公开(公告)号：CN1677502A

公开(公告)日：2005-10-05

申请号：CN200510054118.3

申请日：2005-03-04

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 猿木俊司 ,  稻毛健治 ,  蜂须贺望 ,  清野浩

IPC: G11B5/455 ,  G11B5/39

CPC classification number: G01R33/093 ,  B82Y10/00 ,  B82Y25/00 ,  G01R33/098 ,  G11B5/3903 ,  G11B5/3909 ,  G11B5/455 ,  G11B2005/0018

Abstract: 一种用来测试TMR元件的方法，包括初始测量TMR元件的电阻值以提供所测量的电阻值作为第一电阻值的步骤；在连续使电流通过TMR元件预定的时间后，测量TMR元件的电阻值以提供所测量的电阻值作为第二电阻值的步骤；以及根据TMR元件电阻变化的程度来评价TMR元件的步骤。电阻变化的程度基于第一电阻值和第二电阻值来确定。