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公开(公告)号：CN119990551A
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202510475272.5
申请日：2025-04-16
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06Q10/063 , G06Q10/0639
Abstract: 本申请涉及一种装备标准化评估方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取待测装备每一阶段的相关数据；阶段包括方案阶段、工程研制阶段和状态鉴定阶段；相关数据是指在对待测装备进行评估过程中需使用的评估指标数据；根据预设的评估指标对相关数据进行量化评级，得到待测装备每一评估指标的评级结果；基于评级结果，对待测装备进行评估。采用本方法能够提高装备评估的准确率。
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公开(公告)号：CN119984303A
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202510040789.1
申请日：2025-01-10
Applicant: 河南工业和信息化职业学院
Abstract: 本申请公开了一种智能处理的方法及系统，用于避免用户错过高速路出口。本申请方法包括：获取实时导航请求，所述实时导航请求包含目的地及车辆的当前定位；根据所述实时导航请求确定并展示行驶路线集合；确定所述行驶路线集合中的目标行驶路线，并确定所述目标行驶路线的高速路段的偏航节点；根据所述偏航节点确定参考变道距离；当所述车辆的当前定位与所述偏航节点的距离为目标数量个参考变道距离时，确定所述车辆目标范围内的车辆密度及当前车道；当所述车辆密度大于预设阈值且所述当前车道不为最右侧车道时，向所述车辆发送提前变道提醒。
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公开(公告)号：CN119949751A
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202510269511.1
申请日：2025-03-07
Applicant: 成都信和信达科技有限公司
Inventor： 胡镐申
Abstract: 本发明属于眼科检查辅助设备技术领域，尤其是涉及一种用于眼科治疗的检查辅助设备，包括安装箱和透光板，所述透光板安装在安装箱的内部，所述安装箱的后侧内壁固定连接有多颗LED灯珠，所述透光板的前侧壁开设有多个安装槽，多个所述安装槽内均设有视标板，所述安装箱的左侧壁固定连接有PLC控制器，所述透光板的前侧壁设有显示屏。本发明在利用视力表对患者的视力进行辅助检查时，可以自动指引视力表上对应的视标，对患者的视力进行测试，并且通过显示屏将患者的视力展示出来，不需要医护人员长时间维持站立服务，在降低医护人员工作量的同时，也避免了因为疲劳导致检查误差，影响检查结果准确性和可靠性的问题。
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公开(公告)号：CN119378245B
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202411488766.9
申请日：2024-10-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G01M13/00 , G06F30/17 , G06F17/18 , G06F119/02 , G06F119/08 , G06F119/04 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种机械部件可靠性数字孪生体模型构建方法和计算机设备，所述方法按照基于失效机理模型的机械部件数字孪生体模型、基于经验模型的机械部件数字孪生体模型、基于仿真模型的机械部件数字孪生体模型、基于结构功能函数的机械部件数字孪生体模型、基于数据模型的机械部件数字孪生体模型的优先级顺序，依次构建机械部件的可靠性数字孪生体模型，从而能够构建完整的机械部件可靠性数字孪生体模型，实现机械部件失效率、可靠度、寿命、剩余寿命等可靠性指标的模拟、监测、诊断、预测与控制，用数字化手段实现对机械部件的可靠性设计分析、试验评估及诊断预测，大幅缩短产品迭代升级周期，大幅压缩机械部件研发和使用成本。
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公开(公告)号：CN119249104B
公开(公告)日：2025-05-06
申请号：CN202411758953.4
申请日：2024-12-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F18/20
Abstract: 本申请涉及一种元器件工艺性能评估方法、装置、计算机设备和可读存储介质。方法包括：获取元器件的初始工艺性能测试指标，确定初始工艺性能测试指标与元器件工艺性能的关联度，并基于关联度，从初始工艺性能测试指标中筛选工艺性能测试指标，根据工艺性能测试指标，对元器件进行性能评估，得到工艺性能测试结果，确定工艺性能测试指标的指标权重系数，并根据指标权重系数、工艺性能测试结果以及工艺性能测试结果，生成元器件的工艺性能评估结果。采用本方法能够准确进行元器件工艺性能评估。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114923752B
公开(公告)日：2025-05-06
申请号：CN202210538669.0
