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公开(公告)号：CN103048062A
公开(公告)日：2013-04-17
申请号：CN201210523847.9
申请日：2012-12-07
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01K11/00
Abstract: 本发明属于光学测量技术领域，涉及的是测量脉冲放电等离子鞘层温度的方法，该方法结合光谱法与激波波速测量，首先利用光谱法准确的测量出正柱区的气体温度，再利用小孔光阑阴影法，准确的测量放电后激波的波速，再用正柱区温度与激波波速计算出薄鞘层温度。本发明克服了放电等离子鞘层厚度薄、发光总量弱、无法直接测量的缺点，利用了正柱区体积大、发光强、利于收集，以及激波波速恒定，易于测量的特点，通过运用激波管的近似原理，准确的测量放电等离子鞘层的气体温度。
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