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公开(公告)号：CN1725334A
公开(公告)日：2006-01-25
申请号：CN200510079173.8
申请日：2005-06-28
Applicant: 株式会社神户制钢所
CPC classification number: C22C5/06 , C23C14/205 , C23C14/3414 , G11B7/24038 , G11B7/258 , G11B7/259 , G11B7/266 , Y10T428/21
Abstract: 用于光学信息记录介质的各种半反射膜或者反射膜以及一种Ag基合金溅射靶包含Li含量为0.01－10原子百分比的Ag基合金。该Ag基合金显示出高抗粘结性、高耐光性、高耐热性、高反射率、高透射率、低吸收率和高热导率，这些性能是用纯Ag或者常规的Ag合金不能获得的。所得到的包含Ag基合金的用于光学信息记录介质的半反射膜和反射膜显示出优异的录写/读取性能和长期可靠性。半反射膜和反射膜沉积中使用光学信息记录介质用溅射靶。使用该半反射膜和/或反射膜制造光学信息记录介质。
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公开(公告)号：CN1691167A
公开(公告)日：2005-11-02
申请号：CN200510066665.3
申请日：2005-04-21
Applicant: 株式会社神户制钢所
CPC classification number: G11B7/258 , G11B7/2533 , G11B7/2534 , G11B7/259 , Y10T428/21
Abstract: 考虑到这种情况，完成了本发明，且本发明的一个目的是发现显示通过纯Ag或通过常规Ag合金没有实现的水平的高耐内聚性、高耐光性、高耐热性、高反射率、高透射率、低吸光率，和高热传导率的Ag基合金，和在这种合金的基础上，提供一种具有优异写/读性能和长期使用可靠性的光学信息记录介质用半反射膜和反射膜；在沉积这种半反射膜和反射膜中使用的光学信息记录介质用溅射靶材；和一种配备有这种半反膜或反射膜的光学信息记录介质。光学信息记录介质用半反射膜或反射膜，其包含Ag基合金，其中Ag基合金包含0.005至0.40％(原子％，除非另外注明)的Bi和总量为0.05至5％的选自Zn、Al、Ga、In、Si、Ge和Sn中的至少一种元素。
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公开(公告)号：CN113823332B
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202111140681.8
申请日：2019-05-22
Applicant: 株式会社神户制钢所
Inventor： 田内裕基
IPC: G11B7/2433
Abstract: 本发明提供一种记录层、光信息记录介质及溅射靶。本发明的一实施方式的记录层是通过激光的照射进行记录的光信息记录介质用的记录层，包含W氧化物、Fe氧化物、以及Ta氧化物及Nb氧化物中的至少任一种，且在全部金属原子中，包含10原子％以上且60原子％以下的Fe、合计为3原子％以上且50原子％以下的Ta及Nb。
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公开(公告)号：CN111771242A
公开(公告)日：2020-10-13
申请号：CN201980015237.8
申请日：2019-05-22
Applicant: 株式会社神户制钢所
Inventor： 田内裕基
IPC: G11B7/2433 , C23C14/08 , C23C14/34 , G11B7/24035 , G11B7/2578 , G11B7/26
Abstract: 本发明的一实施方式的记录层是通过激光的照射进行记录的光信息记录介质用的记录层，包含W氧化物、Fe氧化物、以及Ta氧化物及Nb氧化物中的至少任一种，且在全部金属原子中，包含10原子％以上且60原子％以下的Fe、合计为3原子％以上且50原子％以下的Ta及Nb。
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公开(公告)号：CN105931654A
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201610230364.8
申请日：2010-09-16
IPC: G11B7/2433 , G11B7/2437 , C23C14/08 , C23C14/34
CPC classification number: G11B7/2437 , C23C14/08 , C23C14/3414 , G11B7/24038 , G11B7/2433 , G11B2007/24304 , G11B2007/24306 , G11B2007/24308 , G11B2007/24312 , G11B2007/2432 , Y10T428/21
Abstract: 本发明提供记录特性优异的光信息记录介质用记录层、具备该记录层的光信息记录介质及对上述记录层的形成有用的溅射靶。该光信息记录介质用记录层是通过激光的照射进行记录的记录层，其特征在于，含有氧化物相对于1mol氧的标准生成自由能的绝对值比Pd大的金属(以下，称为X金属)的氧化物和氧化Pd，该氧化Pd含有一氧化Pd和二氧化Pd，且Pd原子相对于记录层中所含的X金属原子和Pd原子的合计的比率为4～85原子％。
