半导体器件
    51.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102318072B

    公开(公告)日:2014-01-22

    申请号:CN201080008205.4

    申请日:2010-02-12

    Inventor: 添野明高

    CPC classification number: H01L29/7397 H01L29/0619 H01L29/0696 H01L29/0834

    Abstract: 本发明提供了一种具有在同一个半导体衬底中的IGBT元件区和二极管元件区的反向导电型半导体器件。电流检测区与所述IGBT元件区相邻布置,并且所述IGBT元件区的集电极区延伸以与电流检测区的集电极区连接。能够抑制由IGBT和二极管之间的界线部分所引起的IGBT检测电流中的不稳定性。以相同的方式,电流检测区与所述二极管元件区相邻布置,并且二极管元件区的阴极区延伸以与所述电流检测区的阴极区连接。能够抑制由IGBT和二极管之间的界线部分所引起的二极管检测电流中的不稳定性。

    半导体装置
    53.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102804359A

    公开(公告)日:2012-11-28

    申请号:CN200980159805.8

    申请日:2009-06-11

    Inventor: 添野明高

    Abstract: 本发明涉及一种半导体装置,其在同一半导体基板内形成有IGBT元件区、二极管元件区、被设置于IGBT元件区与二极管元件区之间的边界区,在IGBT元件区中的第一导电型的第一体区内设置有第二导电型的载流子累积区。在边界区中,于第一导电型的第二扩散区内,设置有延伸至与载流子累积区相接为止的第二导电型的第三扩散区。由此,能够在IGBT工作时,对载流子穿过边界区而向二极管元件区移动的情况进行抑制,从而降低通态电压。而且,能够在二极管反向恢复时,对载流子在边界区的漂移区中累积的情况进行抑制,从而降低反向恢复电流。

    半导体器件
    56.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102318072A

    公开(公告)日:2012-01-11

    申请号:CN201080008205.4

    申请日:2010-02-12

    Inventor: 添野明高

    CPC classification number: H01L29/7397 H01L29/0619 H01L29/0696 H01L29/0834

    Abstract: 本发明提供了一种具有在同一个半导体衬底中的IGBT元件区和二极管元件区的反向导电型半导体器件。电流检测区与所述IGBT元件区相邻布置,并且所述IGBT元件区的集电极区延伸以与电流检测区的集电极区连接。能够抑制由IGBT和二极管之间的界线部分所引起的IGBT检测电流中的不稳定性。以相同的方式,电流检测区与所述二极管元件区相邻布置,并且二极管元件区的阴极区延伸以与所述电流检测区的阴极区连接。能够抑制由IGBT和二极管之间的界线部分所引起的二极管检测电流中的不稳定性。

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