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公开(公告)号：CN1497548A
公开(公告)日：2004-05-19
申请号：CN03143046.5
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖斗动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1149547C
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN98126926.5
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的2个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出2个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1146871C
公开(公告)日：2004-04-21
申请号：CN99815802.X
申请日：1999-07-02
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/0037 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/006 , G11B7/0062 , G11B7/007 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/0945 , G11B7/1267 , G11B19/04 , G11B19/12 , G11B20/10 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10481 , G11B27/36
Abstract: 一种光学记录介质，其具有一个记录/再现条件记录区，用于记录记录/再现条件和确定使用记录/再现条件的记录/再现装置的记录/再现装置信息。当在记录/再现装置中访问光学记录介质时，使用用于记录/再现装置的记录/再现条件。因此，通过使用针对光学记录介质和记录/再现装置的最优记录/再现装置而进行记录或再现。当第一次使用光学记录介质时，通过使用在光学记录介质中设置的检测记录区而进行检测记录，并记录所获得的记录/再现条件。
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公开(公告)号：CN1221950A
公开(公告)日：1999-07-07
申请号：CN98126926.5
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60,根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS,一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道,一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的2个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置,并向聚焦误差检测部36输出2个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1853220B
公开(公告)日：2010-11-10
申请号：CN200480026776.5
申请日：2004-12-24
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B7/007 , G11B7/125 , G11B7/24
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B7/00736 , G11B7/24038
Abstract: 提供一种具备可靠性高的功率校正区的信息记录介质和使用此信息记录介质的信息记录再现装置。该信息记录介质具有记录层，该记录层具备：记录用户信息信号的数据区(50)；在数据区(50)的内周侧设置的导入区；设在上述导入区的更内周侧、记录测试记录模式的内周功率校正区；记录与上述内周功率校正区有关的记录管理信息的记录管理区。在上述记录层中，在上述用户信息信号的记录终端的外周设置有外周功率校正区(70)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100470640C
公开(公告)日：2009-03-18
申请号：CN03801700.8
申请日：2003-01-30
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B7/24 , G11B20/12
CPC classification number: G11B20/10009 , G11B7/0053 , G11B7/00736 , G11B19/125 , G11B19/26 , G11B20/1217 , G11B27/329 , G11B2020/10981 , G11B2020/1099 , G11B2020/1229 , G11B2020/1278 , G11B2220/2575
Abstract: 本发明提供信息记录再现方法，记录再现具有数据区和导入区的信息介质，数据区可记录任意信息信号，导入区具有用不可改写的凹坑记录了信息信号的凹坑部分和可记录部分，其中，可旋转地支撑信息介质，当根据从信息介质的导入区的能利用光束照射来记录为了在数据区记录任意信息信号而需要的信息信号的可记录部分再现的信息信号，来识别规定对数据区的记录速度的标识符时，对应该标识符规定的记录速度来控制信息介质的旋转。
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公开(公告)号：CN1306484C
公开(公告)日：2007-03-21
申请号：CN200410007003.4
申请日：1999-07-02
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B7/005
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/0037 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/006 , G11B7/0062 , G11B7/007 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B7/0945 , G11B7/1267 , G11B19/04 , G11B19/12 , G11B20/10 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10481 , G11B27/36
Abstract: 本发明提供一种记录/再现方法，用于在可重写型光学记录介质上记录信息和再现信息，在其上可记录多个记录/再现条件以及厂商信息，所述方法包含：通过检测记录确定用于记录信息和再现信息中的至少一个的记录/再现装置的厂商的最优记录/再现条件，其中将检测记录数据所再现的信号与预定的标准进行比较来确定信号的质量，且根据所确定的质量的好坏来确定最优记录/再现条件；和将最优记录/再现条件记录到可重写型光学记录介质上，其中当在可重写型光学记录介质上记录的记录/再现条件的数目达到预定的数目时，从可重写型光学记录介质删掉最旧的记录/再现条件，将最优记录/再现条件记录到可重写型光学记录介质上。以及提供一种记录/再现装置。
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公开(公告)号：CN1251207C
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN03149127.8
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部(50)和聚焦位置精密探测部(60)，根据来自凸纹沟纹检测部(34)的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部(33)计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部(36)输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1251203C
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN03143044.9
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部(50)和聚焦位置精密探测部(60)，根据来自凸纹沟纹检测部(34)的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部(33)计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部(36)输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1700319A
公开(公告)日：2005-11-23
申请号：CN200510074017.2
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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