表面粗糙度测量装置
    22.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105378427A

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201480023764.0

    申请日:2014-04-25

    Abstract: 一种表面粗糙度测量装置,其在一个实施例中包括主发射纤维和辅助发射纤维、多个收集纤维、光学壳体、主反射镜和辅助反射镜,以及外部电路。光学壳体包括纤维,并且限定用于光学地接触物体的表面的孔口。主反射镜布置在光学壳体中,用于将从主发射纤维发射的光反射至孔口的检测点,并且将由物体反射的光反射至收集纤维。辅助反射镜布置在光学壳体中,用于将从辅助发射纤维发射的光反射至检测点。外部电路用于生成激光束至主发射纤维和辅助发射纤维,收集来自收集纤维的反射光,并且基于收集的反射光来计算物体的表面粗糙度。

    表面粗糙度测量装置
    23.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104121872A

    公开(公告)日:2014-10-29

    申请号:CN201310150620.9

    申请日:2013-04-26

    Abstract: 本发明涉及一种表面粗糙度测量装置,该装置包括含有一根主发射光纤及若干收集光纤的光纤束、一根副发射光纤、一个用于容置该光纤束及副发射光纤且开设有接触待测物体的测量口的光学腔、容置于光学腔内的主副反射镜、及外部电路。该主反射镜用于将该主发射光纤发射的光线反射至该测量口的一个测试点上,还用于将待测物体反射后的光线反射至该收集光纤中。该副反射镜用于将该副发射光纤发射的光线反射至该测量口的该测试点上。该外部电路用于选择性将一束激光发射至该主发射光纤及副发射光纤,用于接收该若干收集光纤收集的光线,及用于根据接收的光线计算该待测物体的表面粗糙度。

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