一种基于SAM的变电设备缺陷半自动化标注方法

    公开(公告)号:CN117095394A

    公开(公告)日:2023-11-21

    申请号:CN202311091504.4

    申请日:2023-08-28

    Abstract: 本发明公开了一种基于SAM的变电设备缺陷半自动化标注方法,应用于半自动化标注技术领域。本发明包括:从变电设施及工作现场采集缺陷图像数据,并对数据进行数据清洗;基于SAM建立半自动标注模型;对缺陷图像数据进行人工标注,并使用人工标注的缺陷图像数据对模型进行初步训练;将未经人工标注的缺陷图像数据送入模型,获取半自动标注模型的标注结果;对半自动标注模型的标注结果进行人工校正;根据人工校正结果对半自动标注模型进行微调;半自动标注模型对剩余缺陷图像数据进行自动标注。本发明为变电缺陷数据提供了一个半自动化标注技术,解决了海量数据标注困难的问题,提升变电巡检效率。

    一种低频变压器阻抗测试装置
    77.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116840561A

    公开(公告)日:2023-10-03

    申请号:CN202310766408.9

    申请日:2023-06-27

    Abstract: 本发明属于变压器阻抗测试技术领域,具体涉及一种低频变压器阻抗测试装置。针对现有工频阻抗测试装置无法应用于低频场景下或在低频场景下测量不准的不足,本发明采用如下技术方案:一种低频变压器阻抗测试装置,包括:低频电源发生模块,包括单相整流电路、低频电源控制器、功率模块驱动器、PIM功率模块和LC滤波器;低频信号采集模块,包括电压互感器、电流互感器、增益控制电路、有源滤波电路和AD转换控制器;人机交互模块;中央处理器,分别与所述低频电源发生模块、所述低频信号采集模块和所述人机交互模块相连。本发明的低频变压器阻抗测试装置的有益效果是:可以准确地实现低频变压器的短路阻抗测试。

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