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公开(公告)号：CN104608075A
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201510070923.9
申请日：2015-02-11
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: B25B11/00
Abstract: 本发明公开了一种大尺寸钕玻璃片透射波面误差检测夹具，涉及专用夹具技术领域中的大尺寸钕玻璃片透射波面误差检测的夹持装置，其目的在于提供一种大尺寸钕玻璃片透射波面误差检测夹具，使其能够同时实现大尺寸钕玻璃片的安全夹持、摆放角度的调节方便快捷。包括底座，底座两侧连接有行走机构，底座顶面连接有底座转盘，底座转盘顶部连接有支撑架，支撑架可随底座转盘一起绕底座的轴线转动，支撑架顶面从左往右依次设置有工型左滑轨、底部凹形夹块和工型右滑轨，工型左滑轨上设置有可沿工型左滑轨长度方向移动的左支撑臂，左支撑臂上设置有左侧凹形夹块；工型右滑轨上设置有可沿工型右滑轨长度方向移动的右支撑臂，右支撑臂上设置有右侧凹形夹块。
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公开(公告)号：CN105700321A
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201610242313.7
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 郑芳兰 , 周信达 , 杨一 , 陈竹 , 张霖 , 石振东 , 原泉 , 马骅 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 马可 , 任寰 , 李文洪 , 于德强 , 巴荣声 , 郑垠波 , 袁静 , 丁磊 , 陈波 , 杨晓瑜
CPC classification number: G03H1/2202 , G03H1/0866 , G03H2001/0883
Abstract: 本发明公开了一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法，属于光学精密测量技术领域中的数字全息图重建距离的自动化数值判断方法，其目的在于提供一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法。本发明利用重建像强度的方差与重建像强度的平均值的比值对重建像的清晰程度进行判断、分析，并找到清晰的重建强度像及其所对应的数字全息图准确重建距离，该方法可实现对于数字全息图重建距离的自动化数值判断，提高对重建距离的测量精度及测量效率。
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公开(公告)号：CN105700321B
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：CN201610242313.7
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 郑芳兰 , 周信达 , 杨一 , 陈竹 , 张霖 , 石振东 , 原泉 , 马骅 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 马可 , 任寰 , 李文洪 , 于德强 , 巴荣声 , 郑垠波 , 袁静 , 丁磊 , 陈波 , 杨晓瑜
Abstract: 本发明公开了一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法，属于光学精密测量技术领域中的数字全息图重建距离的自动化数值判断方法，其目的在于提供一种基于重建像强度方差的数字全息图在焦重建距离判断方法。本发明利用重建像强度的方差与重建像强度的平均值的比值对重建像的清晰程度进行判断、分析，并找到清晰的重建强度像及其所对应的数字全息图准确重建距离，该方法可实现对于数字全息图重建距离的自动化数值判断，提高对重建距离的测量精度及测量效率。
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公开(公告)号：CN105717774A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201610244237.3
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 郑芳兰 , 郑垠波 , 杨一 , 陈竹 , 张霖 , 石振东 , 原泉 , 马骅 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 马可 , 任寰 , 李文洪 , 于德强 , 巴荣声 , 周信达 , 袁静 , 丁磊 , 陈波 , 杨晓瑜
CPC classification number: G03H1/0005 , G03H1/0443 , G03H2001/0038
Abstract: 本发明公开了一种彩色数字全息像的实时记录装置及方法，属于彩色数字全息像技术领域，解决现有技术中所使用的光路系统无法同时完成红光、绿光及蓝光数字全息图的记录；现有技术中彩色数字全息像的数值重建算法较为繁琐复杂，不利于彩色数字全息像的高效快速数值重建，不能满足对于动态彩色物体的实时全息记录与再现问题。本发明包括按光路依次放置的红、绿、蓝三色激光器Laser1～Laser3，分光棱镜BS1～BS8，反射镜M1～M8，可调衰减器Filter1～Filter6，直角三棱镜Prism1～Prism4，消色差显微物镜MO1～MO4，针孔PH1～PH4，消色差透镜L1～L4，计算机Computer，CCD相机和待测物体Object。本发明用于得到彩色数字全息像。
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公开(公告)号：CN104608075B
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201510070923.9
申请日：2015-02-11
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: B25B11/00
Abstract: 本发明公开了一种大尺寸钕玻璃片透射波面误差检测夹具，涉及专用夹具技术领域中的大尺寸钕玻璃片透射波面误差检测的夹持装置，其目的在于提供一种大尺寸钕玻璃片透射波面误差检测夹具，使其能够同时实现大尺寸钕玻璃片的安全夹持、摆放角度的调节方便快捷。包括底座，底座两侧连接有行走机构，底座顶面连接有底座转盘，底座转盘顶部连接有支撑架，支撑架可随底座转盘一起绕底座的轴线转动，支撑架顶面从左往右依次设置有工型左滑轨、底部凹形夹块和工型右滑轨，工型左滑轨上设置有可沿工型左滑轨长度方向移动的左支撑臂，左支撑臂上设置有左侧凹形夹块；工型右滑轨上设置有可沿工型右滑轨长度方向移动的右支撑臂，右支撑臂上设置有右侧凹形夹块。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN205643181U
