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公开(公告)号：CN107783086A
公开(公告)日：2018-03-09
申请号：CN201710966768.8
申请日：2017-10-17
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
CPC classification number: G01S7/4004 , G01S7/021
Abstract: 本发明提供一种用于诊断天线阵口径幅相场的畸变位置的方法，首先是对近场数据进行近场-平面波谱变换得到k空间的平面波谱分量，然后在k空间平面波谱实施探头和单元的方向图校正，最后进行平面波谱-口径场逆变换获得口径场分布。最后，为了获得更为准确数据，需要进行口径场的重构，获取口面上实际物理位置的幅相分布，从而判断出口径场或激励电流发生畸变的位置以及所对应的辐射单元，达到对天线进行“诊断”的目的。本发明可以准确定位天线失效单元位置，及时排查故障，节约大量测试时间，并且通过反演补偿的方式提高方向图质量。另外，本发明利用快速傅立叶变换(FFT)作高效计算，因而具有较强的工程实用性。
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公开(公告)号：CN107783086B
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN201710966768.8
申请日：2017-10-17
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明提供一种用于诊断天线阵口径幅相场的畸变位置的方法，首先是对近场数据进行近场‑平面波谱变换得到k空间的平面波谱分量，然后在k空间平面波谱实施探头和单元的方向图校正，最后进行平面波谱‑口径场逆变换获得口径场分布。最后，为了获得更为准确数据，需要进行口径场的重构，获取口面上实际物理位置的幅相分布，从而判断出口径场或激励电流发生畸变的位置以及所对应的辐射单元，达到对天线进行“诊断”的目的。本发明可以准确定位天线失效单元位置，及时排查故障，节约大量测试时间，并且通过反演补偿的方式提高方向图质量。另外，本发明利用快速傅立叶变换(FFT)作高效计算，因而具有较强的工程实用性。
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公开(公告)号：CN104297737A
公开(公告)日：2015-01-21
申请号：CN201410576882.6
申请日：2014-10-24
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
Abstract: 本发明涉及一种数字阵列雷达天线的近场测试设备，包括近场测试系统，还包括DBF天线近场测试控制器，近场测试系统与DBF天线近场测试控制器之间双向通讯，DBF天线近场测试控制器与数字阵列雷达系统之间双向通讯，近场测试系统通过DBF天线近场测试控制器对数字阵列雷达系统进行DBF天线测试。本发明还公开了一种数字阵列雷达天线的近场测试设备的测试方法。本发明实现了近场测试系统对数字阵列雷达系统整机性能的直接测试，本发明可直接与数字阵列雷达系统进行对接，通过DBF天线近场测试控制器对数字阵列雷达系统时序的同步与控制，实现了近场测试系统与数字阵列雷达系统的协同工作，并且确保了数字阵列雷达系统的完整性。
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