申请日：2022-05-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N1/28 , G01N1/34 , G01N1/40 , G01N21/3563 , G01N23/2005 , G01N23/207 , G01N23/2202 , G01N23/2251
Abstract: 本发明公开了一种有机硅胶粘剂填料的鉴别方法，属于填料鉴别技术领域。该方法包括以下步骤：将待鉴别的有机硅胶粘剂填料进行纯化；将部分纯化后的有机硅胶粘剂填料附着于导电胶表面，得到A样；将剩余部分纯化后的有机硅胶粘剂填料在制成A样后进行固封，制作暴露出填料颗粒截面的金相切片，得到B样；分别A样和B样中的填料成分进行分析鉴定。该方法能够有效规避有机硅成分对鉴别效果的干扰，实现从表面和截面两个维度对填料进行鉴别，得到尺寸、形貌、结构、元素分布及物相组成等多种用于鉴别填料的信息，快速获得准确的鉴别结果。
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公开(公告)号：CN119918067A
公开(公告)日：2025-05-02
申请号：CN202510422316.8
申请日：2025-04-07
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F21/57 , G06F18/213 , G06F18/25 , G06F18/2415 , G06N3/0442 , G06N3/045
Abstract: 本发明公开了一种用于开源软件的安全诊断评估方法及系统，涉及安全诊断技术领域；对代码属性图进行依赖提取后构建代码关系树；通过上下文切片提取源代码中与漏洞相关的上下文代码得到目标代码片段，对目标代码片段进行特征提取得到第一特征；对源代码中的变量名称和函数名称进行匿名化处理后，通过Word2Vec对匿名化后的代码序列进行词嵌入，并使用双向门控循环单元模型提取目标代码片段的句法信息得到第二特征；将第一特征和第二特征代入多层感知器模型得到源代码的漏洞存在概率，通过全面捕捉代码之间的依赖关系，之后再通过上下文切片提取目标代码片段，更准确地识别出潜在的漏洞位置和类型提高了安全性，降低了受到供应链攻击的风险。
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公开(公告)号：CN119892225A
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202510320629.2
申请日：2025-03-18
IPC: H04B10/079 , H04L69/22 , H04B10/25
Abstract: 本发明公开了一种光口以太网数据包发送速率校准装置及方法，所述装置包括光纤接口、光模块、第一晶振、FPGA、射频接口和控制单元；光纤接口从数据网络性能测试仪接收光口以太网数据包；光模块将光信号的光口数据转换为电信号；第一晶振为FPGA提供参考时钟；FPGA中的以太网数据解析模块在解析到正确的以太网数据包帧头信息时，产生同步的帧头触发脉冲信号；射频接口向外部测试仪器输出帧头触发脉冲信号；控制单元将外部测试仪器测量的帧头触发脉冲的频率与所设置的数据包发送速率进行比较，计算出数据网络性能测试仪的数据包发送速率的误差。本发明能够实现光口以太网数据包发送速率的校准，可以用于数据网络性能测试仪的数据包发送速率性能参数的校准。
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公开(公告)号：CN119865043A
公开(公告)日：2025-04-22
申请号：CN202411930296.7
申请日：2024-12-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种基于反步控制法的二阶低通滤波系统电压控制方法，包括：设置电感‑电容二阶低通滤波系统的期望电压曲线；对电感‑电容二阶低通滤波系统输入输出信号之间的关系进行建模，得到电感‑电容二阶低通滤波系统信号的严格反馈形式；测量电感‑电容二阶低通滤波系统的输出，得到系统的误差，选择李雅普诺夫函数；设计虚拟控制器，定义虚拟误差，选择复合型李雅普诺夫函数；根据复合型李雅普诺夫函数的导数和虚拟控制器设计实际控制器。本发明能够对二阶低通滤波系统的输出电压进行稳定和精确的控制。
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公开(公告)号：CN119830816A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202510308756.0
申请日：2025-03-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/30 , G06F17/16 , G06F119/02 , G06F119/04 , G06F119/14 , G06F119/16
Abstract: 本申请涉及汽车芯片技术领域，公开了一种基于多失效机理竞争失效的汽车芯片可靠性评估方法，该方法包括开展单失效机理评估试验得到加速因子及失效率、构建加速因子矩阵和失效率矩阵计算占比系数矩阵、构建多机理竞争失效矩阵计算综合失效率及平均寿命时间以评估其可靠性。本申请，实现了全面考虑多种失效机理的竞争关系，通过科学合理的试验和计算方法，能够准确评估汽车芯片在复杂应力环境下的综合失效率和平均寿命时间，有效克服了传统单独评估各失效机理的局限性，为汽车芯片可靠性评估提供了更精准、更符合实际工况的评估手段，满足汽车行业对芯片可靠性评估的严苛要求，提升了汽车芯片在设计、生产及应用环节的可靠性保障水平。
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