基于分划板角度刻线分档的V棱镜折射率组批测试法

    公开(公告)号:CN108844920A

    公开(公告)日:2018-11-20

    申请号:CN201810523419.3

    申请日:2018-05-28

    Inventor: 吴德林 吴志强

    Abstract: 本发明提供一种基于分划板角度刻线分档的V棱镜折射率组批测试法,包括以下步骤:1)采用折射率V棱镜测试的计算公式,通过对折射率和折射角关系的微分运算,求出折射率组批范围△n,对应折射角度变化△θ;2)求出折射角度变化△θ在平行光管焦面上的位移△y;3)根据折射率不同的组批分档和与之对应的△y,在分划板上分档刻线,将折射率的组批分档转换成分划板角度刻线分档;4)进行分划板角度刻线分档测试,从而实现折射率组批分档测试。本发明根据折射率组批范围要求和平行光管焦距参数计算分划板上角度间距,并刻线分档,刻线条数根据折射率组批档数确定,从而实现折射率组批高精度快速测试,使折射率组批变得快速、准确和直观。

    检查用照明装置及检查系统

    公开(公告)号:CN106415247B

    公开(公告)日:2018-06-01

    申请号:CN201580026658.2

    申请日:2015-08-04

    Inventor: 增村茂树

    Abstract: 本发明提供一种检查用照明装置,所述检查用照明装置在由被检查对象的特征仅产生少许的反射、透射、散射上的变化,也可在一定的条件下,能够辨别拍摄装置的观察立体角内的光的变化量。具体而言,即使反射、透射、散射的变化极小的特征也可以检测出来。在所述检查用照明装置中包括:面光源(1),射出检查光;至少一个遮光罩(M1),位于所述面光源(1)和所述检查对象(W)之间;以及透镜(2),配置在比所述遮光罩(M1)离所述检查对象(W)近的一侧,以使所述遮光罩位于以该透镜的焦点位置为中心的位置。从所述面光源(1)发出的光因透镜(2)照射到所述检查对象(W)时形成的、对所述检查对象(W)的检查光的照射立体角上,形成由因述遮光罩(M1)形成的暗部区域,根据被检查对象的特征点产生的反射、透射、散射的变化,可改变所述检查光的照射立体角的形状、大小及倾斜角。

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