数据采集方法、系统与计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN116582773A

    公开(公告)日:2023-08-11

    申请号:CN202310409554.6

    申请日:2023-04-17

    Abstract: 本发明涉及通信技术领域,公开一种数据采集方法、系统与计算机可读存储介质。所述数据采集方法包括:针对当前采集时段内的采集任务中的每个采集设备,根据所述每个采集设备的每个数据项的历史采集成功率,确定所述每个数据项的优先级;然后,根据所述每个采集设备的平均历史采集成功率,确定最高优先级的采集设备;最后,对所述最高优先级的采集设备进行关于最高优先级的数据项的采集。由此,本发明根据同一设备的不同数据项的历史采集成功率进行优先级排布,然后根据不同设备的平均历史采集成功率进行优先级排布,并对最高优先级的设备的最高优先级的数据项进行优先采集,从而在面对较多设备或高频采集需求场景时能够极大地提高采集效率。

    集成多款芯片的操作系统测试方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN118897810A

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202411401823.5

    申请日:2024-10-09

    Abstract: 本申请公开了一种集成多款芯片的操作系统测试方法、装置及系统,属于芯片测试技术领域。方法包括:接收用户在测试脚本的运行面板的输入数据;测试脚本用于针对至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片进行测试;根据输入数据选择测试的目标芯片;使用测试脚本采用目标命令参数集对目标芯片的操作系统进行测试。本申请通过为至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片建立相同的测试脚本,通过改变输入数据和命令参数对不同芯片进行测试,实现了单一的测试流程对多种芯片的集成测试,并且不同芯片之间还能够进行数据交互,通过修改命令参数的值即可不同命令参数的测试,无需针对每个命令参数测试编写代码,减少了代码冗余,提高了测试效率。

    安全芯片的算法测试方法、装置和系统

    公开(公告)号:CN118585439A

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202410687188.5

    申请日:2024-05-30

    Abstract: 本发明提供一种安全芯片的算法测试方法、装置和系统,属于计算机技术领域。方法包括:响应于算法测试参数配置指令,获取待测安全芯片的算法测试参数;生成与算法测试参数匹配的测试数据;发送测试数据和算法测试参数至待测安全芯片,以及接收待测安全芯片基于测试数据和算法测试参数执行算法测试的第一测试结果;从算法库和国密资质卡中确定与算法类型匹配的目标测试主体,以及获取目标测试主体基于测试数据和算法测试参数执行算法测试的第二测试结果;基于第一测试结果和第二测试结果的对比结果,确定算法测试结果。本发明解决现有安全芯片的算法测试方法存在测试的算法类型较少、测试算法类型的覆盖率较低,无法保证测试结果的正确性的问题。

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