公开(公告)号：CN107817510A

公开(公告)日：2018-03-20

申请号：CN201710821485.4

申请日：2017-09-12

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 付赓 ,  F.P.M.霍伊肯斯菲尔德特 ,  詹森 ,  钱华 ,  金肖 ,  郭建军

IPC: G01T1/208

CPC classification number: G01T1/2018 ,  G01T1/208

Abstract: 使用本发明的实施例来提高具有光共享(light-sharing)配置的基于SiPM的PET检测器的定时性能。通用读出设计使用适应性组读出来处理由SiPM器件生成的噪声和慢信号，并借助简化的读出电子装置提供增强的定时能力。

公开(公告)号：CN110678125B

公开(公告)日：2023-07-28

申请号：CN201880013363.5

申请日：2018-01-05

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 金燕南 ,  彼得·迈克尔·伊迪克 ,  芮雪 ,  付赓

IPC: A61B6/03 ,  A61B6/00 ,  G01T1/36 ,  G06T11/00

Abstract: 本方法涉及基于硅的能量鉴别光子计数检测器的用途，诸如用于包括计算机断层摄影的基于X射线的成像。所描述的方法解决了受康普顿散射影响的X射线光子的分辨和分类，所述X射线光子可以被检测为由于碰撞或偏转事件而具有低于其本身级别的能级。

公开(公告)号：CN109788926B

公开(公告)日：2023-07-28

申请号：CN201780058188.7

申请日：2017-09-12

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 金燕南 ,  付赓 ,  P·M·埃迪克 ,  高河伟

IPC: A61B6/00 ,  H04N23/30 ,  G01T1/36 ,  G01V5/00

Abstract: 本文阐述了一种方法，该方法包括利用CT成像系统的X射线检测器阵列执行一个或多个校准扫描，其中，一个或多个校准扫描包括针对X射线检测器阵列的第一个至第N个元件中的每一个元件获取一个或多个校准测量；并且使用该一个或多个校准测量来更新第一个至第N个元件中的每一个元件的光谱响应模型。在另一个方面中，CT成像系统可使用用于X射线检测器阵列的元件的经更新的光谱响应模型来执行成像，例如包括材料分解(MD)成像。可使用校准过程来更新光谱响应模型，使得X射线检测器阵列的不同元件具有不同的光谱响应模型。

公开(公告)号：CN111323437B

公开(公告)日：2023-06-23

申请号：CN201911299957.X

申请日：2019-12-16

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 布莱恩·大卫·亚诺夫 ,  吴明烨 ,  付林 ,  彼得·迈克尔·伊迪克 ,  芮雪 ,  付赓 ,  金燕南 ,  弗雷德里克·格伦伯格

IPC: G01N23/046

Abstract: 本发明题为“用于统计迭代重建和材料分解的系统和方法”。本发明提供了一种用于对要重建的对象进行成像的方法，该方法包括采集对应于对象的投影数据。此外，该方法包括基于所采集的投影数据来生成测量正弦图以及制定前向模型，其中该前向模型表示成像系统的特性。另外，该方法包括基于对象的估计图像和前向模型来生成估计正弦图以及基于成像系统的检测器的堆积特性和死区时间特性中的至少一者来制定统计模型。此外，该方法包括基于统计模型、测量正弦图和估计正弦图来确定对应于估计图像的更新以及基于所确定的更新来更新估计图像以生成对象的更新图像。另外，该方法包括输出对象的最终图像。

公开(公告)号：CN111323437A

公开(公告)日：2020-06-23

申请号：CN201911299957.X

申请日：2019-12-16

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 布莱恩·大卫·亚诺夫 ,  吴明烨 ,  付林 ,  彼得·迈克尔·伊迪克 ,  芮雪 ,  付赓 ,  金燕南 ,  弗雷德里克·格伦伯格

IPC: G01N23/046

Abstract: 本发明题为“用于统计迭代重建和材料分解的系统和方法”。本发明提供了一种用于对要重建的对象进行成像的方法，该方法包括采集对应于对象的投影数据。此外，该方法包括基于所采集的投影数据来生成测量正弦图以及制定前向模型，其中该前向模型表示成像系统的特性。另外，该方法包括基于对象的估计图像和前向模型来生成估计正弦图以及基于成像系统的检测器的堆积特性和死区时间特性中的至少一者来制定统计模型。此外，该方法包括基于统计模型、测量正弦图和估计正弦图来确定对应于估计图像的更新以及基于所确定的更新来更新估计图像以生成对象的更新图像。另外，该方法包括输出对象的最终图像。

公开(公告)号：CN110891489A

公开(公告)日：2020-03-17

申请号：CN201880029775.8

申请日：2018-05-07

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 芮雪 ,  付赓 ,  金燕南 ,  郭建军 ,  彼得·迈克尔·伊迪克 ,  布莱恩·大卫·亚诺夫

IPC: A61B6/00 ,  G01T1/29 ,  G01T7/00 ,  G21K1/02

Abstract: 本方法涉及定位在防散射准直器的隔膜下的检测器元件(即，参考检测器像素)的使用。由参考检测器像素检测到的信号可用于更正与相邻像素的电荷共享事件以及/或者实时地或作为校准步骤来表征或更正焦点失准。