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公开(公告)号：CN105676098B
公开(公告)日：2018-05-15
申请号：CN201610022274.X
申请日：2016-01-13
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种CCD响应非均匀性和线性性的检测装置及检测方法，属于光学成像及数字图像处理分析技术领域中的响应非均匀性和线性性的检测装置、检测方法。其检测装置包括测试光源、衰减片、取样镜、光契对、长焦汇聚透镜、待测CCD、二维平移台、能量计、计算机、控制器和暗箱，测试光源产生的入射激光依次经衰减片、取样镜后产生反射激光和透射激光，反射激光直接入射至能量计，透射激光依次经光契对、长焦汇聚透镜后入射至待测CCD，待测CCD安装于二维平移台上，二维平移台与控制器电连接，待测CCD、能量计和控制器均与计算机电连接。本发明适用于CCD响应非均匀性和线性性的检测装置及检测方法。
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公开(公告)号：CN105842248A
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201610169105.9
申请日：2016-03-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G01N21/8806
Abstract: 本发明公开了一种光学元件表面损伤阈值测试系统及其测试方法，涉及光学检测领域，包括按光路依次放置的激光器、液晶光阀、光束分束器、透镜一、测试样品、吸收陷阱、直视CCD、反射镜、能量卡计、透镜二和监视CCD，本发明的损伤阈值测试方法为通过建立液晶光阀与光斑近场的映射关系获得传递函数，将光斑中损伤点的坐标带入传递函数确定液晶光阀遮挡区域，当遮挡区域覆盖损伤点后计算局部通量，提高损伤阈值的计算精度。
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公开(公告)号：CN105842248B
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN201610169105.9
申请日：2016-03-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种光学元件表面损伤阈值测试系统及其测试方法，涉及光学检测领域，包括按光路依次放置的激光器、液晶光阀、光束分束器、透镜一、测试样品、吸收陷阱、直视CCD、反射镜、能量卡计、透镜二和监视CCD，本发明的损伤阈值测试方法为通过建立液晶光阀与光斑近场的映射关系获得传递函数，将光斑中损伤点的坐标带入传递函数确定液晶光阀遮挡区域，当遮挡区域覆盖损伤点后计算局部通量，提高损伤阈值的计算精度。
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公开(公告)号：CN117329982A
公开(公告)日：2024-01-02
申请号：CN202311255805.6
申请日：2023-09-27
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明利用激光散斑干涉技术与激光剪切散斑干涉技术的特点，通过光路复用实现形变与应变的同步测量，系统结构简单、操作方便，实现了同一目标区域的形变与应变同步原位测量；将Sym4小波函数作为基函数，结合正余弦变换，用于包裹相位图的噪声滤波，不需要进行迭代计算、设定掩膜形状及尺寸等，保留相位跃变信息的同时提高了滤波效率。在小波分解中，根据实际测量结果计算得到散斑抑制指数，从而确定了Sym4小波函数的最佳小波分解层数；根据散斑图中的噪声水平与小波分解层数确定噪声阈值，计算获得滤波处理后的小波系数，有助于提高噪声滤波效果，扩大该滤波方法的适用范围。
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公开(公告)号：CN109540926A
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201910085710.1
申请日：2019-01-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/958
Abstract: 本发明公开了一种(D)KDP晶体体损伤性能高精度测量装置及测量方法，涉及(D)KDP晶体体损伤测量技术领域，本发明先通过层析的方法获得高功率纳秒激光脉冲作用后晶体体损伤点基础数据，解决损伤点重复统计、背景光消除、二值化等问题并采用图像矩算法求出每个散射点的质心后，再通过重构算法获得体损伤点三维分布，进而可以高精度获得晶体体损伤密度ppd、体损伤点几何尺寸分布pps和晶体体损伤点三维分布等3个体损伤表征参数，本发明具有测量精度高、晶体体损伤表征更加全面的优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105676098A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201610022274.X
