一种线聚焦差动彩色共焦三维表面形貌测量系统及方法

    公开(公告)号:CN111220090B

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:CN202010220510.5

    申请日:2020-03-25

    Abstract: 本发明涉及一种线聚焦差动彩色共焦三维表面形貌测量方法,将不同波长的光聚焦于被测物表面,通过两个光谱相机接收被测物表面的反射光,得到两个同视场下沿狭窄照明线方向即X方向上每一点Xn光谱响应强度随高度Z变化的曲线;然后基于彩色共焦理论与差动三维检测原理融合得到被测物点在光轴方向高度Z,综合光轴方向高度Z与垂直光轴方向二维坐标信息重构被测物表面的三维形貌。本发明仅需一次成像即可完成对被测量物被照线区域内的高度信息提取,高度信息通过任意两光谱探测器光强差异计算获得,保证其超精密纳米精度测量;实现透明样品膜厚测量及普通样品三维形貌测量。

    一种多波段光谱的深度估计方法

    公开(公告)号:CN115115689B

    公开(公告)日:2024-07-26

    申请号:CN202210640198.4

    申请日:2022-06-08

    Abstract: 本发明提供了一种多波段光谱的深度估计方法,包括如下步骤:步骤1:用相机拍摄不同波段的原始图像;步骤2:以单一波段原始图为输入,以h(x,y)为卷积核,根据图像卷积公式,得到卷积后的模糊图像;步骤3:分别计算原始图像和模糊图像的边缘,根据得到边缘区域计算原始边缘梯度和模糊边缘梯度;步骤4:将原始图像边缘除以模糊边缘梯度,得原始图像和边缘图像的模糊比值;步骤5:根据所得模糊比值计算稀疏深度;重复上述2‑5的步骤,并结合每个波段的聚焦位置,实现图像中的真实结构位置约束。

    一种基于空间光调制的纳米精度荧光成像装置和方法

    公开(公告)号:CN115015200A

    公开(公告)日:2022-09-06

    申请号:CN202210662325.0

    申请日:2022-06-13

    Abstract: 本发明提供一种基于空间光调制的纳米精度荧光成像装置,其特征在于,所述基于空间光调制的纳米精度荧光成像装置包括激发模块、激活模块、成像模块,其中激发模块、激活模块含有单个微元可调的空间光调制器,激发模块整形出射的激发光线与激活模块整形出射的激活光线合并,得到合并光线,合并光线经放大后以纳米尺寸照射到样品上并通过成像模块进行成像;本发明提供的装置实现无机械运动、无激光扫描的新型激光光斑调制,能够分辨单个荧光分子或者亚细胞精细结构,大幅降低了荧光成像装置的复杂度,提高了定位和成像效率。

    一种单目单帧多光谱三维成像方法

    公开(公告)号:CN110942480A

    公开(公告)日:2020-03-31

    申请号:CN201911134676.9

    申请日:2019-11-19

    Abstract: 本发明一种单目单帧多光谱三维成像方法,包括:第一步图像获取,利用所述快照式多光谱摄像装置,进行一次曝光零时差采集N幅(N≥3)光谱图像;第二步图像梯度计算:图像处理分析装置计算所述N≥3幅光谱图像梯度;第三步图像边缘提取:图像处理分析装置根据梯度图像分析提取图像边缘,保留图像边缘处图像梯度;第四步图像边缘梯度:对于全部N幅光谱图像,获取N幅光谱图像边缘梯度图;第五步深度探测:根据所述图像边缘梯度,获取图像边缘处所对应位置的纵向Z信息,完成XYZ立体视觉。该方法克服双目立体视觉运算量大及激光3D视觉系统价格昂贵等缺点,在先进制造、智能机器人移动、无人驾驶汽车导航与避障等具有广泛应用价值。

    多光谱微观三维形貌检测装置及方法

    公开(公告)号:CN110726380A

    公开(公告)日:2020-01-24

    申请号:CN201911151138.0

    申请日:2019-11-21

    Abstract: 本发明涉及一种多光谱微观三维形貌检测装置及方法,该装置包括:复色光照明模块、纵向色散增强型光学成像模块,所述复色光照明模块按照光路传播方向依次设置有:复色光源、聚光镜、均匀准直光透镜组、半反半透分光镜、带纵向色散的物镜;所述纵向色散增强型光学成像模块按照光路传播方向依次设置有:纵向高度可调节样品台、带纵向色散的物镜、半反半透分光镜、带纵向色散的管镜、多光谱图像传感器、图像显示与分析模块。该方法能实现在无机械运动情况下,一次成像即可获取高横向分辨率、亚微米量级高纵向测量精度、毫米量级大纵向测量范围的微观三维形貌检测,兼具高测量效率和高测量精度。

