半反射膜或反射膜,光学信息记录介质和溅射靶材

    公开(公告)号:CN1331138C

    公开(公告)日:2007-08-08

    申请号:CN200510066665.3

    申请日:2005-04-21

    CPC classification number: G11B7/258 G11B7/2533 G11B7/2534 G11B7/259 Y10T428/21

    Abstract: 考虑到这种情况,完成了本发明,且本发明的一个目的是发现显示通过纯Ag或通过常规Ag合金没有实现的水平的高耐内聚性、高耐光性、高耐热性、高反射率、高透射率、低吸光率,和高热传导率的Ag基合金,和在这种合金的基础上,提供一种具有优异写/读性能和长期使用可靠性的光学信息记录介质用半反射膜和反射膜;在沉积这种半反射膜和反射膜中使用的光学信息记录介质用溅射靶材;和一种配备有这种半反膜或反射膜的光学信息记录介质。光学信息记录介质用半反射膜或反射膜,其包含Ag基合金,其中Ag基合金包含0.005至0.40%(原子%,除非另外注明)的Bi和总量为0.05至5%的选自Zn、Al、Ga、In、Si、Ge和Sn中的至少一种元素。

    电介质层、光记录媒体、溅镀靶材及氧化物

    公开(公告)号:CN110337693B

    公开(公告)日:2021-04-30

    申请号:CN201880012085.1

    申请日:2018-01-15

    Inventor: 田内裕基

    Abstract: 本发明的目的在于提供在直接层叠的氧化物系记录层中可进行良好的信息记录且无需预防健康问题的措施、耐久性高的电介质层、光记录媒体、溅镀靶材及氧化物。本发明的电介质层由含有Sn元素、以及Zn元素、Zr元素、Si元素及Ga元素中的至少一种元素的氧化物形成,在相对于氧化物的氧以外的所有元素而将Sn元素的含有率设为a摩尔%、Zn元素的含有率设为b摩尔%、Zr元素的含有率设为c摩尔%、Si元素的含有率设为d摩尔%、及Ga元素的含有率设为e摩尔%的情况下,满足下述式(1)~式(7)。0≦b/(a+b)≦0.6···(1)0≦(c+d)/(a+b+c+d+e)≦0.5···(2)0≦b≦50···(3)0≦c≦40···(4)0≦d≦45···(5)0≦e≦40···(6)20≦b+c+d+e≦80···(7)。

    反射阳极电极、薄膜晶体管、有机EL显示器及溅镀靶材

    公开(公告)号:CN112018260A

    公开(公告)日:2020-12-01

    申请号:CN202010453857.4

    申请日:2020-05-26

    Inventor: 田内裕基

    Abstract: 本发明涉及一种即便使作为反射膜的Al合金膜与氧化物导电膜直接接触,也可确保低接触电阻与高反射率,且耐热性也优异的反射阳极电极,其用于有机EL显示器,且所述反射阳极电极具有层叠结构,所述层叠结构包含Al合金膜及氧化物导电膜,在所述Al合金膜及所述氧化物导电膜的接触界面介隔存在以氧化铝为主成分的层,所述Al合金膜包含Si及稀土类元素,当将所述Si的含量设为a(原子%),将所述稀土类元素的合计含量设为b(原子%)时,满足0.62<{a/(a+b)}、0.2<a<3及0.1<b的关系,且所述以氧化铝为主成分的层包含Si。另外,还涉及一种薄膜晶体管基板、有机EL显示器、以及溅镀靶材。

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