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公开(公告)号：CN108132261B
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN201810114202.7
申请日：2018-02-05
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N23/00
Abstract: 平响应滤片安装装置及平响应X射线探测器，属于软X射线辐射流测量。平响应滤片安装装置包括安装座及安装盖。安装座包括轴向上的第一端部及第二端部。第一端部的外壁设有第一外螺纹。安装座沿轴向设有滤片安装腔，安装盖用于打开或封闭滤片安装腔。滤片安装腔的远离第二端部的一侧具有与外部连通的第一通孔，滤片安装腔的远离第一端部的一侧具有与外部连通的第二通孔。第一通孔的内径及第二通孔的内径均小于滤片安装腔的内径。平响应X射线探测器包括探测器主体及上述的平响应滤片安装装置，探测器主体设有与第一外螺纹配合的安装法兰。能够便捷安装平响应滤片、避免平响应滤片被损坏、减少实验准备时间。
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公开(公告)号：CN116908906A
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202310905947.6
申请日：2023-07-24
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 张玉雪 , 张志宇 , 张继彦 , 杨家敏 , 赵阳 , 青波 , 胡希瑶 , 孙奥 , 杨国洪 , 朱托 , 宋天明 , 黄成武 , 熊刚 , 吕敏 , 赵妍 , 李丽灵 , 张璐 , 李晋 , 韦敏习
Abstract: 本发明公开了一种X光时间分辨记录系统能谱响应标定方法，S1：利用脉冲激光轰击丝状靶端面，激光烧蚀产生X光光源；S2：以所述丝状靶轴线，在空间内轴对称布置不同类别的晶体谱仪，晶体谱仪至少包括静态晶体谱仪、条纹晶体谱仪和门控晶体谱仪，其中，所述静态晶体谱仪的记录介质响应特性已知或者已精确标定，所述条纹晶体谱仪和门控晶体谱仪为记录设备响应特性待标定的时间分辨晶体谱仪；S3：线下在同步辐射或实验室X光光源平台上对各个所述晶体谱仪使用的记录介质的能谱响应标定，获得标定曲线；S4，以各晶体谱仪测量光谱数据以及晶体、滤片、IP、胶片或CCD等组件的线下标定数据为已知量。
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公开(公告)号：CN107870346B
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN201711426316.7
申请日：2017-12-26
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 任宽 , 江少恩 , 曹柱荣 , 姚立 , 谢旭飞 , 余波 , 陈进文 , 王哲斌 , 王峰 , 胡智民 , 刘慎业 , 徐涛 , 赵阳 , 刘伟 , 杨志文 , 董建军 , 韦敏习 , 马波 , 黄天暄 , 张继彦 , 丁永坤
Abstract: 本发明公开了一种X射线强度准无损二维成像装置，所述的成像装置适用于50eV~80keV的X射线，包括同轴心设置的可调光阑、辅助瞄准装置、X射线成像器件、支撑与调节机构、屏蔽筒与多重X射线成像板。经辅助瞄准装置对靶进行瞄准后，靶发出50eV~80keV的X射线，经X射线成像器件成像到多重X射线成像板上，通过对多重X射线成像板上的多重像进行数据提取、转换与叠加处理，即可还原强度准无损图像。本发明的成像装置能够实现50eV~80keV的X射线强度准无损二维成像，将获得的X光像的信息量提升0%~85%，具有广阔且重要应用前景。
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公开(公告)号：CN109799612B
公开(公告)日：2020-03-31
申请号：CN201910199410.6
申请日：2019-03-15
Applicant: 重庆大学 , 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了曲面反射镜制造方法及变曲率半径点光源线聚焦成像系统。本发明借助曲面反射镜的反射曲面将点光源产生的发散光线进行垂直于光路方向的线聚焦，提供了一种更适合应用、结构简单的变曲率半径点光源线聚焦成像系统，其结构巧妙、易于现场布局仪器，可用于X射线的线聚焦检测，解决了现有技术中设计及布局检测仪器困难的问题，为核聚变实验的聚爆靶丸在线检测提供了新的仪器。
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公开(公告)号：CN108345027B
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN201810218554.7
申请日：2018-03-16
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01T1/36
Abstract: 本发明提供了一种能谱仪，涉及粒子能谱诊断技术领域。能谱仪应用于高能离子、电子和重离子的能谱测量，能谱仪包括准直组件、磁场产生组件、电场产生组件和照相组件；准直组件包括承托面板以及安装在承托面板上的准直板，准直板上开设有准直孔；磁场产生组件包括磁轭和安装在磁轭上的磁体；电场产生组件可相对准直组件滑动，电场产生组件包括相对设置的平行电极板和异形电极板，异形电极板包括相连的平行部和楔形部，平行部与平行电极板平行，楔形部相对平行部向远离平行电极板的方向倾斜预设角度；照相组件对应磁场产生组件和电场产生组件安装。该能谱仪能够同时进行电子与离子的能谱测量，也能够对重离子实现分离并进行能谱测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113030139B