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201521129979.9
申请日：2015-12-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 郑芳兰 , 刘勇 , 刘旭 , 李东 , 杨一 , 陈竹 , 任寰 , 张霖 , 周信达 , 郑垠波 , 原泉 , 石振东 , 巴荣声 , 李文洪 , 于德强 , 袁静 , 丁磊 , 马可 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 陈波 , 杨晓瑜
IPC: G01N21/88
Abstract: 本实用新型公开了一种反射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的反射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置。其技术方案为：包括第一激光器、第二激光器、第一分光棱镜、第一反射镜、第一显微物镜、针孔、第一透镜、第二反射镜、第二分光棱镜、第三反射镜、第二透镜、第三分光棱镜、第二显微物镜、衰减器、计算机、CCD相机、第三显微物镜和二维平移台。本实用新型适用于对高景深表面疵病且表面疵病横向尺寸较大的光学元件的表面疵病进行检测。
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公开(公告)号：CN205581024U
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201521129053.X
申请日：2015-12-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 郑芳兰 , 刘勇 , 刘旭 , 李东 , 杨一 , 陈竹 , 任寰 , 张霖 , 周信达 , 郑垠波 , 原泉 , 石振东 , 巴荣声 , 李文洪 , 于德强 , 袁静 , 丁磊 , 马可 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 陈波 , 杨晓瑜
Abstract: 本实用新型公开了一种透射型合成孔径数字全息术的光学元件表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的透射型合成孔径数字全息术的光学元件表面疵病检测装置。其技术方案为：包括第一激光器、第一显微物镜、针孔、第一透镜、第二反射镜、第二分光棱镜、第三反射镜、第三分光棱镜、第二显微物镜、衰减器、计算机、CCD相机、第三显微物镜和二维平移台。本实用新型适用于对表面疵病横向尺寸较大的光学元件的表面疵病进行检测。
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公开(公告)号：CN205538736U
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201521130020.7
申请日：2015-12-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 郑芳兰 , 刘勇 , 刘旭 , 李东 , 杨一 , 陈竹 , 任寰 , 张霖 , 周信达 , 郑垠波 , 原泉 , 石振东 , 巴荣声 , 李文洪 , 于德强 , 袁静 , 丁磊 , 马可 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 陈波 , 杨晓瑜
IPC: G01N21/95
Abstract: 本实用新型公开了一种透射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的透射双波长合成孔径全息术的光学元件表面疵病检测装置。其技术方案为：包括第一激光器、第二激光器、第一分光棱镜、第一反射镜、第一显微物镜、针孔、第一透镜、第二反射镜、第二分光棱镜、第三反射镜、第三分光棱镜、第二显微物镜、衰减器、计算机、CCD相机、第三显微物镜和二维平移台。本实用新型适用于对高景深表面疵病且表面疵病横向尺寸较大的光学元件的表面疵病进行检测。
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公开(公告)号：CN205538708U
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201521129970.8
申请日：2015-12-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 姜宏振 , 郑芳兰 , 刘勇 , 刘旭 , 李东 , 杨一 , 陈竹 , 任寰 , 张霖 , 周信达 , 郑垠波 , 原泉 , 石振东 , 巴荣声 , 李文洪 , 于德强 , 袁静 , 丁磊 , 马可 , 马玉荣 , 冯晓璇 , 陈波 , 杨晓瑜
IPC: G01N21/88
Abstract: 本实用新型公开了一种透射型双波长全息术的光学元件高景深表面疵病检测装置，属于光学检测技术领域中的光学元件表面疵病的检测装置，其目的在于提供一种可测量表面疵病深度跃变范围达λ波长量级的透射型双波长全息术的光学元件高景深表面疵病检测装置。其技术方案为：包括第一激光器、第二激光器、第一分光棱镜、第一反射镜、第一显微物镜、针孔、第一透镜、第二反射镜、第二分光棱镜、第三反射镜、第三分光棱镜、第二显微物镜、衰减器、计算机、CCD相机和第三显微物镜。本实用新型适用于对高景深表面疵病光学元件的表面疵病进行检测。
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公开(公告)号：CN205505996U
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201620035752.6
申请日：2016-01-15
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 张霖 , 马骅 , 姜宏振 , 任寰 , 陈波 , 杨一 , 马玉荣 , 石振东 , 原泉 , 冯晓璇 , 杨晓瑜 , 马可 , 李东 , 刘勇 , 巴荣声 , 周信达 , 郑垠波
IPC: G01B11/25
Abstract: 本实用新型公开了一种基于条纹投影的全景三维形貌测量装置，包括载物台、红光投影仪、绿光投影仪、蓝光投影仪、红光反射镜、绿光反射镜、蓝光反射镜、彩色CCD相机，红光投影仪产生的红光条纹、绿色投影仪产生的绿光条纹、蓝色投影仪产生的蓝光条纹经载物台上的待测物体表面反射后被红光反射镜、绿光反射镜、蓝光反射镜反射到同一彩色CCD相机。经计算机处理获取的彩色形变条纹图像可快速获取待测物体全景三维形貌。本装置具有结构简单、测量方便的优点，可用于三维传感、机械工程、机器视觉、智能计算机控制、工业监控等多种领域。
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