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公开(公告)号：CN109770933A
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201811354659.1
申请日：2018-11-14
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/5205 , A61B6/032 , A61B6/0407 , A61B6/4035 , A61B6/405 , A61B6/4241 , A61B6/4435 , A61B6/481 , A61B6/482 , A61B6/488 , A61B6/50 , A61B6/542 , A61B6/545 , A61B6/563
Abstract: 本公开提供用于使用三维(3D)定位扫描改进计算机断层摄影(CT)成像的图像质量的方法和系统。在一个实施例中，一种方法包括通过基于在患者的3D定位扫描期间采集的定位投影数据执行校正来从在所述患者的诊断扫描期间采集的投影数据重建图像。通过这种方式，可以通过使用3D定位数据校正投影数据或图像数据来提高诊断图像的图像质量。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN110891489B
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN201880029775.8
申请日：2018-05-07
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 芮雪 , 付赓 , 金燕南 , 郭建军 , 彼得·迈克尔·伊迪克 , 布莱恩·大卫·亚诺夫
Abstract: 本方法涉及定位在防散射准直器的隔膜下的检测器元件(即，参考检测器像素)的使用。由参考检测器像素检测到的信号可用于更正与相邻像素的电荷共享事件以及/或者实时地或作为校准步骤来表征或更正焦点失准。
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公开(公告)号：CN110047114A
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201910040575.9
申请日：2019-01-16
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 金燕南 , 范家华 , 吴明烨 , 陈峰 , 布鲁诺·克里斯蒂安·伯纳德·德曼
IPC: G06T11/00
Abstract: 本发明方法涉及在计算机断层扫描背景下避免方位角模糊，诸如在具有快速kV切换的双能量成像中。根据某些方面，在每个对应视图内，焦斑位置在患者坐标系中保持静止，并且对所述视图内的检测器信号进行相加。在一个实施例中，这产生了从患者坐标系内的同一位置处收集的信号内的低能量视图和高能量视图。
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公开(公告)号：CN109788926A
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201780058188.7
申请日：2017-09-12
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 本文阐述了一种方法，该方法包括利用CT成像系统的X射线检测器阵列执行一个或多个校准扫描，其中，一个或多个校准扫描包括针对X射线检测器阵列的第一个至第N个元件中的每一个元件获取一个或多个校准测量；并且使用该一个或多个校准测量来更新第一个至第N个元件中的每一个元件的光谱响应模型。在另一个方面中，CT成像系统可使用用于X射线检测器阵列的元件的经更新的光谱响应模型来执行成像，例如包括材料分解(MD)成像。可使用校准过程来更新光谱响应模型，使得X射线检测器阵列的不同元件具有不同的光谱响应模型。
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公开(公告)号：CN108065950A
公开(公告)日：2018-05-25
申请号：CN201611001451.2
申请日：2016-11-14
Applicant: 通用电气公司
Inventor： 吴明烨 , 金燕南 , 布鲁诺·克里斯蒂安·伯纳德·迪曼 , 杰德·道格拉斯·派克
IPC: A61B6/03
Abstract: 本发明公开了一种放射成像方法，包括以下步骤，通过辐射源发射波束到物体上；通过探测器检测穿过所述物体的所述波束，并输出投影数据；确定所述物体沿着所述波束的位置；基于所述物体的所述位置确定卷积核；根据所述卷积核估算散射分布；基于所述散射分布校正所述的投影数据；及使用所述经校正的投影数据生成图像。所述散射分布能够更准确地估算并生能生成更清晰的图像。
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