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公开(公告)号：CN113945758B
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202111084816.3
申请日：2021-09-16
Applicant: 昆山睿翔讯通通信技术有限公司
Abstract: 本发明提供一种印刷天线阻值测控方法及系统，包括：根据印刷天线的走线结构设计至少三个测量点；计算每两个测量点之间的理论阻值，并形成理论阻值表；制作标准样件；制作测量治具；利用测量治具测量标准样件以得到参考阻值；计算标准阻值，并形成标准阻值表；利用测量治具对制造的印刷天线进行阻值测量，以标准阻值表为判断依据确认制造的印刷天线是否符合要求。通过对印刷天线多个点之间的阻值进行测量，使得能够分段确认印刷天线阻值不良的区域，从而能够找到印刷天线性能不达标的原因点，有利于从根本进行质量管控及分析，提高了生产效率，解决了现有印刷天线阻值质量管控不便、生产效率较低的问题。
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公开(公告)号：CN112394234B
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202010806834.7
申请日：2020-08-12
Applicant: 稜研科技股份有限公司
Abstract: 一种快速空中产线测试平台，包括天线阵列及两个反射板。该天线阵列设置于具有波束成形功能的待测物的相对面并以波束成形发射波束，两个反射板为彼此相对设置并位于待测物及天线阵列之间，借由波束在天线阵列、待测物及两个反射板之间的传播，进行待测物的波束空中测试，以大幅节省测试时间，并有效降低测试成本。本发明并提供利用喇叭天线阵列与折弯波导以及利用立体椭圆曲面进行空中产线测试的平台。
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公开(公告)号：CN111337816B
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN201911309293.0
申请日：2019-12-18
Applicant: 德克萨斯仪器股份有限公司
Abstract: 本发明涉及使用近场耦合RF环回路径的封装上天线(AOP)设备的非接触测试解决方案。一种射频(RF)环回基板或印刷电路板(PCB)(400)，其含有位于环回基板的底部(403)上的接收天线(402A至402C)和发射天线(404A至404D)，这些天线与被测封装(AOP)设备(200)上的天线上的互补发射天线(208A至208C)和接收天线(201A至201D)对准。环回基板接收天线和发射天线彼此耦合。被测设备触点由常规测试仪(100)驱动，这使得集成电路中的RF电路驱动AOP发射天线。对应的环回基板接收天线从AOP发射天线接收RF信号，并将其提供给环回基板发射天线。然后，集成电路封装AOP接收天线从环回基板发射天线接收RF信号。通过集成电路触点(204)监控集成电路封装AOP接收天线处的信号，以监控接收到的RF信号。
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公开(公告)号：CN118671547A
公开(公告)日：2024-09-20
申请号：CN202310241116.3
申请日：2023-03-14
Applicant: 欣兴电子股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种线路裸板的检测系统及检测方法。检测系统用于检测线路裸板。线路裸板包括芯片接垫及天线。芯片接垫电性连接天线。检测系统包括测试转板、测试装置及测量装置。测试转板包括芯片及接触结构，其中芯片电性连接接触结构，接触结构可分离地接触芯片接垫，而使芯片电性连接芯片接垫。测试装置包括收发天线。测试装置与线路裸板彼此分开。测量装置电性连接芯片或收发天线。本发明检测系统及检测方法能利用测试转板来电性连接线路裸板的天线，以检测此天线能否正常运作，从而确保线路裸板的品质。
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公开(公告)号：CN118655534A
公开(公告)日：2024-09-17
申请号：CN202410689596.4
申请日：2024-05-30
Applicant: 三亚学院
Inventor： 徐明亮
Abstract: 本发明属于毫米波雷达技术领域，具体为一种毫米波雷达检测装置及其工作方法，包括底座，所述底座的顶面一端固定设有提升设备，所述底座的顶面另一端设置有第一框架，所述提升设备相对第一框架的一侧设置有第二框架，第一框架通过设置于底座的纵向导轨沿着底座的长度方向移动，第二框架通过设置于提升设备的竖直导轨沿着提升设备的高度方向移动，第一框架通过限位滑道设置有主测模块，第二框架安装有被测模块。本发明有效解决毫米波天线模块在量产时的批量检测，提高毫米波天线检测效率、降低了检测时对毫米波天线模块数量的要求、提高毫米波天线检测的准确性和检测性能；可改变主测模块和被测模块位置和间距，获得更加符合使用场景的测量结果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118641845A
