-
公开(公告)号:CN109581529A
公开(公告)日:2019-04-05
申请号:CN201810608575.X
申请日:2018-06-13
Applicant: 欧姆龙株式会社
Inventor: 恩佐·罗蔓诺 , 保罗·维维亚尼 , 毛利齐奥·康布尔萨诺 , 帕斯夸利诺·布鲁纳迪 , 奇安马可·葛兰许 , 菊池启作 , 下川覚 , 工藤一洋 , 尾﨏一功
IPC: G01V8/20
Abstract: 一种操作光幕排列的方法及光幕排列,所述光幕排列用于监视安全区域且包括放置在安全区域的发射器侧处的多个第一光发射器元件以及放置在安全区域的接收器侧处的多个第二光接收器元件。其中光发射器元件排列成固定的几何图案,其中光接收器元件排列成固定的几何图案,且其中发射器侧与接收器侧隔开预定距离,所述方法包括以下步骤:将多个专用的光发射器元件指派给相应的一个光接收器元件,其中被指派的光发射器元件形成阵列;以及激活相应阵列的专用的光发射器元件以同期发射光,且同时,由相应的光接收器元件从被激活的光发射器元件接收所发射的光。
-
公开(公告)号:CN103404029B
公开(公告)日:2016-08-17
申请号:CN201180068899.5
申请日:2011-10-26
Applicant: 欧姆龙株式会社
CPC classification number: G08C19/00 , G01V8/20 , H03K17/943 , H03K2217/94114
Abstract: 一种物体检测系统,将多个多光轴光电传感器(SA、SB、SC)中的一个投光器或受光器(受光器2A)作为主设备并将其它设备作为从设备,在主设备2A中,生成规定包括装置本身的各设备的检测处理的时间点的定义信息,并向各从设备发送定义信息。主设备(2A)每当经过了与各传感器的检测处理的循环周期以规定周期循环的期间相当的时间时,都向各从设备一并发送要求内部定时器的动作一致的命令。各从设备按照该命令对定时器进行修正,并且基于适合装置本身的定义信息,将修正的时刻作为基准,判断应该实施检测处理的时间点,执行检测处理。在主设备(2A)中,也基于适合装置本身的定义信息,判断应该实施检测处理的时间点,执行检测处理。
-
公开(公告)号:CN105021215A
公开(公告)日:2015-11-04
申请号:CN201510078856.5
申请日:2015-02-13
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01D5/34
Abstract: 本发明提供一种多光轴光电传感器,不需要根据工件的种类进行事先的繁杂的设定,就能够进行适合于高度的不同的多个种类的工件的噪声抑制处理。多光轴光电传感器(SNS)具有投光器(1)、与投光器(1)一起形成多个光轴的受光器(2);在使用各光轴设定的检测区域(LC)的至少一部分上,设定有使检测到光轴的遮断的结果无效的噪声抑制区域。传感器系统在工件(W)正在通过检测区域的期间内,取得与遮断的光轴相对应的遮光范围,再基于该结果,将多光轴光电传感器(SNS)的噪声抑制区域从第一范围变更为第二范围。
-
公开(公告)号:CN111052290B
公开(公告)日:2022-04-08
申请号:CN201980004218.5
申请日:2019-01-28
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明提供一种多光轴光电传感器,能够在组装作业中减少所需要的劳力。多光轴光电传感器(100)利用包括外壳壳体(10)、透光板(15)、以及按压部件(20)的框体(1),形成有发光器(110)及受光器(120)的外形,在外壳壳体的侧板的内表面形成有支承部(11b),在侧板的端部形成有延伸部(11c),按压部件通过安装在延伸部而将透光板按压向支承部。
-
公开(公告)号:CN107870372A
公开(公告)日:2018-04-03
申请号:CN201710680282.8
申请日:2017-08-10
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明在能够与外部设备连接的多光轴光电传感器中提供一种能够减少布线数量的多光轴光电传感器。就本发明的多光轴光电传感器(100)而言,具有传感器部,该传感器部包括具有多个投光元件的投光部(1a)和具有分别与多个投光元件相向配置的多个受光元件的受光部(2a),该传感器部检测形成于投光部(1a)与受光部(2a)之间的多个光轴中的各个光轴是否处于遮光状态。多光轴光电传感器(100)具有:控制部(2b),用于控制受光部(2a);通信用线缆(101),是对控制部(2b)输入输出信号的多个信号布线;通信部(2e),利用共用布线进行控制部(2b)与外部设备(50)的通信,该共用布线是将通信用线缆(101)中的一个布线共用作通信布线的布线。
-
公开(公告)号:CN105021215B
公开(公告)日:2017-06-16
申请号:CN201510078856.5
