SiC单晶的制造方法和制造装置

    公开(公告)号:CN103562443B

    公开(公告)日:2016-05-18

    申请号:CN201180069491.X

    申请日:2011-07-27

    Abstract: 一种SiC单晶的制造方法,一边在石墨坩埚内的Si熔液内维持从内部到熔液面温度降低的温度梯度、一边以接触该熔液面的SiC籽晶为起点使SiC单晶生长,其中,在使成为SiC单晶的生长起点的SiC籽晶的结晶生长面接触上述熔液面时,将熔液向SiC籽晶的侧面的润升高度设定为从结晶生长面生长了的SiC单晶和从侧面生长了的SiC单晶作为一体的SiC单晶而生长的范围内。一种SiC单晶的制造装置,具有:石墨坩埚;用于将上述坩埚内的原料加热熔化从而形成上述原料熔液并且维持SiC单晶的生长所需的温度梯度的加热单元;在下端保持籽晶的支持棒;和保持机构,其维持上述保持以使得熔液向SiC籽晶的侧面的润升高度处于从结晶生长面生长了的SiC单晶和从侧面生长了的SiC单晶作为一体的SiC单晶而生长的范围内。

    SiC单晶的制造方法
    46.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103930601A

    公开(公告)日:2014-07-16

    申请号:CN201180074036.9

    申请日:2011-12-09

    CPC classification number: C30B15/22 C30B15/02 C30B19/04 C30B29/36

    Abstract: 提供一种SiC单晶的制造方法,该制造方法在采用熔液法使SiC单晶生长时,能够维持均匀的单晶生长能持续的平坦生长,并且实现为实现高的生产率所需的生长速度的提高。所述SiC单晶的制造方法,是在坩埚内从C的Si熔液使SiC单晶生长的方法,其特征在于,使高过饱和度生长期和低过饱和度生长期交替反复,所述高过饱和度生长期是将正在生长的SiC单晶与Si熔液的生长界面处的Si熔液中的C的过饱和度维持得比能够维持平坦生长的上限的临界值高来进行生长的生长期;所述低过饱和度生长期是将所述过饱和度维持得比所述临界值低来进行生长的生长期。

    SiC单晶的制造方法和制造装置

    公开(公告)号:CN103562443A

    公开(公告)日:2014-02-05

    申请号:CN201180069491.X

    申请日:2011-07-27

    Abstract: 一种SiC单晶的制造方法,一边在石墨坩埚内的Si熔液内维持从内部到熔液面温度降低的温度梯度、一边以接触该熔液面的SiC籽晶为起点使SiC单晶生长,其中,在使成为SiC单晶的生长起点的SiC籽晶的结晶生长面接触上述熔液面时,将熔液向SiC籽晶的侧面的润升高度设定为从结晶生长面生长了的SiC单晶和从侧面生长了的SiC单晶作为一体的SiC单晶而生长的范围内。一种SiC单晶的制造装置,具有:石墨坩埚;用于将上述坩埚内的原料加热熔化从而形成上述原料熔液并且维持SiC单晶的生长所需的温度梯度的加热单元;在下端保持籽晶的支持棒;和保持机构,其维持上述保持以使得熔液向SiC籽晶的侧面的润升高度处于从结晶生长面生长了的SiC单晶和从侧面生长了的SiC单晶作为一体的SiC单晶而生长的范围内。

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