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发明公开
一种阻尼性能的微观测试方法无效

公开(公告)号：CN112798633A

公开(公告)日：2021-05-14

申请号：CN202011625294.9

申请日：2020-12-30

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 郭强 , 杨淦婷 , 陆安粮 , 刘煜 , 韩一帆 , 赵蕾

IPC: G01N23/2251 , G01N23/2202

Abstract: 本发明提供了一种阻尼性能的微观测试方法，该方法具体步骤包括：A、将待测材料加工成微纳柱体；B、将微纳柱体进行单轴压缩实验，得到应力‑应变曲线；C、以应力‑应变曲线上弹性变形阶段的应力作为最大载荷，对微纳柱体进行等应力幅度的周期性单向压缩实验，得到工程应力‑时间曲线和工程应变‑时间曲线；D、通过统计步骤C中工程应力‑时间曲线和工程应变‑时间曲线中应变波滞后于应力波的时间，然后计算得到待测材料的阻尼系数。本发明提供了一种可以在微米尺度对材料阻尼性能进行测试的方法，能够准确测量材料的阻尼性能，检测分析精度高，适用性广泛。

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