公开(公告)号：CN103793583B

公开(公告)日：2017-02-08

申请号：CN201410078309.2

申请日：2014-03-05

Applicant: 中国电子科技集团公司第五十八研究所

Inventor： 秦晨飞 ,  魏敬和 ,  刘士全 ,  徐睿 ,  蔡洁明 ,  顾展宏

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明涉及抗辐照加固技术领域，尤其是一种设备抗辐照加固再设计方法。包括以下步骤：步骤一，对设备进行真实辐照环境下的辐照试验，并判定寄存器各节点是否发生单粒子翻转；步骤二，对设备进行故障仿真，判定只要单粒子发生翻转必定会导致锁存错误的节点；步骤三，对步骤二中所判定的节点确定其临界翻转电流值；步骤四，对步骤二所判定的节点进行选择，选出在真实环境辐照测试中没有发生翻转的节点；步骤五，将步骤四中选择出的节点按其临界翻转电流值进行排序；步骤六，将排序中最小的临界翻转电流值作为设备抗辐照的加固目标。本发明用于设备抗辐照加固技术，大大简化了再设计的难度，节约了设计成本，加快了设计进度。

公开(公告)号：CN103793583A

公开(公告)日：2014-05-14

申请号：CN201410078309.2

申请日：2014-03-05

Applicant: 中国电子科技集团公司第五十八研究所

Inventor： 秦晨飞 ,  魏敬和 ,  刘士全 ,  徐睿 ,  蔡洁明 ,  顾展宏

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明涉及抗辐照加固技术领域，尤其是一种设备抗辐照加固再设计方法。包括以下步骤：步骤一，对设备进行真实辐照环境下的辐照试验，并判定寄存器各节点是否发生单粒子翻转；步骤二，对设备进行故障仿真，判定只要单粒子发生翻转必定会导致锁存错误的节点；步骤三，对步骤二中所判定的节点确定其临界翻转电流值；步骤四，对步骤二所判定的节点进行选择，选出在真实环境辐照测试中没有发生翻转的节点；步骤五，将步骤四中选择出的节点按其临界翻转电流值进行排序；步骤六，将排序中最小的临界翻转电流值作为设备抗辐照的加固目标。本发明用于设备抗辐照加固技术，大大简化了再设计的难度，节约了设计成本，加快了设计进度。