申请日：2016-01-13
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2641 , G01R31/2601
Abstract: 本发明公开了一种CCD响应非均匀性和线性性的检测装置及检测方法，属于光学成像及数字图像处理分析技术领域中的响应非均匀性和线性性的检测装置、检测方法。其检测装置包括测试光源、衰减片、取样镜、光契对、长焦汇聚透镜、待测CCD、二维平移台、能量计、计算机、控制器和暗箱，测试光源产生的入射激光依次经衰减片、取样镜后产生反射激光和透射激光，反射激光直接入射至能量计，透射激光依次经光契对、长焦汇聚透镜后入射至待测CCD，待测CCD安装于二维平移台上，二维平移台与控制器电连接，待测CCD、能量计和控制器均与计算机电连接。本发明适用于CCD响应非均匀性和线性性的检测装置及检测方法。
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公开(公告)号：CN116256367A
公开(公告)日：2023-06-13
申请号：CN202310161735.1
申请日：2023-02-24
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种光学元件表面损伤密度高精度局域映射测量系统及方法，涉及光学元件的表面损伤密度高精度测量，其目的在于解决现有技术中拼接后光斑非均匀性分布影响测试精度的问题。本申请通过建立激光靶面辐照光斑与光学元件之间的坐标映射变换关系，实现光学元件损伤点与激光靶面局域光斑的空间映射；再计算并记录每个局部区域的局部通量、损伤点数目以及局部区域内包含的像素点数目，并计算每个通量区间的损伤密度，创新性地以本申请中的“光学元件损伤点局域通量”替代现有技术中的“整个光斑的平均通量”，实现光学元件损伤点与激光靶面局域光斑的空间映射，有效缓解光斑非均匀分布对表面损伤密度测量精度的影响。
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公开(公告)号：CN109540926B
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN201910085710.1
申请日：2019-01-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/958
Abstract: 本发明公开了一种KDP或DKDP晶体体损伤性能高精度测量装置及测量方法，涉及KDP或DKDP晶体体损伤测量技术领域，本发明先通过层析的方法获得高功率纳秒激光脉冲作用后晶体体损伤点基础数据，解决损伤点重复统计、背景光消除、二值化等问题并采用图像矩算法求出每个散射点的质心后，再通过重构算法获得体损伤点三维分布，进而可以高精度获得晶体体损伤密度ppd、体损伤点几何尺寸分布pps和晶体体损伤点三维分布等3个体损伤表征参数，本发明具有测量精度高、晶体体损伤表征更加全面的优点。
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公开(公告)号：CN108303239B
公开(公告)日：2020-10-23
申请号：CN201810052233.4
申请日：2018-01-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 巴荣声 , 李杰 , 丁磊 , 周信达 , 郑垠波 , 徐宏磊 , 陈波 , 李文洪 , 姜宏振 , 刘勇 , 李东 , 刘旭 , 张霖 , 杨一 , 郑芳兰 , 于德强 , 马可 , 石振东 , 马骅 , 任寰 , 张保汉 , 景峰
Abstract: 本发明公开了一种激光光学元件使用寿命加速测试和预计方法，旨在解决现有技术中无法获取大口径光学元件在任意通量照射下使用寿命的问题；本发明包括：以发次或时间为自变量，以对应的寿命概率为因变量拟合获得大口径光学元件特定激光参数下的寿命概率函数；改变设定参数的照射激光的辐照通量获得不同辐照通量下的大口径光学元件寿命概率曲线，对函数进行数据拟合获得特定寿命概率下的寿命通量函数；本发明可以对激光光学元件使用寿命进行加速测试，缩短测试时间，应用本发明测试结果可以获得特定通量下的大口径光学元件使用寿命，应用经典可靠性理论对激光系统中的激光大口径光学元件进行可靠性分析与预计；本发明适用于大口径光学器件寿命测试领域。
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公开(公告)号：CN108007381B
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201711206265.7
申请日：2017-11-27
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/24
Abstract: 一种光学元件激光诱导损伤三维形貌在线测量装置及检测方法。该装置包括：光源系统，沿光源的光束传播方向依次放置样品台、显微放大系统、分光系统和探测器系统。本发明具有装置简单、成本低、操作方便等优点，可在线测量光学元件损伤点的三维形貌以及测量损伤增长的动态过程。
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