公开(公告)号：CN106091974B

公开(公告)日：2020-03-20

申请号：CN201610632892.6

申请日：2016-08-04

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  高新亚 ,  杨连祥 ,  高燕

IPC: G01B11/16

Abstract: 本发明公开了一种物体形变测量仪器、方法和设备。形变测量设备包括采集单元和测量单元。所述采集单元，用于启动时间相移光路，采集被测物体的第一形变信息；所述测量单元，用于在根据所述第一形变信息确定所述被测物体发生的形变属于静态形变时，测量所述被测物体的第一形变量；所述采集单元，还用于在根据所述第一形变信息确定所述被测物体发生的形变属于动态形变时，启动空间载波光路，采集所述被测物体的第二形变信息；所述测量单元，还用于根据所述第二形变信息，测量所述被测物体的第二形变量。通过形变测量设备能够精确计算被测物体的形变量，避免现有技术中存在的物体形变测量不准确的问题，有效提升了测量物体形变的效率以及测量准确度。

公开(公告)号：CN104215193B

公开(公告)日：2017-06-23

申请号：CN201410426311.4

申请日：2014-08-26

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  高新亚 ,  杨连祥 ,  祝连庆 ,  周哲海

IPC: G01B11/16

Abstract: 本发明涉及一种物面形变测量方法和测量系统，其中，一种物面形变测量方法包括：确定待测物面的三维形貌数据；通过激光散斑干涉测量确定所述待测物面的原始形变测量数据；根据所述三维形貌数据校正所述形变测量数据，以得到所述待测物面的最终三维形变分布数据。本发明可实现对一定曲率的物面形变数据的精密测量和校正，具有广泛的应用前景。

公开(公告)号：CN106091974A

公开(公告)日：2016-11-09

申请号：CN201610632892.6

申请日：2016-08-04

Applicant: 北京信息科技大学

Inventor： 吴思进 ,  高新亚 ,  杨连祥 ,  高燕

IPC: G01B11/16

Abstract: 本发明公开了一种物体形变测量仪器、方法和设备。形变测量设备包括采集单元和测量单元。所述采集单元，用于启动时间相移光路，采集被测物体的第一形变信息；所述测量单元，用于在根据所述第一形变信息确定所述被测物体发生的形变属于静态形变时，测量所述被测物体的第一形变量；所述采集单元，还用于在根据所述第一形变信息确定所述被测物体发生的形变属于动态形变时，启动空间载波光路，采集所述被测物体的第二形变信息；所述测量单元，还用于根据所述第二形变信息，测量所述被测物体的第二形变量。通过形变测量设备能够精确计算被测物体的形变量，避免现有技术中存在的物体形变测量不准确的问题，有效提升了测量物体形变的效率以及测量准确度。