-
公开(公告)号：CN115774298A
公开(公告)日：2023-03-10
申请号：CN202211554911.X
申请日：2022-12-06
Applicant: 中兴光电子技术有限公司
Abstract: 本申请公开了一种光纤阵列、光器件、耦合测试方法及装置、存储介质，其中的光纤阵列包括至少两条单模光纤，至少两条单模光纤的模场直径不完全相同。由于光纤阵列包括至少两条单模光纤，并且至少两条单模光纤的模场直径不完全相同，因此可以根据实际应用场景而组合不同模场直径或相同模场直径的单模光纤，以适应于不同模斑尺寸的模斑转换器的耦合测试，也就是说，在整个耦合测试的过程无需更换光纤阵列即可满足测试需求，既能够保证测试环境的一致性，避免因光纤阵列改变而导致的环境变化影响到测试性能，以便于提高测试精度，也省去了再次调节光纤阵列角度、位置等操作流程，能够提高测试效率。
Search Results
1
records
(took 0.027 seconds)
筛选
AND
AND
过滤
NOT
NOT
Scan to Join
