近场多光学捕获装置及方法

    公开(公告)号:CN102645755B

    公开(公告)日:2014-08-20

    申请号:CN201210107333.5

    申请日:2012-04-13

    Abstract: 本发明涉及一种近场多光学捕获装置及方法,该装置包括:第一光源,用于向偏振转换器发射平行光束;偏振转换器,用于将平行光束转换为高级次的轴对称偏振光束并发射至扩束系统;扩束系统,用于将高级次的轴对称偏振光束扩束成设定大小的光斑并入射至第一分束镜;第一分束镜将设定大小的光斑反射后,入射到由油浸物镜、玻璃基底和金属薄膜组成的克雷奇曼结构上;设定大小的光斑入射到油浸物镜后聚焦到玻璃基底和金属薄膜的界面处形成聚焦场;其中,设定大小的光斑在所述金属薄膜的表面激发出表面等离子波;表面等离子波的光场与金属表面附近的介质粒子相互作用实现粒子捕获。本发明可灵活调控捕获粒子的数量以及尺度。

    基于CPLD的脉冲光纤激光器驱动电源控制系统

    公开(公告)号:CN103606811A

    公开(公告)日:2014-02-26

    申请号:CN201310673754.9

    申请日:2013-12-11

    Abstract: 一种基于CPLD的脉冲光纤激光器驱动电源控制系统,包括微控制单元、第一数模转换器、第二数模转换器、多路转换器、CPLD控制芯片、泵浦源、脉冲光纤激光器和光电信号处理单元,所述CPLD控制芯片用于接收所述激光器发出的反馈信号从而实现对所述脉冲光纤激光器驱动电源的整体控制,包括激光器功率的设定、调节、泵浦源功率的调节,控制激光器的稳恒输出、激光器工作温度的调节、功率的反馈,声光调制器的脉宽调制调制。根据本发明的脉冲光纤激光器驱动电源控制系统可以通过具有成本效益和计算速度优势的CPLD芯片来实现激光器的电源控制,特别是温度和功率的调节控制,其具有成本低廉、控制电路简单易实现的特点,且反馈速度快,控制灵敏。

    基于柱偏振涡旋光束的超分辨共焦显微成像方法及装置

    公开(公告)号:CN103424861A

    公开(公告)日:2013-12-04

    申请号:CN201310360812.2

    申请日:2013-08-19

    Abstract: 本发明提出了一种基于柱偏振涡旋光束的超分辨共焦显微成像装置,包括针孔滤波器,使从激光器发出的光束经过后获得高斯基模光束;准直透镜,将所述高斯基模光束准直为平行光束;偏振及相位转换系统,使平行光束经过得到具有预定偏振及相位分布的柱偏振涡旋光束;光瞳滤波器,使柱偏振涡旋光束经过,经过分束镜反射并被聚光镜聚焦到待测样品上;滤光片,从样品反射的光信号经过聚光镜和分束镜后入射到一滤光片上,该滤光片只允许光信号中的荧光信号透射;探测器,所述荧光信号被聚光镜聚焦到探测针孔上,并被探测器探测转换为电信号输出;三维平移台,其上放置样品,通过移动三维平移台可实现样品不同位置的探测,从而实现样品的三维扫描成像。

    近场多光学捕获装置及方法

    公开(公告)号:CN102645755A

    公开(公告)日:2012-08-22

    申请号:CN201210107333.5

    申请日:2012-04-13

    Abstract: 本发明涉及一种近场多光学捕获装置及方法,该装置包括:第一光源,用于向偏振转换器发射平行光束;偏振转换器,用于将平行光束转换为高级次的轴对称偏振光束并发射至扩束系统;扩束系统,用于将高级次的轴对称偏振光束扩束成设定大小的光斑并入射至第一分束镜;第一分束镜将设定大小的光斑反射后,入射到由油浸物镜、玻璃基底和金属薄膜组成的克雷奇曼结构上;设定大小的光斑入射到油浸物镜后聚焦到玻璃基底和金属薄膜的界面处形成聚焦场;其中,设定大小的光斑在所述金属薄膜的表面激发出表面等离子波;表面等离子波的光场与金属表面附近的介质粒子相互作用实现粒子捕获。本发明可灵活调控捕获粒子的数量以及尺度。

    远场多光学捕获装置及方法

    公开(公告)号:CN102645754A

    公开(公告)日:2012-08-22

    申请号:CN201210107332.0

    申请日:2012-04-13

    Abstract: 本发明涉及一种远场多光学捕获装置及方法,该装置包括:第一光源,用于向偏振变换器偏振转换器发射平行光束;偏振变换器偏振转换器,用于将平行光束转换为高级次的轴对称偏振光束,并将高级次的轴对称偏振光束发射至扩束系统;扩束系统,用于将高级次的轴对称偏振光束扩束成设定大小的光斑,并将设定大小的光斑入射至二向色性分束镜;二向色性分束镜,用于将设定大小的光斑径反射至一设置在培养皿中的水浸透镜中;所述水浸透镜,用于将所述设定大小的光斑聚焦后得到一聚焦场;其中,高级次的轴对称偏振光束经聚焦场捕获所述聚焦场附近的介质粒子,捕获的介质粒子的数量由聚焦场的焦点数量确定。本发明实施例能够灵活地调控捕获粒子的数量和尺寸。

    生物硬组织激光加工损伤状态监测方法及装置

    公开(公告)号:CN117825384A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202311865111.4

    申请日:2023-12-29

    Abstract: 本发明涉及一种生物硬组织激光加工损伤状态监测方法及装置,包括对生物硬组织进行预处理;加工激光经过准直、扩束系统、扫描和聚焦等系统后,激光作用于样品上;通过离轴或者同轴的成像装置进行图像监测,加工开始前进行图像定位,标定加工位置;在激光加工过程中,拍摄二次谐波信号、等离子体信号和热辐射信号等其中一种或者多种激发信号的图像,基于光信号形状差异判断加工状态,并将数据实时传输给数据处理和控制系统;本发明通过建立光信号形状等与加工损伤状态的映射关系,实现高亮度复杂环境下的生物硬组织激光加工损伤状态的高速监测,从而反馈优化加工参数,确保硬组织的无损加工,有望应用于激光加工手术治疗和骨艺术品加工等诸多方面。

    一种微型光谱仪和光谱检测方法
    29.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115165100A

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202210818666.2

    申请日:2022-07-13

    Abstract: 本发明涉及一种微型光谱仪,微型光谱仪包括准直镜、第一衍射光栅、第二衍射光栅、会聚反射镜、柱面镜和探测阵列,准直镜、第一衍射光栅、第二衍射光栅、会聚反射镜、柱面镜和探测阵列延光路方向依次设置。本申请可纠正扫描中心波长处的散光,抑制宽光谱范围内的散光,从而提高图像质量和分辨率,且本申请中的微型光谱仪设计简单。本发明还涉及一种光谱检测方法。

    物面形变测量方法和测量系统

    公开(公告)号:CN104215193B

    公开(公告)日:2017-06-23

    申请号:CN201410426311.4

    申请日:2014-08-26

    Abstract: 本发明涉及一种物面形变测量方法和测量系统,其中,一种物面形变测量方法包括:确定待测物面的三维形貌数据;通过激光散斑干涉测量确定所述待测物面的原始形变测量数据;根据所述三维形貌数据校正所述形变测量数据,以得到所述待测物面的最终三维形变分布数据。本发明可实现对一定曲率的物面形变数据的精密测量和校正,具有广泛的应用前景。

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