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发明公开
一种微弱二进制相移键控信号盲检测的方法及装置无效

公开(公告)号：CN111464268A

公开(公告)日：2020-07-28

申请号：CN202010556788.X

申请日：2020-06-18

Applicant: 中国人民解放军国防科技大学

Inventor： 吴彦华 , 陈慧贤 , 马庆力 , 朱然刚 , 王红军 , 李建强 , 柏诗玉

IPC: H04L1/00 , H04L27/22

Abstract: 本发明提供一种微弱二进制相移键控信号盲检测的方法及装置，所述方法包括：确定用于微弱二进制相移键控信号盲检测的信号频段范围；确定子通道个数n，为每个子通道配置一个与该子通道对应的Duffing系统；将待盲检测的信号输入每个子通道，通过各子通道的滤波器，将待盲检测的信号分解为待盲检测的子频段信号；对各子通道对应的Duffing系统的输出进行S变换，获得各子通道Duffing系统的输出包络；检测各子通道对应的Duffing系统的输出是否存在间歇性混沌状态，以判断是否存在微弱二进制相移键控制信号。根据本发明的方案，降低了微弱二进制相移键控信号的盲检测难度。

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