杆连接于滑移块上,导向块上设有供第二杆滑移的导向槽,滑移框内设有驱动滑移框带动滑移块沿集烟罩轴向方向运动的驱动机构,燃烧室内设有收集杂质并运送至工作腔的接料机构。本发明通过设置带清料刷的滑移块,并通过设置滑移框带动滑移块沿集烟罩轴向方向来回运动并将清料刷清理集烟罩内的杂质后通过接料机构送出,以提高对集烟罩内部清理的便捷性。

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