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公开(公告)号：CN103189919B
公开(公告)日：2016-03-16
申请号：CN201180043515.4
申请日：2011-09-09
IPC: G11B7/24038 , G11B7/2578 , G11B7/243
CPC classification number: G11B7/243 , G11B7/24038 , G11B7/2578 , G11B2007/24304 , G11B2007/24306 , G11B2007/2431 , G11B2007/2432 , G11B2007/25708 , G11B2007/2571 , G11B2007/25711 , G11B2007/25713 , G11B2007/25715
Abstract: [问题]提供了一种可以控制每个记录层的反射率和透射率且在每个记录层中可以获得满意的记录特性的光学记录介质。[技术方案]一种光学记录介质（10），包括：基板（11）；和两个或更多个记录层（121、122、123），所述记录层包含Pd、O、和M（其中M是选自Zn、Al、In、和Sn中的一种或多种元素），并且O的含量大于M被完全氧化（被完全氧化成ZnO、Al2O3、In2O3、和SnO2）时的化学计量组成。当从与记录光入射的侧相对的侧计数时，第n个记录层的Pd含量小于第n-1个记录层中的Pd含量，其中所述第n个记录层是所述两个或更多个记录层（121、122、123）中的任意一个。
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公开(公告)号：CN103189919A
公开(公告)日：2013-07-03
申请号：CN201180043515.4
申请日：2011-09-09
IPC: G11B7/243 , G11B7/24038 , G11B7/2578
CPC classification number: G11B7/243 , G11B7/24038 , G11B7/2578 , G11B2007/24304 , G11B2007/24306 , G11B2007/2431 , G11B2007/2432 , G11B2007/25708 , G11B2007/2571 , G11B2007/25711 , G11B2007/25713 , G11B2007/25715
Abstract: 提供了一种可以控制每个记录层的反射率和透射率且在每个记录层中可以获得满意的记录特性的光学记录介质。[技术方案]一种光学记录介质（10），包括：基板（11）；和两个或更多个记录层（121、122、123），所述记录层包含Pd、O、和M（其中M是选自Zn、Al、In、和Sn中的一种或多种元素），并且O的含量大于M被完全氧化（被完全氧化成ZnO、Al2O3、In2O3、和SnO2）时的化学计量组成。当从与记录光入射的侧相对的侧计数时，第n个记录层的Pd含量小于第n-1个记录层中的Pd含量，其中所述第n个记录层是所述两个或更多个记录层（121、122、123）中的任意一个。
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公开(公告)号：CN102612713A
公开(公告)日：2012-07-25
申请号：CN201080052289.1
申请日：2010-11-17
Applicant: 株式会社神户制钢所
CPC classification number: G11B5/7325 , C23C14/16 , C23C14/3414 , G11B5/851 , Y10T428/12993
Abstract: 提供一种Ag合金热扩散控制膜，其是用于热辅助记录用磁介质的热扩散控制膜，既维持着高的热传导率，并且兼备高热扩散率、平滑的表面粗糙度和高耐热性全部。本发明涉及Ag合金热扩散控制膜，其是用于热辅助记录用磁记录介质的热扩散控制膜，由Ag为主要成分的Ag合金构成，满足表面粗糙度Ra在1.0nm以下、热传导率100W/(m·K)以上、热扩散率4.0×10-5m2/sec以上。
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公开(公告)号：CN102483939A
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN201080040664.0
申请日：2010-09-17
CPC classification number: G11B7/2437 , C23C14/3414 , G11B7/2433 , G11B2007/24306 , G11B2007/24308 , G11B2007/2432
Abstract: 本发明提供记录特性优异的光信息记录介质用记录层、具备该记录层的光信息记录介质、及对上述记录层的形成有用的溅射靶。该光信息记录介质用记录层是通过激光的照射进行记录的记录层，含有相对于1mol氧的氧化物的标准生成自由能的绝对值比Pd及Ag大的X金属的氧化物、氧化Pd及氧化Ag，相对于记录层中所含的X金属原子、Pd原子及Ag原子的合计量，Pd原子的比率为10～60原子％，Ag原子的比率为5～45原子％，且Pd原子和Ag原子的合计量的比率为75原子％以下。
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