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公开(公告)号：CN101131316A
公开(公告)日：2008-02-27
申请号：CN200710154704.4
申请日：2003-06-24
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G01B11/06 , G11B7/0037 , G11B7/26
CPC classification number: G01B11/0625 , G01B11/0675 , G11B7/00375 , G11B7/268
Abstract: 本发明公开了一种利用光盘层的干涉效应来测量包括隔离层和覆盖层的光盘的一个或多个层的厚度的系统，所述系统包括：分光计，用于将从光盘的表面反射的光分离为其多个组成频率；光强测量单元，用于分别测量所述组成频率的强度作为第一光谱数据；以及处理器，用于至少进行以下步骤：将所述的第一光谱数据转换成作为折射率和波长的函数而显示变化的第二光谱值，利用快速傅立叶变换来变换所述第二光谱，以及基于所述的变换后的光谱来分别检测一个或多个隔离层和覆盖层的厚度。本发明所公开的方法在高精度测量光盘厚度方面具有优点。
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公开(公告)号：CN1849506A
公开(公告)日：2006-10-18
申请号：CN200480026423.5
申请日：2004-09-14
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G01N3/56 , G11B7/00375 , G11B7/268
Abstract: 揭示了一种用于测试光盘(30)表面机械耐磨性的装置和方法，它包括其上固定有光盘(30)以产生划痕并且旋转该被固定光盘(30)的旋转台(20)；以及与旋转台(20)垂直放置的多个砂轮(10)，所述砂轮与所述光盘(30)的表面相接触以在该光盘(30)表面生成划痕，其中所述划痕是在所述光盘旋转预定转数(例如低于10转)并且通过所述砂轮(10)将预定负荷施加给所述光盘(30)时产生的。
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公开(公告)号：CN1761866B
公开(公告)日：2011-07-20
申请号：CN200480007427.9
申请日：2004-03-17
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G01N3/46
Abstract: 公开了一种用于测试光盘(20)的耐用性的装置和方法，由此提高了测试的可靠性。该方法包括将光盘(20)固定在旋转盘(10)上，并且随同旋转盘(10)一起旋转光盘(20)，提供预定的压力给划痕(31)，同时该光盘(20)旋转预定数量的旋转圈数，以便由于与划痕器(31)接触而在光盘(20)的表面上产生划痕，和基于在光盘(20)的表面上产生的划痕确定光盘(20)的耐用性。
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公开(公告)号：CN101297364B
公开(公告)日：2010-09-15
申请号：CN200480033549.5
申请日：2004-11-12
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B7/268 , G01N2033/0088 , G01N2033/0096 , G11B7/00375 , G11B7/24056
Abstract: 揭示一种评估光学记录介质表面上的抗污染水平的方法。所述方法包括：通过其上黏附有人工材料的印模与光学记录介质相接触，而在所述光学记录介质表面形成人工指印；并且测量形成有人工指印符号出错率(SER)，以确定指印的敏感度，同时取决于受测SER来确定所述光学记录介质是好质量还是坏质量的。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101297364A
公开(公告)日：2008-10-29
申请号：CN200480033549.5
申请日：2004-11-12
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B7/268 , G01N2033/0088 , G01N2033/0096 , G11B7/00375 , G11B7/24056
Abstract: 揭示一种评估光学记录介质表面上的抗污染水平的方法。所述方法包括：通过其上黏附有人工材料的印模与光学记录介质相接触，而在所述光学记录介质表面形成人工指印；并且测量形成有人工指印符号出错率(SER)，以确定指印的敏感度，同时取决于受测SER来确定所述光学记录介质是好质量还是坏质量的。
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公开(公告)号：CN101131316B
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN200710154704.4
申请日：2003-06-24
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G01B11/06 , G11B7/0037 , G11B7/26
CPC classification number: G01B11/0625 , G01B11/0675 , G11B7/00375 , G11B7/268
Abstract: 本发明公开了一种利用光盘层的干涉效应来测量包括隔离层和覆盖层的光盘的一个或多个层的厚度的系统，所述系统包括：分光计，用于将从光盘的表面反射的光分离为其多个组成频率；光强测量单元，用于分别测量所述组成频率的强度作为第一光谱数据；以及处理器，用于至少进行以下步骤：将所述的第一光谱数据转换成作为折射率和波长的函数而显示变化的第二光谱值，利用快速傅立叶变换来变换所述第二光谱，以及基于所述的变换后的光谱来分别检测一个或多个隔离层和覆盖层的厚度。本发明所公开的方法在高精度测量光盘厚度方面具有优点。
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公开(公告)号：CN101136225B
公开(公告)日：2010-12-22
申请号：CN200710142344.6
申请日：2004-09-14
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B7/26 , G11B7/0037 , G01N3/56
CPC classification number: G01N3/56 , G11B7/00375 , G11B7/268
Abstract: 揭示了一种用于测试光盘(30)表面机械耐磨性的装置和方法，它包括其上固定有光盘(30)以产生划痕并且旋转该被固定光盘(30)的旋转台(20)；以及与旋转台(20)垂直放置的多个砂轮(10)，所述砂轮与所述光盘(30)的表面相接触以在该光盘(30)表面生成划痕，其中所述划痕是在所述光盘旋转预定转数(例如低于10转)并且通过所述砂轮(10)将预定负荷施加给所述光盘(30)时产生的。
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公开(公告)号：CN1761866A
公开(公告)日：2006-04-19
申请号：CN200480007427.9
申请日：2004-03-17
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G01N3/46
Abstract: 公开了一种用于测试光盘(20)的耐用性的装置和方法，由此提高了测试的可靠性。该方法包括将光盘(20)固定在旋转盘(10)上，并且随同旋转盘(10)一起旋转光盘(20)，提供预定的压力给划痕(31)，同时该光盘(20)旋转预定数量的旋转圈数，以便由于与划痕器(31)接触而在光盘(20)的表面上产生划痕，和基于在光盘(20)的表面上产生的划痕确定光盘(20)的耐用性。
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公开(公告)号：CN101701889A
公开(公告)日：2010-05-05
申请号：CN200910158737.5
申请日：2003-07-31
Applicant: LG电子株式会社
Abstract: 本发明涉及测试光盘表面机械耐性的设备。该设备包括装载待划光盘的转盘，用来旋转所装载的光盘；和多个磨轮，用于与光盘相接触并产生划痕，当磨轮向光盘上施加预定的载荷时，在光盘旋转五圈的期间产生划痕，其中所述设备判断光盘是否具有预定的耐性。本发明还涉及利用所述设备进行测试的方法。
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