申请日:2015-02-13
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01D5/34
Abstract: 本发明提供一种多光轴光电传感器,不需要根据工件的种类进行事先的繁杂的设定,就能够进行适合于高度的不同的多个种类的工件的噪声抑制处理。多光轴光电传感器(SNS)具有投光器(1)、与投光器(1)一起形成多个光轴的受光器(2);在使用各光轴设定的检测区域(LC)的至少一部分上,设定有使检测到光轴的遮断的结果无效的噪声抑制区域。传感器系统在工件(W)正在通过检测区域的期间内,取得与遮断的光轴相对应的遮光范围,再基于该结果,将多光轴光电传感器(SNS)的噪声抑制区域从第一范围变更为第二范围。
-
公开(公告)号:CN105371094A
公开(公告)日:2016-03-02
申请号:CN201510455639.3
申请日:2015-07-29
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: F16P3/14
Abstract: 本发明提供多光轴光电传感器。生产设备在跨多光轴光电传感器的检测区内外移动的情况下,每当生产设备移至检测区外时不输出停止信号使生产设备停止,而使浮动屏蔽功能和屏蔽监视功能起作用。检测处理部具备浮动屏蔽功能和屏蔽监视功能,并根据由接收部接收到的信号来将浮动屏蔽功能以及屏蔽监视功能设为有效或无效,其中,浮动屏蔽功能是在因物体而多个光轴当中的至少任一个光轴始终呈遮光状态的情况下呈遮光状态的光轴的数量大于预先设定的最大光轴数时输出检测信号的功能,屏蔽监视功能是在呈遮光状态的光轴的数量小于预先设定的最小光轴数时也输出检测信号的功能。
-
公开(公告)号:CN105319606A
公开(公告)日:2016-02-10
申请号:CN201510409722.7
申请日:2015-07-13
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01V8/20
Abstract: 本发明能够准确且迅速设定适应实际应用的浮动消隐功能。检测处理部,将形成于多个投光元件与多个受光元件之间的多条光轴作为检测区域,基于每通过一次扫描进行光轴的选择动作时,判断各光轴是否处于遮挡状态的结果,输出检测信号。检测处理部,在因能够在检测区域内移动的物体导致至少任一条光轴经常处于遮挡状态时,当遮挡光轴数量大于预先设定的最大光轴数量时,输出检测信号。检测处理部当遮挡光轴数量小于预先设定的最小光轴数量时,输出检测信号。学习处理部,每通过一次扫描进行光轴的选择动作时,取得因物体导致处于遮挡状态的光轴数量,基于比较在各个循环(各次扫描)中取得的遮挡光轴数量的结果,设定最大光轴数量以及最小光轴数量。
-
公开(公告)号:CN103404029A
公开(公告)日:2013-11-20
申请号:CN201180068899.5
申请日:2011-10-26
Applicant: 欧姆龙株式会社
CPC classification number: G08C19/00 , G01V8/20 , H03K17/943 , H03K2217/94114
Abstract: 一种物体检测系统,将多个多光轴光电传感器(SA、SB、SC)中的一个投光器或受光器(受光器2A)作为主设备并将其它设备作为从设备,在主设备2A中,生成规定包括装置本身的各设备的检测处理的时间点的定义信息,并向各从设备发送定义信息。主设备(2A)每当经过了与各传感器的检测处理的循环周期以规定周期循环的期间相当的时间时,都向各从设备一并发送要求内部定时器的动作一致的命令。各从设备按照该命令对定时器进行修正,并且基于适合装置本身的定义信息,将修正的时刻作为基准,判断应该实施检测处理的时间点,执行检测处理。在主设备(2A)中,也基于适合装置本身的定义信息,判断应该实施检测处理的时间点,执行检测处理。
-
公开(公告)号:CN1983488A
公开(公告)日:2007-06-20
申请号:CN200610162599.4
申请日:2006-11-30
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: H01H35/00 , H03K17/968
Abstract: 一种具有多个受光元件的多光轴光电传感器,能够比以往更加详细地把握干扰光的受光状态。处理电路(26)经由处理电路(16)将多个投光元件(11)设定为非投光状态,并从多个受光元件(21)的每一个接受相应于干扰光的受光的信号(S1)。处理电路(26)对于多个受光元件(21)中的规定数量的受光器的每一个,生成表示干扰光的受光状态的受光信息(数据DT)。通信电路(27)将数据(DT)发送到外部。个人计算机(5)显示经由通信单元(4)所接受的数据(DT)。在传感器(SNS)中,通过个人计算机(5),例如能够显示对每个光轴的受光量。因此,操作人员能够比以往更加详细地把握干扰光的受光状态。
-
-
-
-
-
-
-
-
-