一种全电子执行单元五线制道岔模块测试模拟器

    公开(公告)号:CN118191472A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410358954.3

    申请日:2024-03-27

    Inventor: 李彦林 李东明

    Abstract: 本发明涉及铁路信号系统技术领域,是一种全电子执行单元五线制道岔模块测试模拟器,包括继电器组合控制器、模拟组合按钮控制器、五线制转辙机、全电子执行单元五线制道岔模块和工控机;继电器组合控制器与全电子执行单元五线制道岔模块连接,用于接收全电子执行单元五线制道岔模块发送的命令,继电器组合控制器接通,执行全电子执行单元五线制道岔模块下发的各种命令;本发明设置测试模拟器,通过按钮的弹起和落下来模拟全电子执行单元五线制道岔模块表示外电路的断路、混线、短路、二极管以及道岔挤岔等故障,来测试全电子执行单元五线制道岔模块的功能,测试过程无需反复插拔线路,只需要一名工作人员即可完成所有测试,提高了测试效率。

    一种电感感值测试电路
    62.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118191433A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410446013.5

    申请日:2024-04-15

    Inventor: 郑庆杰

    Abstract: 本发明属于电子电路技术领域,提供了一种电感感值测试电路,包括高压直流电源、低压直流电源、第一开关管、第二开关管、电感、限流电阻、电流测试仪、电压测试仪和续流二极管;高压直流电源的正极与第一开关管的电流输入端连接,负极接地;低压直流电源的正极与第二开关管的电流输入端连接,负极接地;第一开关管的电流输出端、第二开关管的电流输出端与电感的第一端连接;电感、限流电阻、续流二极管串联形成第一回路,在第一开关、第二开关断开后,第一回路用于电流续流,电流测试仪串入第一回路中,用于测试电感的电流;电压测试仪与电感并联,用于测试电感的电压;本发明感感值测试电路,可以平衡脉冲法和直流法的缺陷,可以有效获得不同电流下的电感感值,克服直流法无法或难以做到大电流下测试电感感值,同时又可以避免脉冲法的涡流损耗过大缺陷。

    输入模块测试工装和系统
    64.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118150868A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202410113278.3

    申请日:2024-01-26

    Abstract: 本发明提供一种输入模块测试工装和系统,应用于自动化控制技术领域,该输入模块测试工装包括:主板、以及设置在所述主板上的总开关、至少两个分开关、电源端子和至少两个测试端子;所述电源端子用于连接供电电源,所述测试端子用于连接输入模块的输入端;所述总开关用于控制所述电源端子与所述至少两个测试端子之间总通路的通断;所述分开关用于控制所述电源端子与所述测试端子之间子通路的通断,一个分开关对应一个测试端子。

    一种交流变频器电流检测装置及其方法

    公开(公告)号:CN118130889A

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202410559001.3

    申请日:2024-05-08

    Abstract: 本发明涉及电流检测技术领域,尤其涉及一种交流变频器电流检测装置及其方法,检测装置包括:检测模块,包括霍尔传感器;信号处理模块,用以对所述输出电流的电流特征信息进行分析和显示,包括开关组件、滤波器以及数字示波器;电源,包括与电源;中控处理器,用以根据电流的平均差异量确定滤波器的对应滤波幅度,或,根据所述电流的平均差异量和电源的平均输出电压确定电源的第一供电频率,以及,根据所述电源的平均输出电压和数字示波器的量程的变化量确定开关组件的对应工作方式,以及,根据霍尔传感器的平均温度确定电源的第二供电频率,本发明实现了电流检测的精准性的提高。

    一种ATE芯片的并行温度检测电路
    67.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118089966A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202410123528.1

    申请日:2024-01-29

    Inventor: 方俊杰

    Abstract: 一种ATE芯片的并行温度检测电路,包括检测模块、DAC模块、比较器模块和CPLD控制模块:检测模块用于并行检测N个ATE芯片输出温感模拟电压;DAC模块由CPLD控制模块控制产生一温度告警门限电压;比较器模块用于并行比较N个ATE芯片输出温感模拟电压和温度告警门限电压V_ctrl的电压差,并根据比较结果输出电压跳变信号;CPLD控制模块通过SPI接口控制DAC单元产生温度告警门限电压V_ctrl,同时实时检测N个比较器单元输出的电压跳变信号;其中,如果ATE芯片输出温感模拟电压的温度超过了温度告警门限电压V_ctrl,电压跳变信号为1;如果ATE芯片输出温感模拟电压的温度小于温度告警门限电压,电压跳变信号为零。因此,本发明使用芯片和通道数量较多的场合,极大减小芯片损坏的概率。

    芯片测试装置及芯片
    69.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117849582A

    公开(公告)日:2024-04-09

    申请号:CN202311801885.0

    申请日:2023-12-26

    Abstract: 本申请涉及一种芯片测试装置及芯片,芯片测试装置包括:底座结构,底座结构包括相对的第一表面和第二表面,在第一表面设有用于容纳芯片的槽体,槽体内设有用于和芯片的输出引脚电连接的第一连接部;电路板,设于底座结构的第二表面一侧,且电路板包括和第一连接部连接的第二连接部;输出电抗补偿结构,设于底座结构、电路板中的至少一者上,且输出电抗补偿结构和第一连接部和/或第二连接部连接。通过设置输出电抗补偿结构,且输出电抗补偿结构和第一连接部和/或第二连接部连接,可以降低第一连接部带来的寄生电感引起的变大虚部阻抗,并将芯片输出端至第一连接部之间的微带线的影响消除,提前将阻抗牵引至易于匹配位置。

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