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN202110598913.8
申请日：2021-05-31
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N23/20008 , G01N23/205
Abstract: 本发明提供了一种新型晶体及紧凑型成像装置，所述晶体包括晶体水平段和晶体倾斜段，所述晶体水平段和晶体倾斜段相连接，二者分别对两种不同波长的光衍射分光。所述成像装置包括晶体、光源S及记录设备；所述晶体包括水平段和倾斜段，所述水平段和倾斜段分别对光源S发射的两种不同波长的入射光进行衍射，其中不同波长的入射光经过晶体反射后成像在记录设备的不同位置；所述记录设备记录面与晶体水平段上表面所在方向垂直、且布置于靠近晶体倾斜段末端侧的位置。本发明通过对晶体尺寸进行特殊设计以改变入射光轨迹，缩短了不同波长反射X光入射到记录面的相对距离，减少记录设备尺寸、节省诊断成本，具有广阔且重要的应用前景。
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公开(公告)号：CN111323440A
公开(公告)日：2020-06-23
申请号：CN202010271639.9
申请日：2020-04-09
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N23/20016
Abstract: 本发明提供了一种X射线衍射诊断系统，所述的系统包括光源、瞄准节、腔体、光阑、变锥面晶体、记录设备和光窗；光源中心与光阑中心、变锥面晶体中心在一条直线上，变锥面晶体面与记录设备的记录面垂直，瞄准节轴心与光源中心在一条直线上。本发明可实现高效率、高精度的X射线衍射诊断，且该系统方便靶室诊断设计和排布。因此，本发明可以实现高效率的X射线衍射诊断，不受复杂应用场景限制，具有广阔且重要的应用前景。
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公开(公告)号：CN108089223A
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201810145378.9
申请日：2018-02-12
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01T3/08
Abstract: 本发明实施例提出一种中子探测装置及系统，涉及中子辐射探测技术领域。该中子探测系统包括中子探测装置、电子学装置、中子源装置，中子探测装置包括输出头、连接件、探测件及外壳。中子探测装置安装于中子源装置中，输出头安装于外壳上，并与电子学装置连接；连接件和探测件安装于外壳内，且连接件分别与输出头和探测件连接；探测件用于采集中子源装置产生的电信号；连接件用于将电信号传输至输出头，以传输至电子学装置进行分析处理，以得到中子数据。本发明的中子探测装置及系统具有阻抗匹配更好的优点。
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公开(公告)号：CN107843605A
公开(公告)日：2018-03-27
申请号：CN201711278830.0
申请日：2017-12-06
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N23/00
CPC classification number: G01N23/00
Abstract: 本发明提供一种转换效率探测设备及方法。所述设备包括同步辐射出光装置、图像传感器及处理单元。同步辐射出光装置包括同步辐射光源及标准探测器。同步辐射光源用于提供X光。在X光的传输光路上依次设置有用于将X光转换为可见光的闪烁体及用于记录从闪烁体出射的可见光光子数的图像传感器，其中，标准探测器活动设置在同步辐射光源与闪烁体之间，以使标准探测器在位于X光的传输光路上时测量X光的光强。处理单元与标准探测器及图像传感器电性连接，用于根据光强及可见光光子数处理得到闪烁体的转换效率。通过所述设备可获得闪烁体将X光转换为可见光的转换效率，以便在利用闪烁体进行X光探测时，通过可见光的可见光光子数得到X光强度。
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公开(公告)号：CN105204059A
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：CN201510574047.3
申请日：2015-09-11
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明提供了一种局部区域软X射线辐射流定量测量装置与测量方法，其特征在于，包括针孔、X射线成像板、平响应X射线探测器、示波器，所述针孔位于最前端，所述X射线成像板位于针孔与平响应X射线探测器之间，所述X射线成像板上有孔，孔的面积不大于平响应X射线探测器阴极，所述平响应X射线探测器阴极对准X射线成像板上的孔，所述示波器通过电缆与平响应X射线探测器连接。从而避免缩孔影响，实现不同区域X射线辐射流的测量。
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