自动测量系统和用于自动测量系统的控制方法

    公开(公告)号:CN118794392A

    公开(公告)日:2024-10-18

    申请号:CN202410438234.8

    申请日:2024-04-12

    Abstract: 本发明提供了可以使测量自动化的自动测量系统和用于自动测量的控制方法。自动测量系统包括:测量传感器工具,其利用探头检测待测量物体的表面以测量待测量物体的尺寸或形状;多轴移动机构,其相对于待测量物体相对地移动测量传感器工具。测量传感器工具包括用于保护探头的盖部。在移动机构使测量传感器工具接近待测量物体的待测量点的接近步骤中,盖部将探头收纳在盖部内。在接近步骤完成之后,探头从盖部露出以检测待测量物体的表面。

    X射线测量装置的校正方法
    12.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112556611B

    公开(公告)日:2024-10-08

    申请号:CN202010946721.7

    申请日:2020-09-10

    Abstract: 本发明提供一种X射线测量装置的校正方法,包括:载置工序,将校正治具载置于旋转台;移动位置获取工序,使第j个球的位置相对于第1个球的位置平行移动,向校正治具照射X射线,并从X射线图像检测器的输出中获取第j个球的投影像的重心位置相对于第1个球的投影像的重心位置的差位置的大小为规定值以下的移动位置;相对位置计算工序,对其余的球进行移动位置获取工序,根据各个移动位置来计算特定的相对位置间隔;特征位置计算工序;变换矩阵计算工序;旋转检测工序;位置计算工序;以及中心位置计算工序。由此,即使校正治具由于经年变化等而变形,例如也能够通过简单的工序容易地计算将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。

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