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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1192369C
公开(公告)日：2005-03-09
申请号：CN99119297.4
申请日：1999-08-31
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/00718 , G11B7/00745 , G11B7/0901 , G11B7/0956
Abstract: 一种光盘装置是根据在光束通过在朝与光盘100的信息道垂直的一个方向上偏离了的位置上形成的第1纹孔串和在朝与信息道垂直的另一个方向上偏离了的位置上形成的第2纹孔串时的反射光量信号(加法器130的输出)的振幅的差检测出第2TE信号并修正基于推挽法的TE信号(减法器125的输出)。这种光盘装置即使在发生径向倾斜的情况下也能稳定地进行信息的再生，并且，在记录时不会消去相邻信息道的信息。
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公开(公告)号：CN1495731A
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN03149107.3
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1495730A
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN03149106.5
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1246702A
公开(公告)日：2000-03-08
申请号：CN99119297.4
申请日：1999-08-31
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/00718 , G11B7/00745 , G11B7/0901 , G11B7/0956
Abstract: 一种光盘装置是根据在光束通过在朝与光盘100的信息道垂直的一个方向上偏离了的位置上形成的第1纹孔串和在朝与信息道垂直的另一个方向上偏离了的位置上形成的第2纹孔串时的反射光量信号(加法器130的输出)的振幅的差检测出第2TE信号并修正基于推挽法的TE信号(减法器125的输出)。这种光盘装置即使在发生径向倾斜的情况下也能稳定地进行信息的再生,并且,在记录时不会消去相邻信息道的信息。
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公开(公告)号：CN1183612A
公开(公告)日：1998-06-03
申请号：CN97122851.5
申请日：1997-10-16
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00
CPC classification number: G11B19/12 , G11B7/00718 , G11B7/08505 , G11B7/0901
Abstract: 一种光学信息装置,将光束照射在信息媒体上执行至少再现和记录操作中的一种,包括:第一寻轨误差探测装置,用于探测第一区内光束和第一轨道间位置误差,第二寻轨误差探测装置,用于探测第二区内光束和第二轨道间位置误差;寻轨控制装置,用于对光束定位在预定轨道上进行寻轨控制;测定装置,用于确定光束被定位在第一区还是第二区内;切换装置,用于根据测定结果选择二探测装置的输出信号中的一个并将该信号送到寻轨控制装置。
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