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202410747241.6
申请日：2024-06-11
Applicant: 深圳市蔚来射频技术有限公司 , 东莞市蔚来射频技术有限公司
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明公开一种终端天线的检测方法及其检测装置，涉及天线测试技术领域，该终端天线的检测方法，基于终端天线的测试装置，该测试装置包括测试组件、分析组件、主机，包括以下步骤：将终端天线与测试组件连接；测试组件将终端天线的检测信号传输至分析组件得到当前回波损耗曲线；分析组件将当前回波损耗曲线传输至主机，对比当前回波损耗曲线与基准回波损耗曲线，得到当前回波损耗曲线与基准回波损耗曲线的拟合度；根据拟合度高低判断终端天线是否为良品。本发明通过设置能够将待测终端天线与金样件天线的回波损耗曲线作对比，快速检测到终端天线的反射特性与设计反射特性是否相同，避免反复拆装天线，提高检测效率。
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公开(公告)号：CN118625315A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202410812714.6
申请日：2024-06-22
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于SCPI协议的微波成像及综合测量系统，包括：电机驱动模块、无线模块、测量天线、二维扫场平台及转台和上位机软件。本发明通过SCPI协议对测量仪器进行程控，通过所搭建的微波成像及综合测量平台实现一种近场微波扫描成像、雷达散射截面及天线方向图测量的多功能综合测量系统。针对不同的测试环境，该系统提供了有线及无线的测量方案并实现了拓展测量仪器的功能、多种测量系统的高度集成化、降低了微波测量的成本。
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公开(公告)号：CN115219801B
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202210681852.6
申请日：2022-06-15
Applicant: 中国第一汽车股份有限公司
Inventor： 任仰龙
Abstract: 本发明提供一种天线射频测试工装，包括支撑板、弹力导向机构、浮动底座、PCB组件和侧弹滑块机构；所述支撑板的四角设有阶梯限位座；该阶梯限位座较支撑板位置低；所述浮动底座的四角设有与支撑板的阶梯限位座位置匹配的定位座；所述定位座的上端面高出浮动底座上表面位置，所述定位座的下端面低于浮动底座下表面位置；所述弹力导向机构设置在阶梯限位座和定位座内，使得定位座能在阶梯限位座上方弹性往复移动；所述PCB组件固定在支撑板的上表面上；所述侧弹滑块机构的滑动块内置于浮动底座的开放式腔体内，可水平往复运动。本发明天线射频测试工装能够同时满足顶弹测试和侧弹测试的需要。
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公开(公告)号：CN118584205A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410629338.7
申请日：2024-05-21
Applicant: 成都飞机工业(集团)有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种分布式共形天线的快速测量系统及其方法，属于天线测试技术领域，包括暗室，暗室内设置基座和竖直环，竖直环设置在基座上，竖直环包括低频半环和中高频半环，低频半环上设置至少两个低频探头，中高频半环上设有至少一个中频探头和高频探头，竖直环内设有天线定位器子系统，低频探头、中频探头和高频探头均与射频开关相连，射频开关与网络分析仪相连，网络分析仪与工控机相连，工控机与天线定位控制器相连，天线定位控制器与天线定位器子系统相连。本发明有效解决了分布式共形天线快速测量所需探头数或采样率。
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公开(公告)号：CN113945772B
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202111197217.2
申请日：2021-10-14
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
Abstract: 本公开提供了一种基于矢量网络分析仪的快速连续点测量系统及方法，采用分布式系统，所述分布式系统采用多线程模式实现被测件的测试，包括主系统、第一子系统和第二子系统，所述第一子系统和第二子系统采用高速串行交互接口加并行模式进行数据交互得到测量结果，所述主系统用于接收发送指令，根据矢量网络分析仪主机内存大小动态分配数据存储空间将多次扫描测量结果存储后一次性发送。
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