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公开(公告)号:CN101335302A
公开(公告)日:2008-12-31
申请号:CN200810131753.0
申请日:2008-06-27
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L29/36 , H01L21/336 , H01L27/32 , H01L21/82
CPC classification number: H01L27/12 , H01L21/02488 , H01L21/02532 , H01L21/02672 , H01L27/1277
Abstract: 本发明提供薄膜晶体管和有机发光二极管显示器以及它们的制造方法。该薄膜晶体管包括:基板;半导体层,设置在所述基板上,包括沟道区以及源和漏区,且利用金属催化剂被结晶;栅电极,设置得对应于所述半导体层的预定区域;栅绝缘层,设置在所述栅电极和所述半导体层之间以使所述半导体层与所述栅电极绝缘;以及源和漏电极,分别电连接到所述半导体层的所述源和漏区。在所述半导体层的所述沟道区中,在垂直方向上距所述半导体层的表面150以内的所述金属催化剂形成得具有超过0且不超过6.5×1017原子每cm3的浓度。所述有机发光二极管显示器包括该薄膜晶体管。
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公开(公告)号:CN101330004A
公开(公告)日:2008-12-24
申请号:CN200810128532.8
申请日:2008-06-19
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L21/20 , H01L29/786 , H01L21/336 , H01L27/32
CPC classification number: H01L29/4908 , H01L21/02488 , H01L21/02532 , H01L21/02672 , H01L21/02694 , H01L27/1277 , H01L29/78654
Abstract: 本发明提供制造多晶硅(poly-Si)层的方法,包括:提供基板,在该基板上形成非晶硅(a-Si)层,在该非晶硅层上形成厚度约为10至50的热氧化层,以及将该基板退火以采用金属催化剂层的金属催化剂将非晶硅层晶化为多晶硅层。因此,该非晶硅层可以通过超晶粒硅(SGS)晶化方法晶化为多晶硅层。而且,该热氧化层可以在非晶硅层的脱氢期间形成,从而可以省略SGS晶化方法所需的形成盖层的附加工艺,由此简化了制造工艺。本发明还涉及薄膜晶体管、其制造方法以及有机发光二极管显示装置。
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公开(公告)号:CN101211985A
公开(公告)日:2008-07-02
申请号:CN200710306610.4
申请日:2007-12-28
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L21/336 , H01L27/32
CPC classification number: H01L21/02532 , H01L21/02672 , H01L27/1277 , H01L27/1281
Abstract: 本发明提供了一种通过减少留在半导体层中的晶化诱导金属的量而能够改进电学特性和漏电流特性的薄膜晶体管及其制造方法和包括该薄膜晶体管的有机发光二极管显示装置。本发明的薄膜晶体管的制造方法包括以下步骤:在基底上形成第一非晶硅层;通过利用晶化诱导金属使第一非晶硅层晶化为第一多晶硅层;在第一多晶硅层上形成第二非晶硅层;向第二非晶硅层中注入杂质;将第一多晶硅层和第二非晶硅层退火。第一多晶硅层中的晶化诱导金属被转移到第二非晶硅层中,第二非晶硅层被晶化为第二多晶硅层。
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公开(公告)号:CN1983570A
公开(公告)日:2007-06-20
申请号:CN200610166981.2
申请日:2006-12-13
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L23/00 , H01L29/786 , H01L27/32 , H01L21/20 , H01L21/336 , H01L21/84 , C30B29/06
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02532 , H01L27/1277
Abstract: 提供了一种多晶硅层、采用所述多晶硅层的平板显示器和制造所述多晶硅层的方法。在基板上形成非晶硅层。在非晶硅层上形成第一图案层、第二图案层和金属催化剂层。形成第一图案层和第二图案层以界定一个至少400μm2的区域,金属催化剂层的金属催化剂在所述区域内扩散到非晶硅层内。通过扩散的金属催化剂使晶种区结晶。在结晶区从晶种区生长之后,在结晶区上形成半导体层,从而制造具有良好特性的薄膜晶体管。采用其制造平板显示器。
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公开(公告)号:CN1738011A
公开(公告)日:2006-02-22
申请号:CN200410075870.1
申请日:2004-12-31
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L21/336 , H01L29/786
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02532 , H01L21/02678 , H01L21/2026 , H01L27/1277 , H01L27/1296 , H01L29/66757
Abstract: 本发明提供一种制造薄膜晶体管的方法,包括在衬底上形成非晶硅层的步骤,在非晶硅层上形成帽盖层的步骤,在帽盖层上形成金属催化剂层的步骤,在金属催化剂层上经选择性辐照激光束扩散金属催化剂的步骤,晶化非晶硅层的步骤。本发明具有如下优点:提供了一种制造薄膜晶体管的方法,其中该薄膜晶体管的制造方法通过利用选择性辐照激光束均匀控制低浓度催化剂的扩散以及利用超晶粒硅(super grain silicon)方法在非晶硅层晶化过程中控制晶粒尺寸和晶体生长位置和方向,从而改进了器件的性能并获得了器件的均匀性。
