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公开(公告)号：CN104483098B
公开(公告)日：2017-07-18
申请号：CN201410672266.0
申请日：2014-11-20
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明公开了一种晶体匹配角离线测量误差实时修正方法，应用激光自准直仪监测晶体匹配角测量过程中入射激光漂移角度，若激光漂移角度大于预设阈值0.4″则舍去该角漂过大的测量数据，应用自准直仪监测晶体测量过程中待测晶体发生的旋转角度偏差，将其中保留的旋转角度偏差代入进匹配角计算中。其显著效果是：通过自准直仪对测量过程中光路基准偏移和光学角漂进行实时修正，并在晶体匹配角测量过程中的对动态误差进行了修正，改变了过去只针对基准的静态误差修正情况，保证了晶体匹配角测量的精确性，可以最大程度消除大口径晶体离线测量系统中的动态测量误差。
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公开(公告)号：CN104501742A
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN201410672006.3
申请日：2014-11-20
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种基于单色光自准直仪二次准直原理的劈角测量方法，首先利用单色光自准直仪对待测劈板前表面进行自准直，测得此时待测劈板后表面反射像与前表面反射像夹角；然后利用单色光自准直仪对待测劈板后表面进行自准直，测得此时待测劈板后表面反射像与前表面反射像夹角；最后基于反射、折射定律，得出劈板劈角计算公式并将两次测量结果联立二元一次方程组，解出劈板劈角。其显著效果是：本发明基于光学自准直、折射、反射定律的基本光学原理，测量精度高，成本低，操作简单，具有很高的通用性与实用性；通过本方法不仅能准确测出待测劈板劈角，还能测出待测劈板材料对于自准直仪光源的折射率。
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公开(公告)号：CN107037558B
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN201710367052.6
申请日：2017-05-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G02B7/00
Abstract: 本发明公开了一种大径厚比光学元件的支撑系统和方法，该方法采用四个支撑点替代了常规的巨大环形支撑面对光学元件进行支撑，有效的利用了光学元件自身的重力来降低重力对光学元件面型的影响，在理论上实现了完全的自相互补偿。所提出的方法大大的降低的对于光学元件支撑表面的加工精度要求，减少了制造成本，提高了光学元件支撑系统工程实施过程的效率。支撑系统采用弧形面与平面之间的点接触对作为光学元件支撑模块的传递环节，能够自适应的将顶壳的上支撑表面调整到与光学元件下表面完全接触的状态，能够有效的减少支撑过程中对光学元件产生的局部应力集中，提高光学元件的面型精度。
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公开(公告)号：CN113998243A
公开(公告)日：2022-02-01
申请号：CN202111360265.9
申请日：2021-11-17
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种光学元件拆箱装置，平移翻转机构包括翻转座、驱动翻转座翻转的第一驱动组件，以及布置在翻转座上的传送带组件，翻转座上安装有两组定位组件，两组定位组件用于固定包装盒；位于平移翻转机构一侧的螺栓自动拆卸机械手，用于自动拆卸包装盒上的螺纹连接件；以及悬置在平移翻转机构上方的取件机构，取件机构包括升降器和抓取组件，其中，抓取组件包括基准板、两组滑动安装在基准板下侧的机械爪以及驱动两组机械爪互相靠拢或远离的第二驱动组件，升降器通过牵引绳控制抓取组件上下移动。本发明的有益效果是：能够无接触的实现包装盒盒盖拆卸和光学元件取件操作，保证了光学元件的洁净度要求。
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公开(公告)号：CN108871737A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201810814027.2
申请日：2018-07-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01M11/04
Abstract: 本发明公开了一种多功能光学元件装校平台，包括基架以及设置在该基架上的工作台，工作台上设置有水平装校模块和竖直装校模块，水平装校模块包括四个T形支架，T形支架竖直设置，其上端具有台阶洁净块，其中处于水平装校模块同一长度方向的两个台阶洁净块的台阶正对设置；竖直装校模块包括两个正对设置的竖直支架，竖直支架具有上下敞口的凹槽，凹槽的底壁上设有侧面洁净块，凹槽的两侧侧壁上下两端均正对设置有竖直锁紧螺钉，竖直锁紧螺钉水平伸入凹槽内，其前端具有洁净胶头。可完成多种规格光学元件的移动、装卡及调校功能，提高了装卡安全性，保持装校环境洁净，有利于提高装校精度，整体构思巧妙，结构易行、实施安装操作方便。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108572061A
