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公开(公告)号：CN111579886B
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN202010425422.9
申请日：2020-05-19
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明公开了一种球面近场天线测量系统的校正方法，属于天线测量技术领域，天线测量系统包括主控模块、运动控制器、接收机、俯仰扫描架、探头阵、方位转台、多通道开关、校正天线，探头阵校正时，由校正天线发射信号，经过空间传播，到达探头阵，由探头阵中的探头天线逐一采集校正数据，在初始位置0，采集校正数据为E；由俯仰扫描架向上扫描到位置1，再次采集校正数据为D；由俯仰扫描架向下扫描到位置2，再次采集校正数据为F，通过三组校正数据计算得到一组校正系数，将该系数加载到近场测量软件，然后在测试过程中自动修正测量数据。本发明校正精度高，校正成本低，校正速度快，为球面近场多探头校正问题提供了一种全新的高效能解决方案。
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公开(公告)号：CN111579886A
公开(公告)日：2020-08-25
申请号：CN202010425422.9
申请日：2020-05-19
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明公开了一种球面近场天线测量系统及校正方法，属于天线测量技术领域，包括主控模块、运动控制器、接收机、俯仰扫描架、探头阵、方位转台、多通道开关、校正天线，探头阵校正时，由校正天线发射信号，经过空间传播，到达探头阵，由探头阵中的探头天线逐一采集校正数据，在初始位置0，采集校正数据为E；由俯仰扫描架向上扫描到位置1，再次采集校正数据为D；由俯仰扫描架向下扫描到位置2，再次采集校正数据为F，通过三组校正数据计算得到一组校正系数，将该系数加载到近场测量软件，然后在测试过程中自动修正测量数据。本发明校正精度高，校正成本低，校正速度快，为球面近场多探头校正问题提供了一种全新的高效能解决方案。
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公开(公告)号：CN114859141B
公开(公告)日：2025-01-21
申请号：CN202210520370.2
申请日：2022-05-13
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明公开了一种球面近场测试系统及测试方法，属于天线测试技术领域，所述系统包括探头阵列、方位转台、接收机和控制分机，被测天线固定在方位转台上，接收机用以为被测天线提供信号，控制分机用以控制方位转台移动；探头阵列呈螺旋式结构，其包括多个微波探头，相邻所述微波探头在俯仰方向按照第一角度间隔Δθ排列、在方位方向按照第二角度间隔#imgabs0#排列，#imgabs1##imgabs2#为固定角度间隔，Np为所述探头阵列中微波探头的数量。本发明通过设计螺旋式结构，在测试过程中，可保证每个探测的方位角完全一致，既保证了测试速度，又保证了测试定位精度。
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公开(公告)号：CN114859141A
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202210520370.2
申请日：2022-05-13
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明公开了一种球面近场测试系统及测试方法，属于天线测试技术领域，所述系统包括探头阵列、方位转台、接收机和控制分机，被测天线固定在方位转台上，接收机用以为被测天线提供信号，控制分机用以控制方位转台移动；探头阵列呈螺旋式结构，其包括多个微波探头，相邻所述微波探头在俯仰方向按照第一角度间隔Δθ排列、在方位方向按照第二角度间隔排列，为固定角度间隔，Np为所述探头阵列中微波探头的数量。本发明通过设计螺旋式结构，在测试过程中，可保证每个探测的方位角完全一致，既保证了测试速度，又保证了测试定位精度。
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公开(公告)号：CN114280382A
公开(公告)日：2022-04-05
申请号：CN202111617200.8
申请日：2021-12-27
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 一种自动校正球面近场天线测试系统及其测试方法，属于天线测试技术领域，解决现有的天线测试系统和测试方法存在的测试效率低下、消耗大量人力资源、无法实现大批量产品测试的问题；本发明的技术方案将天线近场测试系统、通用测试台、自动控制分机结合起来，自动控制分机作为控制中心，分别控制近场测试系统完成测试、控制通用测试台完成校正；自动校正测试系统完成待测天线的性能测试、同时完成对部分通道参数的校正，保证每套测试完成的天线是符合性能指标要求的合格产品；只需设置合格判断标准，系统自动完成该校正与测试过程，无需人工介入流程，大幅度提升了天线测试的自动化水平，满足大批量天线的测试需求。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114280382B
