SiC单晶的制造方法
    41.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106029959A

    公开(公告)日:2016-10-12

    申请号:CN201580008068.7

    申请日:2015-02-12

    CPC classification number: C30B19/04 C30B9/06 C30B9/12 C30B19/062 C30B29/36

    Abstract: 本发明提供在籽晶与Si‑C溶液之间气泡难以进入的SiC单晶的制造方法。SiC单晶的制造方法为:利用将籽晶(10)的主表面(10a)朝向下方并使其与Si‑C溶液(11)接触而在主表面(10a)上使SiC单晶生长的溶液生长法得到SiC单晶的制造方法。主表面(10a)平坦。该制造方法包括:接触工序A、接触工序B和生长工序。接触工序A中,使主表面(10a)的一部分区域与贮存的Si‑C溶液(11)接触。接触工序B中,以在接触工序A中接触的一部分区域即初始接触区域作为起始点,通过润湿现象来扩大主表面(10a)与贮存的Si‑C溶液(11)的接触区域。生长工序中,使SiC单晶在与贮存的Si‑C溶液(11)接触的主表面(10a)上生长。

    SiC单晶的制造方法
    43.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105463571A

    公开(公告)日:2016-04-06

    申请号:CN201510615809.X

    申请日:2015-09-24

    CPC classification number: C30B29/36 C30B19/04 C30B19/08

    Abstract: 本发明涉及SiC单晶的制造方法。提供了与以往相比可抑制夹杂物的产生以生长更均匀的晶体的SiC单晶的制造方法。SiC单晶的制造方法,其是使保持于晶种保持轴12的晶种基板14与容纳于坩埚内的具有从内部向表面温度降低的温度梯度的Si-C溶液24接触以使SiC单晶晶体生长的基于溶液法的SiC单晶的制造方法,其中,在坩埚的侧面部的周围配置有高频线圈22,坩埚具有包括中坩埚101和以包围中坩埚101的方式配置的一个以上的外坩埚102的多层结构,该制造方法包括如下工序:在使SiC单晶生长时,以对Si-C溶液24的液面与高频线圈22的中心部的垂直方向的相对位置变化进行控制的方式,仅使中坩埚101沿垂直方向向上移动。

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