    一种3D形貌检测系统及方法

    公开(公告)号:CN108426538B

    公开(公告)日:2019-12-31

    申请号:CN201810164038.0

    申请日:2018-02-27

    Abstract: 本发明公开了一种3D形貌检测系统及方法,系统包括自动载物台、带有纵向色差的光学显微成像系统、一个通道数N≥4的窄带多光谱图像传感器、控制单元及图像分析单元;所述载物台与所述控制单元电相连,所述图像分析单元与所述多光谱图像传感器和控制单元分别电相连,所述光学显微成像系统与所述多光谱图像传感器机械相连。本发明可以一次曝光获得物体表面XY空间位置自然校准而聚焦清晰度不同的多幅窄带光谱图像,使用配套的如散焦模糊度算法及配套的自动聚焦方法,可以全自动的获得物体表面3D形貌,即任意空间位置XY的深度Z信息;本发明对于先进制造刀具、精密样品或者部件表面形貌快速在线检测具有广泛应用价值。

    一种磁控线圈检测设备的线圈传输机构

    公开(公告)号:CN107289995A

    公开(公告)日:2017-10-24

    申请号:CN201610239461.3

    申请日:2016-04-11

    Inventor: 孔令华 易定容

    CPC classification number: G01D21/02

    Abstract: 本发明公开了一种磁控线圈检测设备的线圈传输机构,包含条形玻璃,直线丝杆,条形玻璃和直线丝杆支架,马达,马达支架,软胶联轴器。条形玻璃与直线丝杆固定在支架上,条形玻璃的长度与直线丝杆的长度相同,直线丝杆的螺距与磁控线圈的螺距相同,磁控线圈下表面与丝杆螺纹贴合的部分相互咬合,马达通过软胶联轴器驱动直线丝杆转动,带动磁控线圈有序的直线向前方向传送,同时使线圈360°旋转。该结构设计能够实现检测线上磁控线圈的前行和旋转功能,具有结构简单、低造价、节约人工成本,提高生产效率,便于批量磁控线圈的传输检测。本发明不仅适用于磁控线圈的传输机构,而且适用于微型、中小型弹簧的传输机构。

    一种物料盘分离机构及其分离方法

    公开(公告)号:CN105836476A

    公开(公告)日:2016-08-10

    申请号:CN201610351942.3

    申请日:2016-05-25

    Inventor: 易定容 孔令华

    CPC classification number: B65G57/04

    Abstract: 本发明公开了物料盘分离机构及其分离方法,该机构包括机架1、物料盘摞14、卡具机构、第二滑座、第三滑座和负压吸附机构。物料盘摞包括至少一个沿第一方向叠放的物料盘;卡具机构包括一沿第一方向移动连接在机架上的第一滑座和一能伸缩连接在第一滑座上的卡针,通过卡针伸缩控制卡针插入某一物料盘侧壁或远离物料盘;第二滑座能沿第二方向移动连接在机架上;第三滑座能沿第三方向移动连接在第二滑座上;负压吸附机构包括一负压提供部分和一能连通负压提供部分的负压吸附端,该负压吸附端能沿第一方向相对第三滑座运动,通过第二滑座、第三滑座和负压吸附端的移动控制负压吸附端吸附物料盘摞上的一物料盘并将该物料盘置放于预定位置。

    一种多波段光谱的深度估计方法

    公开(公告)号:CN115115689A

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202210640198.4

    申请日:2022-06-08

    Abstract: 本发明提供了一种多波段光谱的深度估计方法,包括如下步骤:步骤1:用相机拍摄不同波段的原始图像P0(x,y)、P1(x,y)、···、Pi(x,y),其中i表示不同波段;步骤2:以单一波段原始图为输入,以h(x,y)为卷积核,根据图像卷积公式P'(x,y)=P(x,y)*h(x,y),得到卷积后的模糊图像P'(x,y);步骤3:分别计算原始图像P(x,y)和模糊图像P'(x,y)的边缘,根据得到边缘区域计算原始边缘梯度PE_G(x,y)和模糊边缘梯度P'E_G(x,y);步骤4:将原始图像边缘PE_G(x,y)除以模糊边缘梯度P'E_G(x,y),得原始图像和边缘图像的模糊比值σ(x,y);步骤5:根据所得模糊比值σ(x,y)根据透镜成像公式计算稀疏深度;步骤6:对后续的波段原始图像分别再重复上述2‑5的步骤,并结合每个波段的聚焦位置,实现图像中的真实结构位置约束。

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