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202111617200.8
申请日：2021-12-27
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 一种自动校正球面近场天线测试系统及其测试方法，属于天线测试技术领域，解决现有的天线测试系统和测试方法存在的测试效率低下、消耗大量人力资源、无法实现大批量产品测试的问题；本发明的技术方案将天线近场测试系统、通用测试台、自动控制分机结合起来，自动控制分机作为控制中心，分别控制近场测试系统完成测试、控制通用测试台完成校正；自动校正测试系统完成待测天线的性能测试、同时完成对部分通道参数的校正，保证每套测试完成的天线是符合性能指标要求的合格产品；只需设置合格判断标准，系统自动完成该校正与测试过程，无需人工介入流程，大幅度提升了天线测试的自动化水平，满足大批量天线的测试需求。
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公开(公告)号：CN112505434A
公开(公告)日：2021-03-16
申请号：CN202011334764.6
申请日：2020-11-24
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 一种无源阵列天线波束扫描特性的测试方法，涉及雷达和天线测试技术领域，解决如何实现电大尺寸无源阵列天线波束扫描特性的快速、高效测试的问题；测试方法基于平面近场测试系统，将数字阵列雷达波束合成技术应用到无源阵列天线测试中，利用多通道开关和矢量网络分析仪替代数字阵列雷达的有源通道和数字接收机，利用平面近场扫描架、多通道开关、矢量网络分析仪协同控制一个探头，配以时序控制和采集，通过一次平面近场扫描获得各个天线单元近场幅度和相位数据，再通过数字波束合成方法计算扫描波束近场数据，通过近‑远场变换得到无源阵列天线波束扫描特性；一次平面近场扫描，可获得无源阵列天线不同工作频率下任一波束扫描特性，测试效率成倍提高。
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公开(公告)号：CN107991541B
公开(公告)日：2020-04-21
申请号：CN201711208600.7
申请日：2017-11-27
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明公开了一种近场天线测试控制装置及其测试方法，包括主控计算机、矢量网络分析仪、测试控制模块、波控模块、平面扫描架及控制系统、射频开关模块；本发明准确获取了由频率切换、波位切换、通道切换、数据采集及传输、存储的时间，依此计算位置误差，补偿到扫描路径中去，从而保证了扫描架双向扫描时每个测试位置点测试数据的准确性和有效性，并通过速度优化提高了测试效率。该发明可应用于雷达、通信等诸多领域的相控阵天线测试。
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公开(公告)号：CN107991541A
公开(公告)日：2018-05-04
申请号：CN201711208600.7
申请日：2017-11-27
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明公开了一种近场天线测试控制装置及其测试方法，包括主控计算机、矢量网络分析仪、测试控制模块、波控模块、平面扫描架及控制系统、射频开关模块；本发明准确获取了由频率切换、波位切换、通道切换、数据采集及传输、存储的时间，依此计算位置误差，补偿到扫描路径中去，从而保证了扫描架双向扫描时每个测试位置点测试数据的准确性和有效性，并通过速度优化提高了测试效率。该发明可应用于雷达、通信等诸多领域的相控阵天线测试。
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公开(公告)号：CN112505434B
公开(公告)日：2022-08-12
申请号：CN202011334764.6
申请日：2020-11-24
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 一种无源阵列天线波束扫描特性的测试方法，涉及雷达和天线测试技术领域，解决如何实现电大尺寸无源阵列天线波束扫描特性的快速、高效测试的问题；测试方法基于平面近场测试系统，将数字阵列雷达波束合成技术应用到无源阵列天线测试中，利用多通道开关和矢量网络分析仪替代数字阵列雷达的有源通道和数字接收机，利用平面近场扫描架、多通道开关、矢量网络分析仪协同控制一个探头，配以时序控制和采集，通过一次平面近场扫描获得各个天线单元近场幅度和相位数据，再通过数字波束合成方法计算扫描波束近场数据，通过近‑远场变换得到无源阵列天线波束扫描特性；一次平面近场扫描，可获得无源阵列天线不同工作频率下任一波束扫描特性，测试效率成倍提高。
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