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公开(公告)号：CN111340751B
公开(公告)日：2024-12-17
申请号：CN201911199992.4
申请日：2019-11-29
Applicant: 国立大学法人东京大学 , 株式会社三丰
IPC: G06T7/00
Abstract: 本发明提供一种X射线CT中的CT体积的表面提取方法和装置。该X射线CT中的CT体积的表面提取方法和装置从通过X射线CT获取到的体数据中提取CT值固定的体素来生成等值面网格(M)，在网格(M)的各顶点(p)处计算顶点(p)的CT值的梯度向量(g)，在计算出的梯度向量(g)的正负方向上生成多个采样点(S)，计算所生成的各采样点(S)处的CT值的梯度范数(N)，使顶点移动至计算出的梯度范数为最大值(Nm)的采样点(Sm)，由此修正等值面的顶点(p)。
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公开(公告)号：CN112556611A
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：CN202010946721.7
申请日：2020-09-10
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B15/04
Abstract: 本发明提供一种X射线测量装置的校正方法，包括：载置工序，将校正治具载置于旋转台；移动位置获取工序，使第j个球的位置相对于第1个球的位置平行移动，向校正治具照射X射线，并从X射线图像检测器的输出中获取第j个球的投影像的重心位置相对于第1个球的投影像的重心位置的差位置的大小为规定值以下的移动位置；相对位置计算工序，对其余的球进行移动位置获取工序，根据各个移动位置来计算特定的相对位置间隔；特征位置计算工序；变换矩阵计算工序；旋转检测工序；位置计算工序；以及中心位置计算工序。由此，即使校正治具由于经年变化等而变形，例如也能够通过简单的工序容易地计算将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。
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公开(公告)号：CN111340751A
公开(公告)日：2020-06-26
申请号：CN201911199992.4
申请日：2019-11-29
Applicant: 国立大学法人东京大学 , 株式会社三丰
IPC: G06T7/00
Abstract: 本发明提供一种X射线CT中的CT体积的表面提取方法和装置。该X射线CT中的CT体积的表面提取方法和装置从通过X射线CT获取到的体数据中提取CT值固定的体素来生成等值面网格(M)，在网格(M)的各顶点(p)处计算顶点(p)的CT值的梯度向量(g)，在计算出的梯度向量(g)的正负方向上生成多个采样点(S)，计算所生成的各采样点(S)处的CT值的梯度范数(N)，使顶点移动至计算出的梯度范数为最大值(Nm)的采样点(Sm)，由此修正等值面的顶点(p)。
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公开(公告)号：CN112556611B
公开(公告)日：2024-10-08
申请号：CN202010946721.7
申请日：2020-09-10
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B15/04
Abstract: 本发明提供一种X射线测量装置的校正方法，包括：载置工序，将校正治具载置于旋转台；移动位置获取工序，使第j个球的位置相对于第1个球的位置平行移动，向校正治具照射X射线，并从X射线图像检测器的输出中获取第j个球的投影像的重心位置相对于第1个球的投影像的重心位置的差位置的大小为规定值以下的移动位置；相对位置计算工序，对其余的球进行移动位置获取工序，根据各个移动位置来计算特定的相对位置间隔；特征位置计算工序；变换矩阵计算工序；旋转检测工序；位置计算工序；以及中心位置计算工序。由此，即使校正治具由于经年变化等而变形，例如也能够通过简单的工序容易地计算将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。
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公开(公告)号：CN110286135B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN201910192542.6
申请日：2019-03-14
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01N23/046 , G01B15/04 , G01B15/00
Abstract: 在让测试目标旋转的同时对执行X射线照射的测量用X射线CT产生测量计划，且如此，获取投影图像数据，从投影图像数据重构体数据，且测量体数据中的目标测量部位，本发明基于包括在测试目标的CAD数据中的公差信息和通过测量操作者提前限定的测试目标上的测量部位而计算所需的测量准确性和测量视野范围，并从该信息自动产生使得测量次数最小化的优化测量计划。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112535490A
