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公开(公告)号：CN103197159B
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201310078268.2
申请日：2013-03-12
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R29/26
Abstract: 一种SRAM型FPGA同步开关噪声验证方法，基于SRAM型FPGA同步开关噪声验证装置实现，该装置包括PC机、FPGA插座、信号输入单元以及可调负载电容；SRAM型FPGA同步开关噪声的验证方法包括：单个I/O-BANK中最大同步开关数量、不同I/O-BANK间同步开关噪声的相互影响以及同步开关噪声与I/O端口数量、输出翻转速率、时钟频率、被干扰线位置以及负载电容的关系；验证过程中，通过PC机为待验证FPGA配置不同的测试文件，并在不同时钟频率及负载的条件下，检测待验证FPGA中的敏感信号线上的干扰噪声大小来实现对FPGA器件在同步开关噪声信号完整性方面的验证。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103218268B
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201310077776.9
申请日：2013-03-12
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F11/00
Abstract: 一种SRAM型FPGA串扰验证方法，基于SRAM型FPGA串扰验证装置实现，该装置包括PC机、FPGA插座、信号输入单元以及可调负载电容；SRAM型FPGA串扰的验证方法包括：单个I/O-BANK中最大/最小串扰噪声验证、相邻I/O-BANK间的串扰影响以及串扰与输出翻转速率、输入信号边沿以及负载电容的关系；验证过程中，通过PC机为待验证FPGA提供不同的配置文件，并在不同测试条件下，检测待验证FPGA中的被干扰线上的噪声大小来实现对FPGA器件在串扰噪声的验证。
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公开(公告)号：CN104297586A
公开(公告)日：2015-01-21
申请号：CN201410484710.6
申请日：2014-09-22
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/00
Abstract: 一种功率器件的地面与在轨寿命结合性试验评估方法，其特征在于包括如下步骤，进行地面加速寿命试验,确定功率器件的加速试验的加速因子,选取GaAs微波功率器件，确定结温，搭建加速寿命试验平台，设定测试时间、测试参数和测试条件,在不同加速因子条件下同时地面加速寿命试验,采用威布尔图估法进行数据处理,外推寿命,进行在轨试验,在轨试验样品选定,装机飞行,在轨监测，实时监测上述在轨试验样品的直流参数和微波参数变化，在时间轴上观察GaAs微波功率器件参数变化趋势和变化量；根据参数改变来预测GaAs微波功率器件的参数退化，外推寿命，预计器件寿命水平。
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公开(公告)号：CN103197159A
公开(公告)日：2013-07-10
申请号：CN201310078268.2
申请日：2013-03-12
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R29/26
Abstract: 一种SRAM型FPGA同步开关噪声验证方法，基于SRAM型FPGA同步开关噪声验证装置实现，该装置包括PC机、FPGA插座、信号输入单元以及可调负载电容；SRAM型FPGA同步开关噪声的验证方法包括：单个I/O-BANK中最大同步开关数量、不同I/O-BANK间同步开关噪声的相互影响以及同步开关噪声与I/O端口数量、输出翻转速率、时钟频率、被干扰线位置以及负载电容的关系；验证过程中，通过PC机为待验证FPGA配置不同的测试文件，并在不同时钟频率及负载的条件下，检测待验证FPGA中的敏感信号线上的干扰噪声大小来实现对FPGA器件在同步开关噪声信号完整性方面的验证。
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公开(公告)号：CN103218268A
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN201310077776.9
申请日：2013-03-12
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F11/00
Abstract: 一种SRAM型FPGA串扰验证方法，基于SRAM型FPGA串扰验证装置实现，该装置包括PC机、FPGA插座、信号输入单元以及可调负载电容；SRAM型FPGA串扰的验证方法包括：单个I/O-BANK中最大/最小串扰噪声验证、相邻I/O-BANK间的串扰影响以及串扰与输出翻转速率、输入信号边沿以及负载电容的关系；验证过程中，通过PC机为待验证FPGA提供不同的配置文件，并在不同测试条件下，检测待验证FPGA中的被干扰线上的噪声大小来实现对FPGA器件在串扰噪声的验证。
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公开(公告)号：CN104297586B
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：CN201410484710.6
申请日：2014-09-22
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/00
Abstract: 一种功率器件的地面与在轨寿命结合性试验评估方法，其特征在于包括如下步骤，进行地面加速寿命试验,确定功率器件的加速试验的加速因子,选取GaAs微波功率器件，确定结温，搭建加速寿命试验平台，设定测试时间、测试参数和测试条件,在不同加速因子条件下同时地面加速寿命试验,采用威布尔图估法进行数据处理,外推寿命,进行在轨试验,在轨试验样品选定,装机飞行,在轨监测，实时监测上述在轨试验样品的直流参数和微波参数变化，在时间轴上观察GaAs微波功率器件参数变化趋势和变化量；根据参数改变来预测GaAs微波功率器件的参数退化，外推寿命，预计器件寿命水平。
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