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公开(公告)号:CN116067998B
公开(公告)日:2025-05-09
申请号:CN202310159327.2
申请日:2023-02-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N23/207
Abstract: 本发明公开了一种双通道多支路门控晶体谱仪,包括盒体,所述盒体的前端设有上入射孔和下入射孔,后端设有衍射出口;分光板通过支架固定安装在盒体的前部,所述分光板上设有上排狭缝和下排狭缝;上晶体组件固定安装在盒体的上端,所述上晶体组件的数量与所述上排狭缝的狭缝数量相对应;下晶体组件固定安装在盒体的下端,所述下晶体组件的数量与所述下排狭缝的狭缝数量相对应。有益效果是:采用对称式双通道多支路分光谱仪组件前端,通过耦合阵列式多支路狭缝板,实现了空间分辨测量。在后端采用二维旋转调节座设计,便于与记录系统耦合,结合门控X射线分幅相机记录系统,可在单发次实验中同时实现多时刻点、多谱段、空间分辨的光谱测量。
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公开(公告)号:CN116908906A
公开(公告)日:2023-10-20
申请号:CN202310905947.6
申请日:2023-07-24
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor: 张玉雪 , 张志宇 , 张继彦 , 杨家敏 , 赵阳 , 青波 , 胡希瑶 , 孙奥 , 杨国洪 , 朱托 , 宋天明 , 黄成武 , 熊刚 , 吕敏 , 赵妍 , 李丽灵 , 张璐 , 李晋 , 韦敏习
Abstract: 本发明公开了一种X光时间分辨记录系统能谱响应标定方法,S1:利用脉冲激光轰击丝状靶端面,激光烧蚀产生X光光源;S2:以所述丝状靶轴线,在空间内轴对称布置不同类别的晶体谱仪,晶体谱仪至少包括静态晶体谱仪、条纹晶体谱仪和门控晶体谱仪,其中,所述静态晶体谱仪的记录介质响应特性已知或者已精确标定,所述条纹晶体谱仪和门控晶体谱仪为记录设备响应特性待标定的时间分辨晶体谱仪;S3:线下在同步辐射或实验室X光光源平台上对各个所述晶体谱仪使用的记录介质的能谱响应标定,获得标定曲线;S4,以各晶体谱仪测量光谱数据以及晶体、滤片、IP、胶片或CCD等组件的线下标定数据为已知量。
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公开(公告)号:CN116067998A
公开(公告)日:2023-05-05
申请号:CN202310159327.2
申请日:2023-02-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N23/207
Abstract: 本发明公开了一种双通道多支路门控晶体谱仪,包括盒体,所述盒体的前端设有上入射孔和下入射孔,后端设有衍射出口;分光板通过支架固定安装在盒体的前部,所述分光板上设有上排狭缝和下排狭缝;上晶体组件固定安装在盒体的上端,所述上晶体组件的数量与所述上排狭缝的狭缝数量相对应;下晶体组件固定安装在盒体的下端,所述下晶体组件的数量与所述下排狭缝的狭缝数量相对应。有益效果是:采用对称式双通道多支路分光谱仪组件前端,通过耦合阵列式多支路狭缝板,实现了空间分辨测量。在后端采用二维旋转调节座设计,便于与记录系统耦合,结合门控X射线分幅相机记录系统,可在单发次实验中同时实现多时刻点、多谱段、空间分辨的光谱测量。
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