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公开(公告)号：CN101131316B
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN200710154704.4
申请日：2003-06-24
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G01B11/06 , G11B7/0037 , G11B7/26
CPC classification number: G01B11/0625 , G01B11/0675 , G11B7/00375 , G11B7/268
Abstract: 本发明公开了一种利用光盘层的干涉效应来测量包括隔离层和覆盖层的光盘的一个或多个层的厚度的系统，所述系统包括：分光计，用于将从光盘的表面反射的光分离为其多个组成频率；光强测量单元，用于分别测量所述组成频率的强度作为第一光谱数据；以及处理器，用于至少进行以下步骤：将所述的第一光谱数据转换成作为折射率和波长的函数而显示变化的第二光谱值，利用快速傅立叶变换来变换所述第二光谱，以及基于所述的变换后的光谱来分别检测一个或多个隔离层和覆盖层的厚度。本发明所公开的方法在高精度测量光盘厚度方面具有优点。
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公开(公告)号：CN101208745B
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN200680018609.5
申请日：2006-05-29
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B7/243 , G11B7/24038 , G11B7/2433 , G11B2007/24308 , G11B2007/2431 , G11B2007/24312 , G11B2007/24314 , G11B2007/24316
Abstract: 当激光束投射到其上的时候，光记录介质以产生具有不同于信息记录层中其它的材料的反射系数的新材料的机制记录信息。该光记录介质包括基片(60)和放置在基片上以反射进入的激光束并且具有信息记录层(100)的反射层(50)。该信息记录层(100)包括包含从Si、Ge和Sb的组中选择出来的一个或多个元素的第一信息记录层(100)，和包含从Si、Sb、Te和Al的组中选择出来的一个或多个元素的第二信息记录层(120)。数据可以以高密度记录，并且该光记录介质提供高记录稳定性和记录灵敏度。
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公开(公告)号：CN101136225B
公开(公告)日：2010-12-22
申请号：CN200710142344.6
申请日：2004-09-14
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B7/26 , G11B7/0037 , G01N3/56
CPC classification number: G01N3/56 , G11B7/00375 , G11B7/268
Abstract: 揭示了一种用于测试光盘(30)表面机械耐磨性的装置和方法，它包括其上固定有光盘(30)以产生划痕并且旋转该被固定光盘(30)的旋转台(20)；以及与旋转台(20)垂直放置的多个砂轮(10)，所述砂轮与所述光盘(30)的表面相接触以在该光盘(30)表面生成划痕，其中所述划痕是在所述光盘旋转预定转数(例如低于10转)并且通过所述砂轮(10)将预定负荷施加给所述光盘(30)时产生的。
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公开(公告)号：CN1761866A
公开(公告)日：2006-04-19
申请号：CN200480007427.9
申请日：2004-03-17
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G01N3/46
Abstract: 公开了一种用于测试光盘(20)的耐用性的装置和方法，由此提高了测试的可靠性。该方法包括将光盘(20)固定在旋转盘(10)上，并且随同旋转盘(10)一起旋转光盘(20)，提供预定的压力给划痕(31)，同时该光盘(20)旋转预定数量的旋转圈数，以便由于与划痕器(31)接触而在光盘(20)的表面上产生划痕，和基于在光盘(20)的表面上产生的划痕确定光盘(20)的耐用性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1761866B
公开(公告)日：2011-07-20
申请号：CN200480007427.9
申请日：2004-03-17
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G01N3/46
Abstract: 公开了一种用于测试光盘(20)的耐用性的装置和方法，由此提高了测试的可靠性。该方法包括将光盘(20)固定在旋转盘(10)上，并且随同旋转盘(10)一起旋转光盘(20)，提供预定的压力给划痕(31)，同时该光盘(20)旋转预定数量的旋转圈数，以便由于与划痕器(31)接触而在光盘(20)的表面上产生划痕，和基于在光盘(20)的表面上产生的划痕确定光盘(20)的耐用性。
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公开(公告)号：CN101297364B
公开(公告)日：2010-09-15
申请号：CN200480033549.5
申请日：2004-11-12
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B7/268 , G01N2033/0088 , G01N2033/0096 , G11B7/00375 , G11B7/24056
Abstract: 揭示一种评估光学记录介质表面上的抗污染水平的方法。所述方法包括：通过其上黏附有人工材料的印模与光学记录介质相接触，而在所述光学记录介质表面形成人工指印；并且测量形成有人工指印符号出错率(SER)，以确定指印的敏感度，同时取决于受测SER来确定所述光学记录介质是好质量还是坏质量的。
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公开(公告)号：CN101297364A
公开(公告)日：2008-10-29
申请号：CN200480033549.5
申请日：2004-11-12
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B7/268 , G01N2033/0088 , G01N2033/0096 , G11B7/00375 , G11B7/24056
Abstract: 揭示一种评估光学记录介质表面上的抗污染水平的方法。所述方法包括：通过其上黏附有人工材料的印模与光学记录介质相接触，而在所述光学记录介质表面形成人工指印；并且测量形成有人工指印符号出错率(SER)，以确定指印的敏感度，同时取决于受测SER来确定所述光学记录介质是好质量还是坏质量的。
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公开(公告)号：CN101208745A
公开(公告)日：2008-06-25
申请号：CN200680018609.5
申请日：2006-05-29
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B7/243 , G11B7/24038 , G11B7/2433 , G11B2007/24308 , G11B2007/2431 , G11B2007/24312 , G11B2007/24314 , G11B2007/24316
Abstract: 当激光束投射到其上的时候，光记录介质以产生具有不同于信息记录层中其它的材料的反射系数的新材料的机制记录信息。该光记录介质包括基片(60)和放置在基片上以反射进入的激光束并且具有信息记录层(100)的反射层(50)。该信息记录层(100)包括包含从Si、Ge和Sb的组中选择出来的一个或多个元素的第一信息记录层(100)，和包含从Si、Sb、Te和Al的组中选择出来的一个或多个元素的第二信息记录层(120)。数据可以以高密度记录，并且该光记录介质提供高记录稳定性和记录灵敏度。
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公开(公告)号：CN104981885A
公开(公告)日：2015-10-14
申请号：CN201480007959.6
申请日：2014-02-07
Applicant: LG电子株式会社
IPC: H01G11/32
CPC classification number: H01G11/62 , H01G11/06 , H01G11/24 , H01G11/26 , H01G11/32 , H01G11/36 , H01G11/50 , H01G11/52 , Y02E60/13
Abstract: 本发明提供了一种石墨烯锂离子电容器，其包括由石墨烯材料形成并预掺杂有锂离子的电极。所述石墨烯锂离子电容器包括：至少部分由石墨烯材料形成的阳极和阴极；与阴极电连接以向阴极提供预掺杂的锂离子的锂牺牲电极；位于阳极和阴极之间的分离膜；和与阳极和阴极结合的电解质，当其离解为离子时能够在所述阳极和所述阴极之间流过电流，其中，阴极将由锂牺牲电极提供的锂离子吸附至其表面，并由多层结构形成以容纳插入在石墨烯层之间的锂离子，并且所述表面和所述多层结构的至少一部分通过与所述锂离子反应而由锂碳化物形成。
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