一种在近场具有扁平带状波束的毫米波天线

    公开(公告)号:CN104319489B

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201410605282.8

    申请日:2014-11-03

    Abstract: 本发明公开了一种在近场具有扁平带状波束的毫米波天线,包括底座、馈源、副反射面、主反射面,所述馈源和主反射面固定在底座上的一侧,副反射面固定在主反射面的对立方向上的底座另一侧;所述主反射面的外轮廓形状为矩形,主反射面的面型为曲面;所述副反射面的面型为准圆形轮廓,面型表面型为准抛物面;与传统的天线相比,本发明具有特殊的面型结构,可以在口面处产生特殊的电场幅度和相位分布,进而在近场给定区域内产生扁平的带状波束,可以广泛应用于大功率毫米波无线能量传输、毫米波短程通讯、毫米波成像和毫米波等离子体加热等领域。

    一种具有近场均匀波束的毫米波双反射面天线

    公开(公告)号:CN103730735B

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201410003859.8

    申请日:2014-01-06

    Abstract: 本发明公开了一种具有近场均匀波束的毫米波双反射面天线,包括基座、主反射面、副反射面和波纹喇叭馈源,所述波纹喇叭馈源固定在基座上,在波纹喇叭馈源的前方固定副反射面,在波纹喇叭馈源的后方固定主反射面;其特征为所述主反射面的中心区域为近似聚焦的椭球面型,主反射面靠近外边缘区域为环状凸凹组成的波纹起伏面型;通过改进双反射面天线的主反射面面型,从馈源喇叭辐射出的毫米波波束经过副反射面和主反射面两次反射后,形成所述的特殊口面相位分布,在近场1.2m~4.0m的距离范围内产生了功率密度和波束半径都十分均匀的笔状波束,抖动小于10%,可广泛应用于毫米波近程通信、毫米波成像和毫米波功率无线传输等领域。

    一种毫米波波束功率密度分布测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN113340417A

    公开(公告)日:2021-09-03

    申请号:CN202110448286.X

    申请日:2021-04-25

    Inventor: 屈劲 余川 卢朝政

    Abstract: 本发明公开了一种一种毫米波波束功率密度分布测量装置,包括定位机构,其包括导轨、测试屏和具有内框的框架,所述框架与导轨滑动连接,框架上设置定标孔,测试屏设置于内框上;波源,其位于导轨前方,用于发射通过测试屏中心的毫米波束;红外成像装置,其位于框架后方,用于红外成像;热源,红外成像装置通过热源记录定标孔的位置;数据处理系统,其与红外成像装置连接,对红外成像装置得到的数据进行处理,获得毫米波束在测试屏位置处的功率密度分布。采用本发明的一种毫米波波束功率密度分布测量装置及测量方法,测试速度快,操作简单,通过定标点方式实现功率密度分布的位置校正。

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