显示器件的缺陷检测方法及显示器件的缺陷检测装置

    公开(公告)号:CN103499588B

    公开(公告)日:2016-09-07

    申请号:CN201310364410.X

    申请日:2008-09-26

    Abstract: 本发明提供一种显示器件(50)的缺陷检测方法及显示器件的缺陷检测装置,可以判定是能够在修理线中修正的缺陷还是必须停止生产线的缺陷。显示器件的缺陷检测方法具备:对显示器件的每个局部区域计测特征量(P32),基于计测出的区域的特征量计数判定为缺陷区域的区域的缺陷计数步骤(P36);在缺陷计数步骤中缺陷数大于第一阈值的情况下,停止显示器件的生产线的步骤(P38、P42);在缺陷计数步骤中缺陷数小于第一阈值的情况下,计算给定面积内的缺陷密度的缺陷密度计算步骤(P38);在缺陷密度计算步骤中缺陷密度大于第二阈值的情况下,停止显示器件的生产线的步骤(P40、P42)。

    片基板的搬送装置及处理装置

    公开(公告)号:CN105836510A

    公开(公告)日:2016-08-10

    申请号:CN201610169564.7

    申请日:2012-02-20

    Abstract: 具有形成为带状、具有可挠性的基板(S)的搬送装置(1),该搬送装置具有:供应滚筒(5b),送出基板(S);回收滚筒(6b),卷取基板(S);以及驱动部(8),将供应滚筒(5b)与回收滚筒(6b)驱动于相对从基板(S)的运送方向交叉的方向(X,Z)。供应滚筒(5b)被导引于第一轨(3),回收滚筒(6b)被导引于第二轨(4)。轨驱动机构(7)变更两滚筒(5b,6b)间的间隔。配置于轨(3,4)间的处理部(PA),对树脂或不锈钢制的基板(S)进行成膜、曝光、洗净等处理。处理部(PA),沿轨(3,4)配置有多个。通过以多个处理部(PA)依序处理沿两滚筒(5b,6b)与轨(3,4)被运送的基板(S),于基板(S)上形成有机EL元件。

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