公开(公告)号：CN102096647A

公开(公告)日：2011-06-15

申请号：CN201010569572.3

申请日：2010-11-24

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 赵根秀 ,  李东阳

IPC: G06F13/16 ,  G11C16/02

CPC classification number: G06F13/1668 ,  G06F13/28

Abstract: 多芯片存储器系统包括：源和目标存储器；存储器控制器，配置用于控制所述源和目标存储器装置的操作；以及数据总线，配置用于所述存储器控制器、源和目标存储器的数据传送。所述存储器控制器控制所述源存储器执行读取操作以向数据总线输出数据。同时，所述存储器控制器控制所述目标存储器存储来自所述数据总线的数据。

公开(公告)号：CN102096647B

公开(公告)日：2016-03-16

申请号：CN201010569572.3

申请日：2010-11-24

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 赵根秀 ,  李东阳

IPC: G06F13/16 ,  G11C16/02

CPC classification number: G06F13/1668 ,  G06F13/28

Abstract: 多芯片存储器系统包括：源和目标存储器；存储器控制器，配置用于控制所述源和目标存储器装置的操作；以及数据总线，配置用于所述存储器控制器、源和目标存储器的数据传送。所述存储器控制器控制所述源存储器执行读取操作以向数据总线输出数据。同时，所述存储器控制器控制所述目标存储器存储来自所述数据总线的数据。

公开(公告)号：CN101145401A

公开(公告)日：2008-03-19

申请号：CN200710154238.X

申请日：2007-09-11

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 河桂元 ,  金东俊 ,  朴镇秀 ,  赵根秀

IPC: G11C29/14

CPC classification number: G11C7/1045 ,  G11C7/1051 ,  G11C7/1063 ,  G11C29/02 ,  G11C29/022

Abstract: 公开了半导体存储器件、具有半导体存储器件的存储系统和测试存储系统的方法。本发明的实施例包括半导体存储器件中的特征，其被配置为从存储器控制器接收命令信号并将至少部分所接收的命令信号选择性地输出回给所述存储器控制器以用于验证。本发明的实施例还提供用于验证命令信号从存储器控制器到半导体存储器件的正确通信的方法。本发明的实施例还提供用于测试半导体存储器件中的存储器单元的系统和方法。