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公开(公告)号:CN102032872A
公开(公告)日:2011-04-27
申请号:CN201010530416.6
申请日:2010-11-03
Applicant: 中南大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于阴影法的高密度BGA焊料球高度测量系统及方法,该方法为:步骤1:开启SIP模块正上方的环形光源,从SIP模块上的正上方获取SIP模块上的BGA焊料球的无阴影图像,从所述的无阴影图像中获得BGA焊料球的半径R和焊料球中心点;步骤2:关闭环形电源,开启SIP模块侧上方的点光源,从SIP模块上的正上方获取SIP模块上的BGA焊料球的带阴影图像,从所述的带阴影图像中获得BGA焊料球中心点到阴影顶点的距离L;步骤3:通过几何关系计算焊料球高度H。该测量方法和系统易于实施,检测精度高,检测速度快。
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公开(公告)号:CN102032872B
公开(公告)日:2012-07-11
申请号:CN201010530416.6
申请日:2010-11-03
Applicant: 中南大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于阴影法的高密度BGA焊料球高度测量系统及方法,该方法为:步骤1:开启SIP模块正上方的环形光源,从SIP模块上的正上方获取SIP模块上的BGA焊料球的无阴影图像,从所述的无阴影图像中获得BGA焊料球的半径R和焊料球中心点;步骤2:关闭环形电源,开启SIP模块侧上方的点光源,从SIP模块上的正上方获取SIP模块上的BGA焊料球的带阴影图像,从所述的带阴影图像中获得BGA焊料球中心点到阴影顶点的距离L;步骤3:通过几何关系计算焊料球高度H。该测量方法和系统易于实施,检测精度高,检测速度快。
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