X射线检测台、X射线成像设备及其控制方法

    公开(公告)号:CN103654812B

    公开(公告)日:2017-09-22

    申请号:CN201310406471.8

    申请日:2013-09-09

    Inventor: 朴泰昱 韩宇燮

    CPC classification number: A61B6/467 A61B6/461 A61B6/462

    Abstract: 公开了一种X射线检测台、X射线成像设备及其控制方法。所述X射线成像设备,包括:可移动的X射线放射模块,用于使用X射线照射对象;X射线检测模块,包括可移动的X射线检测器,用于检测来自X射线放射模块的X射线;触摸传感器装置,安装在X射线检测模块上并位于X射线检测器的移动方向上,用于感测触摸。如果触摸传感器装置感测到触摸,则X射线放射模块和X射线检测器中的至少一个被移动到感测到触摸的位置。

    X射线设备和X射线探测器
    35.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106999126A

    公开(公告)日:2017-08-01

    申请号:CN201580062680.2

    申请日:2015-11-25

    Abstract: 一种X射线设备,其包括被构造成向对象辐射X射线的X射线辐射器和控制器,所述控制器被构造成获取指示X射线辐射器的取向的取向信息和指示X射线探测器的运动的运动信息并基于该取向信息和运动信息选择X射线探测器,所述X射线探测器被构造成探测由所述X射线辐射器辐射的X射线。

    用于检测电子装置的自由下落的方法和设备

    公开(公告)号:CN100417945C

    公开(公告)日:2008-09-10

    申请号:CN200510098684.4

    申请日:2005-09-09

    CPC classification number: G11B19/04 G01P15/00 G01P15/0891 G01P15/18

    Abstract: 本发明提供一种用于检测电子装置的自由下落的方法和设备。该方法包括:使用加速度传感器来感知该电子装置的下落加速度;确定感知到的下落加速度是否小于预定阈值;当感知到的下落加速度小于预定阈值时,确定下落加速度是否是具有统计显著性的统计常数并且是否在预定的时间内被保持;和当下落加速度是统计常数并且在预定的时间内被保持时,确定该电子装置自由下落。因此,可以正确地感知电子装置的自由下落,而不管当测量该电子装置的下落加速度时由于环境条件,如温度的变化和该电子装置旋转时产生的旋转加速度所产生的重力加速度的误差。

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