公开(公告)日：2021-03-23
申请号：CN202010983851.8
申请日：2020-09-18
Applicant: 株式会社三丰
IPC: A61B6/03 , G01N23/046
Abstract: 本发明涉及一种X射线CT装置及其校正方法和装置、测定方法和装置，在使尺寸预先已知的球形校正治具(30)与被检体(W)接触的状态下进行CT扫描来生成体数据，获取该体数据中的被检体(W)表面形状的轮廓，并且根据球形校正治具(30)的中心坐标来计算球形校正治具(30)的边界面，求出用于使根据所述轮廓的斜率求出的被检体W的边界面与球形校正治具(30)的边界面一致的校正值，使用该校正值来校正被检体(W)的边界面，使用该校正后的边界面来求出被检体(W)的形状。由此，通过高精度地检测被检体的边界面来实现测量用X射线CT的高精度化。
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公开(公告)号：CN110261415A
公开(公告)日：2019-09-20
申请号：CN201910183519.0
申请日：2019-03-12
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01N23/046
Abstract: 本发明提供一种测量用X射线CT设备以及批量生产工件测量方法。在使用被配置为在使被布置在转动台上的工件转动的同时发射X射线、并且重构所述工件的投影图像以生成所述工件的体数据的测量用X摄像CT设备测量批量生产工件时，本发明向预定工件的体数据分配值，并将所述体数据存储为与主数据相同；在与所述预定工件相同的条件下获得批量生产工件的体数据；测量该体数据并且获得所述批量生产工件的X射线CT测量值；以及使用所述主数据来校正所述批量生产工件的X射线CT测量值。
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公开(公告)号：CN112461165B
公开(公告)日：2024-10-08
申请号：CN202010940511.7
申请日：2020-09-09
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B15/04 , G01N23/046
Abstract: 本发明提供一种X射线测量装置的校正方法，包括：前段特征位置计算工序，将配置于N个部位的球的平行移动进行多次，确定处于N个部位的球各自的投影像的重心位置；单独矩阵计算工序，针对球分别计算单独投影矩阵；单独位置计算工序，基于单独投影矩阵来计算球各自的移动位置；坐标统一工序，计算球的特定的相对位置间隔；后段特征位置计算工序；变换矩阵计算工序，计算投影变换矩阵；旋转检测工序；位置计算工序；以及中心位置计算工序。由此，即使校正治具由于经年变化等而发生变形，也能够通过简单的工序容易地计算例如将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。
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公开(公告)号：CN113932741A
公开(公告)日：2022-01-14
申请号：CN202110724806.5
申请日：2021-06-29
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B15/04
Abstract: 本发明提供一种X射线测量装置的校准方法，包括以下工序：载置工序，将校准治具载置于旋转台；特征位置计算工序，向校准治具照射X射线，根据X射线图像检测器的输出来确定重心位置；变换矩阵计算工序，根据重心位置和已知的相对位置间隔，来计算投影变换矩阵；旋转检测工序，使旋转台以规定角度旋转2次以上，重复进行特征位置计算工序和变换矩阵计算工序；以及中心位置计算工序，基于投影变换矩阵来计算旋转台的旋转中心位置。由此，能够通过简单的工序容易地计算将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。
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公开(公告)号：CN110286135A
公开(公告)日：2019-09-27
申请号：CN201910192542.6
申请日：2019-03-14
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01N23/046 , G01B15/04 , G01B15/00
Abstract: 在让测试目标旋转的同时对执行X射线照射的测量用X射线CT产生测量计划，且如此，获取投影图像数据，从投影图像数据重构体数据，且测量体数据中的目标测量部位，本发明基于包括在测试目标的CAD数据中的公差信息和通过测量操作者提前限定的测试目标上的测量部位而计算所需的测量准确性和测量视野范围，并从该信息自动产生使得测量次数最小化的优化测量计划。
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