公开(公告)日：2018-09-25
申请号：CN201810813087.2
申请日：2018-07-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种全口径谐波转换效率测量系统及其测量方法，其中测量系统包括1053nm激光器以及沿其出射激光架设的测量光路，设置在测量光路上的倍频晶体运动控制装置，以及用于晶体准直的晶体自准直仪和光路准直的激光自准直仪、至少四个用于测量激光能量的卡计，测量方法主要采用测量系统并按如下步骤进行，激光光路准直、激光传输系数标定、待测晶体准直、待测二倍频晶体最佳匹配位置测量、待测三倍频晶体最大转换效率测量、平移测量和全口径三倍频最大转换效率测量七步。采用以上方案，实现对倍频转换效率的快速离线测量，且测量系统光路紧凑，空间占用小，成本较低，其测量精度高，操作方便可行，省时高效。
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公开(公告)号：CN102500579A
公开(公告)日：2012-06-20
申请号：CN201210000954.3
申请日：2012-01-05
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: B08B7/00
Abstract: 本发明涉及一种建筑石材或石质文物的激光清洗方法。本发明的激光清洗方法，在进行激光清洗前，先利用激光辐照与待清洗物材质相同的表面无污染的石质材料表面，得到了基底的损伤阈值，再使用低于此损伤阈值的激光清洗建筑石材或石质文物，避免清洗过程中有损伤发生的问题。使用氙灯泵浦的固体激光器或者激光二极管泵浦的固体激光器进行清洗，可解决当基底与表面污染物对激光的吸收系数差别不大时的清洗问题以及清洗效率低的问题。
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公开(公告)号：CN113998243B
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：CN202111360265.9
申请日：2021-11-17
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种光学元件拆箱装置，平移翻转机构包括翻转座、驱动翻转座翻转的第一驱动组件，以及布置在翻转座上的传送带组件，翻转座上安装有两组定位组件，两组定位组件用于固定包装盒；位于平移翻转机构一侧的螺栓自动拆卸机械手，用于自动拆卸包装盒上的螺纹连接件；以及悬置在平移翻转机构上方的取件机构，取件机构包括升降器和抓取组件，其中，抓取组件包括基准板、两组滑动安装在基准板下侧的机械爪以及驱动两组机械爪互相靠拢或远离的第二驱动组件，升降器通过牵引绳控制抓取组件上下移动。本发明的有益效果是：能够无接触的实现包装盒盒盖拆卸和光学元件取件操作，保证了光学元件的洁净度要求。
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公开(公告)号：CN104483098A
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201410672266.0
申请日：2014-11-20
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明公开了一种晶体匹配角离线测量误差实时修正方法，应用激光自准直仪监测晶体匹配角测量过程中入射激光漂移角度，若激光漂移角度大于预设阈值0.4″则舍去该角漂过大的测量数据，应用自准直仪监测晶体测量过程中待测晶体发生的旋转角度偏差，将其中保留的旋转角度偏差代入进匹配角计算中。其显著效果是：通过自准直仪对测量过程中光路基准偏移和光学角漂进行实时修正，并在晶体匹配角测量过程中的对动态误差进行了修正，改变了过去只针对基准的静态误差修正情况，保证了晶体匹配角测量的精确性，可以最大程度消除大口径晶体离线测量系统中的动态测量误差。
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公开(公告)号：CN102507596A
公开(公告)日：2012-06-20
申请号：CN201110365740.1
申请日：2011-11-18
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种基于激光束主动扫描的光学元件表面疵病检测系统。在该检测系统中，被监测的光学元件与激光器、导向镜、光电探头之间不做相对运动，仅依靠导向镜的二维转动实现对光学元件表面的逐点主动扫描，并在扫描过程中实时改变光束的焦点位置使其始终落在光学元件表面上。该系统能够满足高功率固体激光装置中强光辐照环境、高真空环境以及狭窄空间中的光学元件在线监测，本发明的系统结构简单，使用灵活，应用范围广泛。
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