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公开(公告)号:CN1725512A
公开(公告)日:2006-01-25
申请号:CN200510082116.5
申请日:2005-06-29
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L27/02 , H01L21/00 , H01L21/336 , G02F1/136 , G09G3/38
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02422 , H01L21/02532 , H01L21/2022 , H01L27/1255 , H01L27/1277
Abstract: 一种半导体器件中的薄膜晶体管的半导体层和电容器的第一电极是由非晶硅形成的,而且半导体层的源/漏极区的整个部分或一部分和电容器的第一电极是通过金属诱导晶化方法晶化的,半导体层的沟道区是通过金属诱导横向晶化方法晶化的。
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公开(公告)号:CN100401531C
公开(公告)日:2008-07-09
申请号:CN200410099717.2
申请日:2004-12-31
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L21/336 , H01L21/20 , H01L21/00
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02532 , H01L21/2022 , H01L29/66757
Abstract: 本发明提供了一种薄膜晶体管和其制造方法。薄膜晶体管包括:形成在衬底上的金属催化剂层,和依次形成在金属催化剂层上的第一帽盖层和第二帽盖层图案。方法包括:在金属催化剂层上形成第一帽盖层,在第一帽盖层上形成并构图第二帽盖层,在已构图的第二帽盖层上形成非晶硅层,扩散金属催化剂,以及结晶非晶硅层形成多晶硅层。以均匀的低浓度扩散结晶催化剂以控制催化剂形成的籽晶的位置,以使得在多晶硅层中的沟道区接近于单晶。因此,薄膜晶体管器件的特性可以得到提高并变得均匀。
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公开(公告)号:CN101165881A
公开(公告)日:2008-04-23
申请号:CN200710106343.6
申请日:2007-05-17
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L21/84 , H01L21/336
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02488 , H01L21/02532 , H01L21/3226 , H01L27/1277 , H01L27/1288
Abstract: 一种制造CMOS薄膜晶体管的方法,包括:提供衬底;在衬底上形成无定形硅层;在衬底上执行第一退火处理以及使无定形硅层结晶成多晶硅层;形成多晶硅层的图案以形成第一和第二半导体层;把第一杂质植入第一和第二半导体层;把第二杂质植入第一或第二半导体层;以及在半导体层上执行第二退火处理以除去残留在植入有第二杂质的第一或第二半导体层中的金属催化剂,其中按6×1013/cm2到5×1015/cm2的剂量植入第一杂质,并且按1×1011/cm2到3×1015/cm2的剂量植入第二杂质。
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公开(公告)号:CN1713397A
公开(公告)日:2005-12-28
申请号:CN200410075887.7
申请日:2004-12-31
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L21/336
CPC classification number: H01L27/1296 , H01L21/02422 , H01L21/02532 , H01L21/02672 , H01L27/1277 , H01L29/66757 , H01L29/78675
Abstract: 提供一种薄膜晶体管及其制造方法。在薄膜晶体管中,在半导体层图案而不是在结区中存在晶种或晶粒边界。该法包括形成半导体层图案。该形成的半导体层图案,包括:在非晶硅层上形成和图案化第一覆盖层;在第一覆盖层图案上形成第二覆盖层;在第二覆盖层上形成金属催化剂层;扩散金属催化剂;以及结晶非晶硅层以形成多晶硅层。因此,可以阻止在结区中产生阱,从而获得改善的和均匀特性的器件。
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公开(公告)号:CN101373792A
公开(公告)日:2009-02-25
申请号:CN200810212607.0
申请日:2008-08-21
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L29/417 , H01L29/43 , H01L29/49 , H01L21/336 , H01L27/32 , H01L21/82
CPC classification number: H01L29/66765 , H01L21/02532 , H01L21/02672 , H01L27/1277 , H01L29/458 , H01L29/4908 , H01L29/66757
Abstract: 本发明提供了一种薄膜晶体管(TFT)、一种具有该TFT的有机发光二极管显示装置及其制造方法。该TFT包括:基底;半导体层,设置在基底上并包括沟道区、源区和漏区;栅电极,设置在与半导体层的沟道区对应的位置处;栅极绝缘层,置于栅电极和半导体层之间,以使半导体层与栅电极电绝缘;金属结构,由金属层、金属硅化物层、或者金属层和金属硅化物层的双层组成,所述金属结构与栅电极分隔开,并在半导体层的上方或下方设置在与半导体层的除了沟道区的区域对应的位置处,所述金属结构由与栅电极的材料相同的材料形成;源电极和漏电极,电连接到半导体层的源区和漏区。
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