半导体器件
    1.
    发明公开
    半导体器件 审中-实审

    公开(公告)号:CN113838861A

    公开(公告)日:2021-12-24

    申请号:CN202110690187.2

    申请日:2021-06-22

    Abstract: 一种半导体器件包括:外围电路区域,包括第一基板和在第一基板上的电路器件;存储单元区域,包括在第一基板上的第二基板、在第二基板上的水平导电层、在垂直于第二基板的上表面的第一方向上堆叠在水平导电层上并彼此间隔开的栅电极、以及在第一方向上在栅电极中延伸的沟道结构,每个沟道结构包括与水平导电层物理接触的沟道层;以及贯通布线区域,包括在第一方向上延伸并将存储单元区域电连接到外围电路区域的贯通接触插塞、邻接贯通接触插塞的绝缘区域、以及在第一方向上部分地延伸到绝缘区域中的虚设沟道结构。

    三维半导体存储器装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109148462A

    公开(公告)日:2019-01-04

    申请号:CN201810677598.6

    申请日:2018-06-27

    Abstract: 公开了一种三维半导体存储器装置,其包括在衬底上在第一方向上排列的第一沟道组至第三沟道组。第一沟道组至第三沟道组在衬底上沿着第二方向彼此间隔开。第一沟道组至第三沟道组中的每一个包括在垂直于衬底的顶表面的第三方向上延伸的多个竖直沟道。第一沟道组和第二沟道组在第二方向上彼此邻近并且在第二方向上以第一距离间隔开。第二沟道组和第三沟道组在第二方向上彼此邻近并且以小于第一距离的第二距离间隔开。

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