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公开(公告)号：CN100367355C
公开(公告)日：2008-02-06
申请号：CN200510067701.8
申请日：2005-04-22
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11C11/16 , G11C29/50 , G11C29/50008 , G11C2029/5006
Abstract: 一种测试TMR元件的方法，包括：初始测量所述隧道磁阻效应元件的电阻值以将所测量的电阻值提供作为第一电阻值；在从反基片侧到基片侧连续馈送通过所述隧道磁阻效应元件的电流达预定时间间隔之后，测量所述隧道磁阻效应元件的电阻值以将所测量的电阻值提供作为第二电阻值；和，通过相互比较所述第一电阻值和所述第二电阻值来评价所述隧道磁阻效应元件。
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公开(公告)号：CN100343901C
公开(公告)日：2007-10-17
申请号：CN200510054118.3
申请日：2005-03-04
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G01R33/093 , B82Y10/00 , B82Y25/00 , G01R33/098 , G11B5/3903 , G11B5/3909 , G11B5/455 , G11B2005/0018
Abstract: 一种用来测试TMR元件的方法，包括初始测量TMR元件的电阻值以提供所测量的电阻值作为第一电阻值的步骤；在连续使电流通过TMR元件预定的时间后，测量TMR元件的电阻值以提供所测量的电阻值作为第二电阻值的步骤；以及根据TMR元件电阻变化的程度来评价TMR元件的步骤。电阻变化的程度基于第一电阻值和第二电阻值来确定。
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公开(公告)号：CN1691139A
公开(公告)日：2005-11-02
申请号：CN200510067701.8
申请日：2005-04-22
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11C11/16 , G11C29/50 , G11C29/50008 , G11C2029/5006
Abstract: 一种测试TMR元件的方法，包括：初始测量所述隧道磁阻效应元件的电阻值以将所测量的电阻值提供作为第一电阻值；在从反基片侧到基片侧连续馈送通过所述隧道磁阻效应元件的电流达预定时间间隔之后，测量所述隧道磁阻效应元件的电阻值以将所测量的电阻值提供作为第二电阻值；和，通过相互比较所述第一电阻值和所述第二电阻值来评价所述隧道磁阻效应元件。
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公开(公告)号：CN1677502A
公开(公告)日：2005-10-05
申请号：CN200510054118.3
申请日：2005-03-04
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G01R33/093 , B82Y10/00 , B82Y25/00 , G01R33/098 , G11B5/3903 , G11B5/3909 , G11B5/455 , G11B2005/0018
Abstract: 一种用来测试TMR元件的方法，包括初始测量TMR元件的电阻值以提供所测量的电阻值作为第一电阻值的步骤；在连续使电流通过TMR元件预定的时间后，测量TMR元件的电阻值以提供所测量的电阻值作为第二电阻值的步骤；以及根据TMR元件电阻变化的程度来评价TMR元件的步骤。电阻变化的程度基于第一电阻值和第二电阻值来确定。
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