用于中子注量率测量的对数放大电路温度补偿方法及装置

    公开(公告)号:CN117238544A

    公开(公告)日:2023-12-15

    申请号:CN202311213873.6

    申请日:2023-09-19

    Abstract: 本发明公开了用于中子注量率测量的对数放大电路温度补偿方法及装置,涉及中子注量率测量领域,其技术方案要点是:拟合得到电压信号与温度信号之间的补偿函数;将补偿函数置入中子注量率系统中的运算处理模块;通过对数放大模块对输入信号进行放大处理,放大后的实际电压信号传输至运算处理模块;通过温度测量电路测量对数放大模块中元器件所处环境的实际温度信号,并将实际温度信号传输至运算处理模块;通过运算处理模块调用补偿函数和实际温度信号对实际电压信号进行补偿处理,得到补偿电压信号;通过运算处理模块对补偿电压信号进行处理计算,得到中子注量率和变化周期。本发明可有效抑制温度漂移的效果,结构简单。

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