半导体装置
    31.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109219869B

    公开(公告)日:2019-11-19

    申请号:CN201680086244.3

    申请日:2016-05-30

    Abstract: 一种半导体装置,其具备:衬底;第一导电型的漂移区域,其形成于衬底的主面;第二导电型的阱区域,其形成于漂移区域的主面;第一导电型的源极区域,其形成于阱区域;栅极槽,其从漂移区域的主面沿垂直方向形成,与源极区域、阱区域及漂移区域相接;第一导电型的漏极区域,其形成于漂移区域的主面;栅电极,其经由栅极绝缘膜形成于栅极槽的表面;第二导电型的保护区域,其形成于栅极绝缘膜的与漏极区域相对的面;第二导电型的连接区域,其与阱区域和保护区域相接而形成。

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