一种可变构形的混轨卫星星座

    公开(公告)号:CN106788671A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201611056020.6

    申请日:2016-11-23

    CPC classification number: H04B7/18502 H04B7/1851 H04W16/18 H04W84/06

    Abstract: 一种可变构形的混轨卫星星座,包括GEO、IGSO和MEO三个子星座。GEO子星座包括n颗GEO卫星,分布在地球同步静止轨道的n个轨位上,相邻卫星之间覆盖区相连接,对中低纬地区完成全经度覆盖。IGSO子星座包括5颗IGSO卫星,其中IGSO1、IGSO2、IGSO3卫星在同一个轨道面内,且相邻卫星间相位差为120°;同时,IGSO3和IGSO4、IGSO5三颗卫星共地面轨迹。MEO子星座包含m×k颗卫星,分布在k个轨道面上,每个轨道面m颗卫星,MEO子星座具备全球覆盖能力。当进行星座构形重构时,IGSO4和IGSO5两颗卫星通过轨道机动进入HEO轨道并运行。本发明星座具有优秀全球覆盖能力、具有自我管理能力且结构灵活可变。

    一种DC/DC转换器单粒子效应检测系统及检测方法

    公开(公告)号:CN102937698B

    公开(公告)日:2015-08-19

    申请号:CN201210390638.1

    申请日:2012-10-15

    Abstract: 一种DC/DC转换器单粒子效应检测系统及检测方法,系统包括输出电压调整电路、输入保护电路、电源及其监测电路、多路采集电路以及控制与数据处理系统;检测时,控制与数据处理系统给电源及其监测电路发出控制信号令电源及其监测电路给被测DC/DC器件提供工作电压,输入保护电路对被测DC/DC的输入端进行保护;被测DC/DC转换器的输出端连接有负载电阻,输出端的输出电压通过输出电压调整电路后由多路采集电路进行采集,再送入控制与数据处理系统,通过对开冒后的被测DC/DC转换器的辐照敏感区域进行高能粒子照射,对比照射前后控制与数据处理系统接收到的电压信号,从而得出是否发生单粒子效应的结论。

    一种非破坏性功率MOS管单粒子烧毁效应检测电路及方法

    公开(公告)号:CN103344897B

    公开(公告)日:2015-08-12

    申请号:CN201310231286.X

    申请日:2013-06-09

    Abstract: 本发明公开了一种非破坏性功率MOS管单粒子烧毁效应检测电路及方法,电路包括栅极偏置电路、漏极偏置电路和信号采集电路,方法包括对功率MOS管施加一定的偏置,在重离子辐照的情况下检测MOS管的源极电流,通过电流变化曲线来判断MOS管单粒子烧毁(SEB,single-event burnout)现象是否发生。本检测方法根据MOS管器件性能参数,设置器件的源极和漏极限流电阻和充放电电容,来保证SEB现象发生时的源极电流在可被检测的范围内,同时又确保器件未被烧毁而造成MOS管的破坏性失效。本发明方法简单,可以检测一只MOS管SEB效应的多次发生,同时又具有非破坏性的特点。

    一种单粒子试验样品开帽保护装置

    公开(公告)号:CN103323627B

    公开(公告)日:2015-08-12

    申请号:CN201310247463.3

    申请日:2013-06-20

    Abstract: 一种单粒子试验样品开帽保护装置,包括:C型固定底座、纵向可伸缩旋转连杆、横向可移动连杆、锁紧旋钮、滑动固定端、皮筋、橡胶吸盘和阻挡布。在对金属盖板陶瓷封装单粒子试验样品开帽时,将本开帽保护装置上的橡胶吸盘与器件金属盖板连接,调整开帽保护装置与器件的距离与角度,使皮筋处于合适的拉伸长度、角度。当撬起金属盖板后,金属盖板将在皮筋的带动下离开器件表面,金属盖板弹射到阻挡布上时,将卸去弹力落到桌面,从而实现对器件金属盖板在开帽过程中的运动方向和最终下落位置进行控制,保护被开帽器件。

    一种SRAM型FPGA同步开关噪声验证方法

    公开(公告)号:CN103197159B

    公开(公告)日:2015-08-12

    申请号:CN201310078268.2

    申请日:2013-03-12

    Abstract: 一种SRAM型FPGA同步开关噪声验证方法,基于SRAM型FPGA同步开关噪声验证装置实现,该装置包括PC机、FPGA插座、信号输入单元以及可调负载电容;SRAM型FPGA同步开关噪声的验证方法包括:单个I/O-BANK中最大同步开关数量、不同I/O-BANK间同步开关噪声的相互影响以及同步开关噪声与I/O端口数量、输出翻转速率、时钟频率、被干扰线位置以及负载电容的关系;验证过程中,通过PC机为待验证FPGA配置不同的测试文件,并在不同时钟频率及负载的条件下,检测待验证FPGA中的敏感信号线上的干扰噪声大小来实现对FPGA器件在同步开关噪声信号完整性方面的验证。

    一种SRAM型FPGA串扰验证方法

    公开(公告)号:CN103218268B

    公开(公告)日:2015-08-05

    申请号:CN201310077776.9

    申请日:2013-03-12

    Abstract: 一种SRAM型FPGA串扰验证方法,基于SRAM型FPGA串扰验证装置实现,该装置包括PC机、FPGA插座、信号输入单元以及可调负载电容;SRAM型FPGA串扰的验证方法包括:单个I/O-BANK中最大/最小串扰噪声验证、相邻I/O-BANK间的串扰影响以及串扰与输出翻转速率、输入信号边沿以及负载电容的关系;验证过程中,通过PC机为待验证FPGA提供不同的配置文件,并在不同测试条件下,检测待验证FPGA中的被干扰线上的噪声大小来实现对FPGA器件在串扰噪声的验证。

    一种SRAM型FPGA同步开关噪声验证方法

    公开(公告)号:CN103197159A

    公开(公告)日:2013-07-10

    申请号:CN201310078268.2

    申请日:2013-03-12

    Abstract: 一种SRAM型FPGA同步开关噪声验证方法,基于SRAM型FPGA同步开关噪声验证装置实现,该装置包括PC机、FPGA插座、信号输入单元以及可调负载电容;SRAM型FPGA同步开关噪声的验证方法包括:单个I/O-BANK中最大同步开关数量、不同I/O-BANK间同步开关噪声的相互影响以及同步开关噪声与I/O端口数量、输出翻转速率、时钟频率、被干扰线位置以及负载电容的关系;验证过程中,通过PC机为待验证FPGA配置不同的测试文件,并在不同时钟频率及负载的条件下,检测待验证FPGA中的敏感信号线上的干扰噪声大小来实现对FPGA器件在同步开关噪声信号完整性方面的验证。

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